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本发明公开了一种电子芯片的测试系统、方法及装置。其中，该系统包括：可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；...该专利属于硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司授权不得商用。