本发明专利技术公开了一种测试I2C的EEPROM的方法，包括：步骤S2加载测试数据；S3将测试数据写入EEPROM；S4读取EEPROM的数据；S5对比测试数据与读取的数据是否相同；S6当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7当比对的结果不同时，测试结果未通过。本发明专利技术提供了一种I2C EEPROM的测试方法及装置，实现了一个或多个I2C EEPROM的快速测试，方便了测试和维护人员快速测试应用在相关电子设备上的EEPROM，具备节省时间、提高效率、准确方便等优点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及EEPROM测试领域，特别是I2C EEPROM的测试方法。
技术介绍
I2C总线是PHILIPS公司为有效实现电子器件之间的控制而开发的一种简单的双向两线总线，它是一种两线式高速的，全双工，同步的通信串行总线，用于连接微控制器及其外围设备。在标准的I2C总线协议中，其物理链路分别是一条串行数据线(SDA)和一条串行时钟线(SCL)。由于其简单、灵活、硬件管脚资源少等优点，在器件与器件之间的通信中有着广泛的应用。现在，I2C总线已经成为一个国际标准，在超过100种不同的IC集成电路上实现，应用涉及家电、通信、控制等众多领域，特别是在ARM嵌入式系统开发中得到广泛应用。EEPROM全称为电可擦除可编程只读存储器，属于一种存储器的统称，这种存储器的特点是存储数据可直接用电信号擦除，也可用电信号写入存储数据。由于EEPROM的可靠性高，结构和工艺复杂，成本高，常用EEPROM的容量通常较小。在以太网交换机等常用的电子设备中，需要用到EEPR0M，常用的EEPROM采用I2C数据传输协议，容量通常为lkbit、2kbit、4kbit、8kbit或16kbit，EEPROM存储的数据信息为嵌入式系统基本数据信息。目前，缺乏针对常用I2C EEPROM的快速有效的测试方法，一旦整个设备或系统中的某个EEPROM损坏，则系统可能工作不稳定或无法正常工作，而设备维护人员需要花费大量时间排查设备故障原因。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供的技术方案如下:一种测试I2C的EEPROM的方法，包括:步骤S2加载测试数据；S3将测试数据写入EEPROM ;S4读取EEPROM的数据；S5对比测试数据与读取的数据是否相同；S6当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7当比对的结果不同时，测试结果未通过。本专利技术还提供另一种测试I2C的EEPROM的方法，包括:步骤S2加载测试数据；S3将测试数据写入EEPROM ;S4读取EEPROM的数据；S5对比测试数据与读取的数据是否相同；S6当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7当比对的结果不同时，测试结果未通过；S8根据是否完成整批测试，返回步骤S3。本专利技术还提供另一种测试I2C的EEPROM的方法，包括:步骤S2加载测试数据；S25在整批的多个待测EEPROM中选择一个待测EEPROM的地址；S3将测试数据写入EEPROM ；S4读取EEPROM的数据；S5对比测试数据与读取的数据是否相同；S6当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7当比对的结果不同时，测试结果未通过；S8根据是否完成整批测试，返回步骤S3。本专利技术还提供另一种测试I2C的EEPROM的方法，包括:步骤SI根据EEPROM的封装类型，连接待测试的EEPROM ;所述EEPROM封装类型为MS0P_8、PDIP-8、S0IC_8、或TSS0P-8 ；步骤S2加载测试数据；S25在整批的多个待测EEPROM中选择一个待测EEPROM的地址；S3将测试数据写入EEPROM ；S3将测试数据写入EEPROM ；S4读取EEPROM的数据；S5对比测试数据与读取的数据是否相同；S6当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7当比对的结果不同时，测试结果未通过；S8根据是否完成整批测试，返回步骤S3。 本专利技术还提供另一种测试I2C的EEPROM的方法，包括:步骤SI根据EEPROM的封装类型，连接待测试的EEPROM ;所述EEPROM封装类型为MS0P_8、PDIP-8、S0IC_8、或TSS0P-8 ；S2加载测试数据；S25在整批的多个待测EEPROM中选择一个待测EEPROM的地址；S3将测试数据写入EEPROM ;S4读取EEPROM的数据；S5对比测试数据与读取的数据是否相同；S6当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7当比对的结果不同时，测试结果未通过；S75当所述测试结果为通过时，点亮LED报警灯；当所述测试结果为不通过时，维持LED报警灯熄灭；S8根据是否完成整批测试，返回步骤S3。本专利技术还提供一种I2C的EEPROM的测试控制器，所述测试控制器包括:数据加载模块，将测试数据加载入测试控制器；数据读写模块，与所述数据加载模块电连接，将加载入测试控制器的测试数据写入待测EEPR0M，并读取写入EEPROM的数据；数据对比模块，与所述数据加载模块、数据读写模块电连接，将数据加载模块加载入测试控制器的测试数据与数据读写模块读取的写入EEPROM的数据进行对比，判断测试是否通过。本专利技术还提供一种I2C的EEPROM的测试控制器，所述测试控制器包括:数据加载模块，将测试数据加载入测试控制器；数据读写模块，与所述数据加载模块电连接，将加载入测试控制器的测试数据写入待测EEPR0M，并读取写入EEPROM的数据；数据对比模块，与所述数据加载模块、数据读写模块电连接，将数据加载模块加载入测试控制器的测试数据与数据读写模块读取的写入EEPROM的数据进行对比，判断测试是否通过；批次控制模块，与所述数据读写模块、所述数据对比模块电连接，判断是否完成整批测试。本专利技术还提供一种I2C的EEPROM的测试控制器，所述测试控制器包括:数据加载模块，将测试数据加载入测试控制器；数据读写模块，与所述数据加载模块电连接，将加载入测试控制器的测试数据写入待测EEPR0M，并读取写入EEPROM的数据；数据对比模块，与所述数据加载模块、数据读写模块电连接，将数据加载模块加载入测试控制器的测试数据与数据读写模块读取的写入EEPROM的数据进行对比，判断测试是否通过；批次控制模块，与所述数据读写模块、所述数据对比模块电连接，判断是否完成整批测试；寻址模块，与所述数据读写模块、批次控制模块电连接，根据待测EEPROM的地址，在整批的多个EEPROM中确定一个待测试的EEPR0M。本专利技术还提供一种I2C的EEPROM的测试装置，包括测试控制器、至少一个测试座、I2C总线，所述测试控制器包括:数据加载模块，将测试数据加载入测试控制器；数据读写模块，与所述数据加载模块电连接，将加载入测试控制器的测试数据写入待测EEPR0M，并读取写入EEPROM的数据；数据对比模块，与所述数据加载模块、数据读写模块电连接，将数据加载模块加载入测试控制器的测试数据与数据读写模块读取的写入EEPROM的数据进行对比，判断测试是否通过；批次控制模块，与所述数据读写模块、所述数据对比模块电连接，判断是否完成整批测试；寻址模块，与所述数据读写模块、批次控制模块电连接，根据待测EEPROM的地址，在整批的多个EEPROM中确定一个待测试的EEPROM ;所述至少一个测试座，与待测试的整批EEPROM分别电连接，所述测试座的插口形式适应MS0P-8、PDIP-8、S0IC-8、或TSS0P-8封装类型；所述I2C总线，与所述至少一个测试座、所述测试控制器电连接。本专利技术还提供一种I2C的EEPROM的测试装置，包括测试控制器、至少一个测试座、I2C总线、至少一个LED灯，所述测试控制器包括:数据加载模块，将测试数据加载入测试控制器；数据读写模块，与所述数据加载模块电连接，将加载入测试控制器的测试数据写入待测EEPR0M，并读取写入EEPROM的数据；数据对比本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试I2C的EEPROM的方法，其特征在于，包括步骤：S2：加载测试数据；S3：将测试数据写入EEPROM；S4：读取EEPROM的数据；S5：对比测试数据与读取的数据是否相同；S6：当比对的结果相同时，测试结果为通过；S7：当比对的结果不同时，测试结果未通过。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王振，
申请(专利权)人：上海斐讯数据通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。