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本实用新型涉及一种用于存储设备的温控式测试系统，包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元、用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体用于控制所述...
该专利属于杭州华澜微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州华澜微电子股份有限公司授权不得商用。

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