一种多晶少子寿命检测后划线量具制造技术

技术编号:12232426 阅读:60 留言:0更新日期:2015-10-22 13:08
本实用新型专利技术涉及一种多晶少子寿命检测后划线量具。该多晶少子寿命检测后划线量具包括一木质底座,在木质底座的前端连接一与木质底座贴合设置的刻度尺,在与刻度尺上、下两端相对应的木质底座前部的一侧分别设有一凹槽,在凹槽内分别上下滑动设有一直角尺;在木质底座后部对应各直角尺底边的两端分别设有一固定直角尺的第一紧固螺钉。该多晶少子寿命检测后划线量具结构合理、方便实用、操作简单、省时省力、划线精确、工作量小且能够提高工作效率的多晶少子寿命检测后划线量具。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】(-)
本技术涉及一种多晶少子寿命检测后划线量具。(二)
技术介绍
太阳能多晶硅铸锭是一种柱状晶体,晶体的生长方向垂直向上,热流方向垂直向下,通过定向凝固过程来实现,即在结晶的过程中,通过控制热场变化,形成单方向的热流,并要求固-液态界面处温度梯度大于0,而横向的平面无温度梯度,从而形成了定向凝固的柱状晶体。硅锭边皮是利用开方机切除,而硅锭头尾不合格部分则依据少子寿命检测截除,将娃锭从i甘祸内取出后开方,开方后将娃锭开成5*5共25块尺寸为156*156的娃块,开方后的硅块需检测少子寿命,根据少子寿命测试结果截除头尾不合格部分。因此,需要将25块头尾不可用的部分均切除掉。现有操作一般是取开方后每颗硅锭测试A区(9块)/B区(12块)/C(4块)区各一块,根据该块测试结果标记头尾不合格区域并划线截除,同区域内的其他硅块去头尾划线按照测试块来决定,同区域的其它硅块要根据测试块的去除高度去除,然后用直尺量测去头尾长度,后根据去除高度再在同区域的其他硅块头尾做标记划线,再依次截除。这一方法工作量大,操作费时费力,大大降低了工作效率。(三)
技术实现思路
本技术为了弥补现有技术的不足,提供了一种结构合理、方便实用、操作简单、省时省力、划线精确、工作量小且能够提高工作效率的多晶少子寿命检测后划线量具,解决了现有技术中存在的问题。本技术是通过如下技术方案实现的:—种多晶少子寿命检测后划线量具,包括一木质底座,在木质底座的前端连接一与木质底座贴合设置的刻度尺,在与刻度尺上、下两端相对应的木质底座前部的一侧分别设有一凹槽,在凹槽内分别上下滑动设有一直角尺;在木质底座后部对应各直角尺底边的上下两端分别设有一用于固定直角尺的第一紧固螺钉。在刻度尺的四角处分别设有一第二紧固螺钉,所述刻度尺与木质底座前端通过第二紧固螺钉固定连接。所述刻度尺与木质底座前端通过粘结剂粘接固连。本技术的有益效果是:该多晶少子寿命检测后划线量具,结构合理,方便实用,操作简单,在划线过程中划线精确度高,截取同区域隔硅块的头尾尺寸一致均匀,大大节省了重复量取各区域测试硅块头尾高度并不断在其他硅块上标记划线并截取的工作量,结果稳定可靠,保证了硅块质量。在整个划线过程中对操作工人要求低,省时省力,大大提高了划线的工作效率。通过木质底座前端的刻度尺设置以及木质底座前部上下两端的凹槽及上下滑动设置在凹槽内的直角尺设计,保证了硅块测试块头尾快速划线的同时清楚的量取了去除高度,由于直角尺位置可通过第一紧固螺钉固定,使同区域其他硅块均使用经测试块划线后的多晶少子寿命检测后划线量具状态,无需再次调节,非常方便,大大减少了工作量,提高了工作效率。(四)【附图说明】下面结合附图对本技术作进一步的说明。图1为实施例1的结构示意图;图2为图1俯视结构示意图;图3为图1后视结构示意图;图4为实施例2的结构示意图;图5为图4俯视结构示意图。图中,I木质底座,2刻度尺,3凹槽,4直角尺,5第一紧固螺钉,6第二紧固螺钉,7粘结剂。(五)【具体实施方式】为能清楚说明本方案的技术特点,下面通过【具体实施方式】,并结合其附图,对本技术进行详细阐述。实施例1如附图1-3所示,该多晶少子寿命检测后划线量具包括一木质底座1,在木质底座I的前端连接一与木质底座I贴合设置的刻度尺2,在与刻度尺2上、下两端相对应的木质底座I前部的一侧分别设有一凹槽3,在凹槽3内分别上下滑动设有一直角尺4 ;在木质底座I后部对应各直角尺4底边的上下两端分别设有一穿设至凹槽内的固定直角尺4的第一紧固螺钉5。在刻度尺2的四角处分别设有一第二紧固螺钉6,所述刻度尺2与木质底座I前端通过第二紧固螺钉5固定连接。实施例2如附图4-5所示,为本技术的另一实施例,该多晶少子寿命检测后划线量具与实施例1所不同的是,所述刻度尺2的后面与木质底座I前端通过粘结剂7粘接固连。以下以某一颗开方后的硅锭为例,说明本技术实施例1和实施例2多晶少子寿命检测后划线量具的使用方法。将硅锭开成5*5共25块尺寸为156*156的硅块,根据硅块所处的硅锭中的位置分为A区(9块)/B区(12块)/C (4块),选取各区硅块各一块进行少子寿命检测,根据各区硅块测试结果标记头尾不合格区域。将该多晶少子寿命检测后划线量具的底座右侧对齐硅块的左侧,根据硅块头尾的不合格区域的标记分别上下移动直角尺至标记处,在移动过程中能够清楚的了解标记的不合格区域的高度,然后手动底座后部的第一紧固螺钉使上下两直角尺固定,沿直角尺分别划线,根据划线将硅块头尾不合格区域截除。取下该多晶少子寿命检测后划线量具,对于同一分区的硅块的划线,无需再次调节,直接将该多晶少子寿命检测后划线量具经测试块调节固定状态放置在下一硅块的一侦牝然后沿上下两直角尺的尺边划线即可,避免了再去测量测试块的截取尺寸,根据截取尺寸高度再在下一硅块上测量并划线、截取,大大减少了工人工作量,提升了工作效率。其他区域内硅块按照上述方法进行划线。本技术未详述之处,均为本
技术人员的公知技术。最后说明的是,以上实施例仅用以说明本技术的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本技术进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本技术的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本技术技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本技术的权利要求范围当中。【主权项】1.一种多晶少子寿命检测后划线量具,其特征是:包括一木质底座,在木质底座的前端连接一与木质底座贴合设置的刻度尺,在与刻度尺上、下两端相对应的木质底座前部的一侧分别设有一凹槽,在凹槽内分别上下滑动设有一直角尺;在木质底座后部对应各直角尺底边的上下两端分别设有一穿设至凹槽内的用于固定直角尺的第一紧固螺钉。2.根据权利要求1所述的一种多晶少子寿命检测后划线量具,其特征是:在刻度尺的四角处分别设有一第二紧固螺钉,所述刻度尺与木质底座前端通过第二紧固螺钉固定连接。3.根据权利要求1所述的一种多晶少子寿命检测后划线量具,其特征是:所述刻度尺与木质底座前端通过粘结剂粘接固连。【专利摘要】本技术涉及一种多晶少子寿命检测后划线量具。该多晶少子寿命检测后划线量具包括一木质底座,在木质底座的前端连接一与木质底座贴合设置的刻度尺,在与刻度尺上、下两端相对应的木质底座前部的一侧分别设有一凹槽,在凹槽内分别上下滑动设有一直角尺;在木质底座后部对应各直角尺底边的两端分别设有一固定直角尺的第一紧固螺钉。该多晶少子寿命检测后划线量具结构合理、方便实用、操作简单、省时省力、划线精确、工作量小且能够提高工作效率的多晶少子寿命检测后划线量具。【IPC分类】B25H7/04【公开号】CN204712034【申请号】CN201520416000【专利技术人】陈文杰, 甘大源, 薛东波, 韩志纯, 刘海军 【申请人】山东大海新能源发展有限公司【公开日】2015年10月21日【申请日】2015年6月16日本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种多晶少子寿命检测后划线量具,其特征是:包括一木质底座,在木质底座的前端连接一与木质底座贴合设置的刻度尺,在与刻度尺上、下两端相对应的木质底座前部的一侧分别设有一凹槽,在凹槽内分别上下滑动设有一直角尺;在木质底座后部对应各直角尺底边的上下两端分别设有一穿设至凹槽内的用于固定直角尺的第一紧固螺钉。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈文杰甘大源薛东波韩志纯刘海军
申请(专利权)人:山东大海新能源发展有限公司
类型:新型
国别省市:山东;37

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