一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法技术

本发明专利技术公开了一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法，属于OTP模块技术领域，技术方案：OTP模块具有独立的电源通路；当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时：当OTP模块的控制逻辑对OTP模块进行会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路；当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时：当OTP模块处于会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路。本发明专利技术通过独立控制OTP模块的电源通路和控制端口，达到避免对芯片内嵌OTP的内容误操作。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法
本专利技术涉及一种OTP模块
，具体地说是一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法。
技术介绍
由于人们对安全的要求越来越高，芯片设计需要考虑安全因数，要求芯片内嵌OTP(OneTimeProgramable一次性可编程)模块用于保存一些私有和安全信息。但是在一些情况下比如芯片测试，可能会对这些单元造成一些误写操作，使得这些单元被破坏，从而使得这些芯片变成不良品。OTP模块通常是芯片制造厂商提供的IP(知识产权)，是一种非易失性存储器，OTP模块的特性是默认值存储的比特位全部都是0，可以通过编程将需要的任何比特位由0改为1，一旦改为1，就不能再改为0了，但没有改为0的比特位还可以通过编程将其改为1。OTP模块通常用于存储一些芯片内部RAM(随机存储器)的修复信息，用于提高芯片的良率。所以通常在芯片量产测试阶段对OTP模块进行一次编程。另外，OTP模块还可用于存储一些很重要很敏感的信息，和只读信息，以及芯片的配置信息。由于OTP模块的控制信号端口和电源通路受芯片内部逻辑控制或与其他功能复用，导致OTP模块内部存储信息被误操作，而改变其存储信息。如何避免对芯片内嵌OTP模块的内容误操作，是本领域技术人员迫切需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是提供一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法。通过独立控制OTP模块的电源通路和控制端口，达到避免对芯片内嵌OTP的内容误操作。本专利技术的技术任务是按以下方式实现的，一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法，OTP模块具有独立的电源通路；OTP模块的控制端口既可以直接由芯片的外部端口控制，也可以由内部逻辑控制；（1）、当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时：当OTP模块的控制逻辑对OTP模块进行会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，则OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过内部逻辑控制对OTP模块内部存储信息进行读写操作；（2）、当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时：当OTP模块处于会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过OTP模块的芯片的外部端口对OTP模块内部存储信息进行读写操作。状态（1）中，会破坏OTP模块的内部存储信息的操作为扫描链测试操作，OTP模块的控制逻辑在扫描链测试时，其每个单元的逻辑值被扫描链及其控制结构控制，会导致扫描链某些特定的输入值，破坏OTP模块的内部存储信息。当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时，即OTP模块的控制端口直接连接到芯片外部引脚或芯片以外的装置控制。状态（2）中，会破坏OTP模块的内部存储信息的操作为：当芯片的外部端口或电源通路被复用于其他功能时，会存在某些特定的组合值使得OTP模块处于被写状态或其他会破坏OTP模块的内部存储信息的操作状态。本专利技术的一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法具有以下优点：通过独立控制OTP电源通路和控制端口，达到避免对芯片内嵌OTP的内容误操作；因而，具有很好的推广使用价值。附图说明下面结合附图对本专利技术进一步说明。附图1为一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法的当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时，芯片处于非读写状态时的连接框图；附图2为一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法的当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时，芯片处于读写状态时的连接框图；附图3为一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法的当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时，芯片处于非读写状态时的连接框图；附图4为一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法的当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时，芯片处于读写状态时的连接框图。具体实施方式参照说明书附图和具体实施例对本专利技术的一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法作以下详细地说明。实施例1：本专利技术的一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法，OTP模块具有独立的电源通路；OTP模块的控制端口既可以直接由芯片的外部端口控制，也可以由内部逻辑控制；（1）、当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时：当OTP模块的控制逻辑对OTP模块进行会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，则OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过内部逻辑控制对OTP模块内部存储信息进行读写操作；（2）、当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时：当OTP模块处于会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过OTP模块的芯片的外部端口对OTP模块内部存储信息进行读写操作。实施例2：本专利技术的一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法，OTP模块具有独立的电源通路；OTP模块的控制端口既可以直接由芯片的外部端口控制，也可以由内部逻辑控制；（1）、当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时：当OTP模块的控制逻辑对OTP模块进行会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，则OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过内部逻辑控制对OTP模块内部存储信息进行读写操作；（2）、当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时：当OTP模块处于会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过OTP模块的芯片的外部端口对OTP模块内部存储信息进行读写操作。状态（1）中，会破坏OTP模块的内部存储信息的操作为扫描链测试操作，OTP模块的控制逻辑在扫描链测试时，其每个单元的逻辑值被扫描链及其控制结构控制，会导致扫描链某些特定的输入值，破坏OTP模块的内部存储信息。当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时，即OTP模块的控制端口直接连接到芯片外部引脚或芯片以外的装置控制。状态（2）中，会破坏OTP模块的内部存储信息的操作为：当芯片的外部端口或电源通路被复用于其他功能时，会存在某些特定的组合值使得OTP模块处于被写状态或其他会破坏OTP模块的内部存储信息的操作状态。通过上面具体实施方式，所述
的技术人员可容易的实现本专利技术。但是应当理解，本专利技术并不限于上述的具体实施方式。在公开的实施方式的基础上，所述
的技术人员可任意组合不同的技术特征，从而实现不同的技术方案。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法，其特征在于OTP模块具有独立的电源通路；OTP模块的控制端口既可以直接由芯片的外部端口控制，也可以由内部逻辑控制；（1）、当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时：当OTP模块的控制逻辑对OTP模块进行会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，则OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过内部逻辑控制对OTP模块内部存储信息进行读写操作；（2）、当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时：当OTP模块处于会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路， OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过OTP模块的芯片的外部端口对OTP模块内部存储信息进行读写操作。

【技术特征摘要】
1.一种芯片内嵌的OTP模块的控制方法，其特征在于OTP模块具有独立的电源通路；OTP模块的控制端口既可以直接由芯片的外部端口控制，也可以由内部逻辑控制；（1）、当OTP模块的控制端口由内部逻辑控制时：当OTP模块的控制逻辑对OTP模块进行会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，则OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过内部逻辑控制对OTP模块内部存储信息进行读写操作；（2）、当OTP模块的控制端口直接由芯片的外部端口控制时：当OTP模块处于会破坏OTP模块的内部存储信息的操作时，若芯片处于非读写状态时，断开OTP模块的电源通路，OTP模块内部存储信息就不会被改变；若芯片处于读写状态时，闭合OTP模块的电源通路，通过OTP模块的芯片的外部端口对OTP模...

【专利技术属性】
技术研发人员：江山刚，童圆满，李仁刚，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37