智能卡温度测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种智能卡温度测试系统，包括：至少一台电脑主机，一温控设备；电脑主机通过串口与温控设备相连接，并通过智能卡读卡器与待测的智能卡建立通信通道；温控设备控制智能卡运行的温度环境，电脑主机控制温控设备及智能卡运行。采用所述智能卡温度测试系统的测试方法，包括如下步骤：步骤一、电脑主机控制温控设备达到设定温度后，自动运行读卡器，检验智能卡是否在当前温度下能够正常运行；步骤二、如果能正常运行，则电脑主机控制温控设备调节温度；当温控设备达到调节后的温度时，再次检验智能卡是否能够正常工作；如此反复运行，直至智能卡不能正常运行时，测试结束。本发明专利技术能减少人为干预，节约人工成本，提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种智能卡温度测试系统，其特征在于，包括：至少一台电脑主机，一温控设备；所述电脑主机通过串口与温控设备相连接，并通过智能卡读卡器与待测的智能卡建立通信通道；所述温控设备控制智能卡运行的温度环境，所述电脑主机控制温控设备及智能卡运行。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张倬，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31