【技术实现步骤摘要】
一种可靠性同测装置及其控制方法
本专利技术涉及微控制器嵌入存储器可靠性测试领域,以多芯片同时测试的形式,确认存储器擦写耐久力或存储持久力,从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。
技术介绍
因为物联网与智能设备、安全识别等应用的普及,微控制器芯片需求猛增。其内嵌的存储器承载着装载应用程序、存储关键密钥与重要过程数据的作用,故在整个应用生命周期内,存储器的质量起着非常关键的作用。随着大规模集成电路工艺的进步,存储器的可靠性如擦写耐久力、数据保持力等是一个重要指标,一般IP的提供商会承诺擦写次数在10万或20万次甚至更多。对于存储器的测试片,因为有着全面的对外接口与测试电路,可进行IP级的可靠性测试。集成到微控制器芯片内部后,在测试机台上利用测试接口进行整片的存储器单元功能筛选测试。整合片集成的过程中,电源、时钟等系统级因素对存储器本身有影响,在加上生产加工批次的因素,对整合微控制器芯片内部存储器再进行抽样可靠性确认显得非常有必要。然而,存储器一旦集成到微控制器芯片内部,测试接口即无法探测得到,需要利用MCU读写存储器的方式进行确认。随着应用范围越来越广,微控制器芯片的存储空间也越来越大,一颗芯片如果需要全空间地确认,擦写10万次以上,则需要接近半个月的时间。长时间的测试过程,高温或低温的严苛测试环境,自动化地测试结果确认,电源系统控制等均是可靠性测试系统需要面对的问题。
技术实现思路
本专利技术是一个微控制器芯片嵌入NVM存储器可靠性同测系统,可同时进行多个微控制器芯 ...
【技术保护点】
1.一种可靠性同测装置,其特征在于,包括测试硬件主控制板和上位机控制,其中测试硬件主控制板包括测试控制单片机、n个被测微控制器芯片;上位机控制通过与测试硬件主控制板相连,测试控制单片机与被测微控制器芯片相连;上位机控制指令控制外部程控电源,以自动配置不同的电压条件,对控制测试硬件主控制板上测试控制单片机设置,与被测微控制器芯片通讯,启动多个被测微控制器存储器测试程序,在同一时间进行内置的大容量存储器的耐久力与保持力测试。/n
【技术特征摘要】
1.一种可靠性同测装置,其特征在于,包括测试硬件主控制板和上位机控制,其中测试硬件主控制板包括测试控制单片机、n个被测微控制器芯片;上位机控制通过与测试硬件主控制板相连,测试控制单片机与被测微控制器芯片相连;上位机控制指令控制外部程控电源,以自动配置不同的电压条件,对控制测试硬件主控制板上测试控制单片机设置,与被测微控制器芯片通讯,启动多个被测微控制器存储器测试程序,在同一时间进行内置的大容量存储器的耐久力与保持力测试。
2.根据权利要求1所述的一种可靠性同测装置,其特征在于,所述测试硬件主控制板仅需一个支持串口通讯接口或SPI通讯接口的单片机即可实现满足可靠性测试最小抽样个数的芯片同测。
3.一种可靠性同测控制方法,基于权利要求1所述的装置,其特征在于上位机控制指令控制程控电源,以自动配置不同的电压条件;上位机控制指令对测试硬件主控制板上测试控制单片机设置,与被测微控制器芯片通讯,启动多个被测微控制器存储器测试程序,在同一时间进行运行内置的大容...
【专利技术属性】
技术研发人员:戴昭君,蒋艳,宗磊,葛文启,吕瑞恩,
申请(专利权)人:上海华虹集成电路有限责任公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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