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电容器温度特性自动测试系统技术方案

技术编号:10277037 阅读:308 留言:0更新日期:2014-08-01 04:17
本实用新型专利技术公开了一种电容器温度特性自动测试系统,该系统包括上位机、单片机、电容切换模块、高低温箱、温度传感器、安捷伦电容电桥以及被测电容器组,所述上位机根据温度信号控制所述单片机;所述单片机控制电容切换模块的继电器组作为电容通路的选择开关,实现所述安捷伦电容电桥被测电容器组的对应通、断连接,自动切换安捷伦电容电桥与被测电容的连接,分别实现当前温度下各被测电容器组的电容性能参数测试;所述安捷伦电容电桥通过单片机不断地将测试结果上传到上位机;所述上位机实现测量数据的自动采集。本实用新型专利技术配合高低温箱,可实现电容电桥与多个电容器的自动选通连接,实现对多个电容器温度特性的自动测量,节省人力。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
电容器温度特性自动测试系统
本技术涉及电容自动测试系统,特别是涉及一种针对电容器温度特性的自动测试系统。
技术介绍
此前,对电容器温度特性的测试是一种非常耗时的过程。以测量20个电容器在-55?+155°C温区的性能参数为例,其基本流程为:首先将高低温箱的温度设定为一55°C,待高低温箱内的温度稳定后,依次调整波段开关,分别测量这20个电容器的性能参数,然后手工记录测试结果。当在该温度点测量完毕后,根据需要,改变高低温箱的温度,例如将温度调整为一 45°C,等温度再次稳定后,按照上述过程再依次测量这20个电容器的性能参数。依此类推,一直到整个温区的主要温度点全部测量完毕,便得到这20个电容器在-55?+155°C温区内的大致温度特性。在这个过程中,全部的测量工作及参数设置需要手工操作实现,测量效率低且工作量大。而且,由于测试过程中所选定的测试温度只是一些离散的点,在各个测试温度之间电容器性能的微小变化根本无法得以体现。通过查阅相关文献,发现目前也有一些自动测量,它们大多采用多路选择器的方式实现电容器的选通,但此方式会对电容参数的测试结果带来较大的误差。技术内容基于上述技术问题本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,该系统包括上位机、单片机、电容切换模块、高低温箱、温度传感器、安捷伦电容电桥以及被测电容器组,其中:所述被测电容器组置于高低温箱中;所述温度传感器用于检测当前实时温度,并将温度信号转换为电信号,上传给上位机;所述上位机根据温度信号控制所述单片机;所述单片机控制电容切换模块的继电器组作为电容通路的选择开关,实现所述安捷伦电容电桥被测电容器组的对应通、断连接,自动切换安捷伦电容电桥与被测电容的连接,分别实现当前温度下各被测电容器组的电容性能参数测试;所述安捷伦电容电桥通过单片机不断地将测试结果上传到上位机;所述上位机实现测量数据的自动采集。

【技术特征摘要】
1.一种电容器温度特性自动测试系统,其特征在于,该系统包括上位机、单片机、电容切换模块、高低温箱、温度传感器、安捷伦电容电桥以及被测电容器组,其中: 所述被测电容器组置于高低温箱中;所述温度传感器用于检测当前实时温度,并将温度信号转换为电信号,上传给上位机;所述上位机根据温度信号控制所述单片机;所述单片机控制电容切换模块的继电器组作为电容通路的选择开关,实现所述安捷伦电容电桥被测电容器组的对应通、断连接,自动切换安捷伦电容电桥与被测电容的连接,分别实现当前温度下各被测电容器组的电容性能参数测试;所述安捷伦电容电桥通过单片机不断地将测试结果上...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖谧尹昭杨辛睿山
申请(专利权)人:天津大学
类型:新型
国别省市:天津;12

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