基于量子点间接免疫荧光的病原体检测方法技术

技术编号:11474576 阅读:122 留言:0更新日期:2015-05-20 04:20
一种基于量子点间接免疫荧光的病原体检测方法,其包括如下步骤:第一步,对病原体进行包被,并进行增殖培养;第二步,设置质控孔,将无吸附病毒的MDCK细胞包被在玻片阴极质控孔中,做阴极对照,将吸附有病毒的MDCK细胞包被在玻片阳极质控孔中,做阳极对照;第三步,用化学交联法将量子点与抗人IgM的特异性抗体连接,得到量子点修饰抗体;第四步,利用计算机对扫描图片进行镜检和分析。本发明专利技术的一种基于量子点间接免疫荧光标记方法,其灵敏度高、自动化强、细胞固定稳固等优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于量子点间接免疫荧光的病原体检测方法,其特征在于,包括如下步骤:第一步,对病原体进行包被,并进行增殖培养;第二步,设置质控孔,将无吸附病毒的MDCK细胞包被在玻片阴极质控孔中,做阴极对照,将吸附有病毒的MDCK细胞包被在玻片阳极质控孔中,做阳极对照;第三步,用化学交联法将量子点与抗人IgM的特异性抗体连接,得到量子点修饰抗体;第四步,利用计算机对扫描图片进行镜检和分析。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张二盈
申请(专利权)人:深圳市金准生物医学工程有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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