一种样品分析装置样品室制造方法及图纸

技术编号:11352615 阅读:77 留言:0更新日期:2015-04-25 02:36
本实用新型专利技术公开了一种样品分析装置的样品室,包括光学安装组件和样品室腔壁,所述光学安装组件与所述样品室腔壁之间设置有连接件;所述样品室腔壁上至少设置一个安装法兰,所述连接件通过所述安装法兰与所述样品室腔壁连接;所述连接件上设置有第一定位元素,所述安装法兰和所述光学安装组件二者之一上设置有第二定位元素,所述第一定位元素和所述第二定位元素安装时相互配合,提高了光学元件的安装复位精度。本实用新型专利技术解决了现有技术中拆卸状态下维护光路后需要重新调整光路以及通过窗口维护时存在维护死角的技术难题,实现对光学元件进行彻底、快速维护的目的。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于样品分析检测领域,尤其涉及一种在线分析技术的样品分析装置样品室
技术介绍
在工业在线分析中,由于样品中复杂的成分,使光学元件极其容易被污染。如果不及时维护,将会降低样品分析装置的检测精度,甚至破坏光学元件,使其完全失效。如设计上未充分考虑维护的方便性,如图2所示,直接将光学安装组件安装到样品室腔壁的安装法兰上,在样品室中光学元件被污染后,需要拆卸维护,维护完成后需重新调节光路,由于调节光路需要一定的专业技术水平,如此维护通常需将样品室甚至仪表整体返厂,维护难度大,所耗时间长,严重影响用户的使用;如设计时,光学元件直接安装到样品室腔壁上,如此很难达到光学元件的高精度安装,且拆解维护后复位性差。如设计时光学安装组件通过定位元素直接安装到样品室腔壁的安装法兰上,由于如此定位光路调节不能实现,要想得到光学元件的高精度安装,只有提高光学安装组件结构件的加工和装配精度,从而提高了加工成本,增加了装配技术难度,为公司后续质量管控带来了困难。专利201220707205.X提出了一种方法,如图1所示,在样品室两端各开一个维护窗口,维护时打开维护窗口密封板I’进行维护,维护较以前简单、便捷,但因空间有限,所设置维护窗口尺寸受限制,此方法存在观察死角与维护死角,使得维护不够彻底,同时也增大了维护的难度和工作量,达不到对光学元件进行快速、彻底维护的目的。同时由于此方法在样品室管2’的腔壁开窗,焊接窗口容易使样品室腔壁变形,导致两端光学元件的安装精度达不到要求,同时也会使样品室腔壁的加工难度增大,增加了额外的成本。因此,有必要找到一种能够彻底、快速的维护光学元件,同时能够保证光学元件安装精度满足较高的使用要求,且维护前后光路状态几乎一致的装置。
技术实现思路
有鉴于此,本技术提供了一种样品分析装置样品室,所谓样品室为分析样品使用的密闭空间,其中包括光学元件及一些样品分析仪所用的其他元件。本技术通过在所述光学安装组件与所述样品室腔壁之间设置有连接件,并且在所述连接件与所述样品室腔壁安装法兰接触面间或在所述连接件与所述光学安装组件接触面间设置定位元素,保证样品分析装置的光学元件安装精度满足较高的使用要求,且拆卸维护前后光路状态几乎保持一致。一种样品分析装置样品室,其特征在于:包括光学安装组件和样品室腔壁,所述光学安装组件与所述样品室腔壁之间设置有连接件;所述样品室腔壁设置有至少一个安装法兰,所述连接件通过所述安装法兰与所述样品室腔壁连接;所述连接件上设置有第一定位元素,所述安装法兰和所述光学安装组件二者之一上设置有第二定位元素,所述第一定位元素和所述第二定位元素安装时相互配合。优选地,所述安装法兰上设置有第二定位元素时,所述安装法兰与所述连接件通过光路调节机构连接。优选地,所述光学安装组件上设置有第二定位元素时,所述光学安装组件与所述连接件通过光路调节机构连接。 优选地,所述光路调节机构为螺钉调节机构。优选地,所述第一定位元素与所述第二定位元素之间刚性连接。优选地,所述第一定位元素和所述第二定位元素为定位台阶面。优选地,所述第一定位元素或所述第二定位元素为定位销或定位孔。优选地,所述第一定位元素或所述第二定位元素为螺纹或限位面。优选地,所述光学安装组件与所述连接件之间设有密封元件。优选地,所述连接件与所述安装法兰之间设有密封元件。与现有技术相比,本技术具有以下优点:(I)本技术采用连接件以及连接件与安装法兰或连接件与光学安装组件之间的定位元素的设计,确保了光学元件拆卸维护后高的安装、复位精度,确保了维护前后光路的一致性;(2)本技术是一种可拆卸的样品分析装置样品室,因此在维护光学元件时,不再受到空间的限制,不存在观察与维护死角,且安装及维护复位精度比较高,使清洁更加便捷、更加彻底。【附图说明】为了更清晰地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中样品分析装置样品室装置的结构示意图;图2为现有技术中样品分析装置中光学安装组件与样品室腔壁的位置结构示意图;图3为本技术样品分析装置样品室的剖视图;图4为本技术样品分析装置样品室优选实施例一的立体结构示意图;图5为本技术样品分析装置样品室优选实施例二的立体结构示意图;图6为本技术样品分析装置样品室优选实施例三的立体结构示意图;图7为本技术样品分析装置样品室特殊实施例一的立体结构示意图;图8、图9为本技术样品分析装置样品室连接件的其他结构形式示意图;图10为本技术样品分析装置样品室腔壁另一实施方式中安装法兰位置示意图;其中:I’、密封板; 2’、样品管室;1、光学安装组件; 11、光学安装基座; 12、光学元件; 13、光路调节机构;2、连接件; 21、第一定位元素; 22?24、定位台阶面; 25、定位销;26、定位孔; 27、螺纹; 28、限位面;3、样品室腔壁; 31、安装法兰; 32、第二定位元素。【具体实施方式】样品分析装置中的光学元件在使用时易被样品中的杂质污染,现有的清洁方式是在拆卸的基础上、通过在样品室腔壁上开设维护窗口对光学元件进行清洁,但是这种方式因维护窗口的空间和角度限制,存在着观察死角和清洁死角,光学元件的清洁不够彻底;若将光学元件拆卸后清洁,则在没有专业人士的操作下无法保证该光学元件能够回归初始位置。针对以上问题,本技术公开了一种即可彻底清洁光学元件又可使该光学元件精确装回的样品分析装置样品室。下面通过实施例,并结合附图,对本技术的技术方案作进一步具体的说明。一种样品分析装置样品室,包括光学安装组件I和样品室腔壁3,其中,光学安装组件I包括光学安装基座11和光学元件12,该光学元件12安装在上述光学安装基座上,并伸入样品室内。上述样品室腔壁3为一个一体的完整壁面,该样品室腔壁上不设有任何开口。上述样品室腔壁3还包括至少一个安装法兰31,优选地,该安装法兰31 —体成型设置在样品室腔壁3的端部,用于与光学安装组件I连接。作为其他实施方式,上述安装法兰31亦可设置在样品室腔壁3的其他部位,如图10所示,安装法兰31设置在样品室腔壁3的侧壁上,其他实施方式此处不再一一列举,皆属于本技术的保护范畴。本技术样品分析装置样品室还包括一个设置在所述光学安装组件I与所述样品室腔壁3之间的连接件2,所述光学安装组件I或所述安装法兰31与所述连接件2之间通过光路调节机构连接,该光路调节机构可以保证光学元件12初始的安装精度,所述光路调节机构为螺钉调节机构,包含但不限于此调节形式;所述连接件与所述样品室腔壁3或所述光学安装组件I通过定位元素定位后刚性连接。如图3所示,上述连接件2位于所述光学安装组件I与所述样品室腔壁3之间,同时还包括设置于所述连接件2上的第一定位元素21 ;所述样品室腔壁3端部的安装法兰31上设置有第二定位元素32,通过第一定位元素21与第二定位元素32之间的巧妙定位来保证相对安装位置精度,从而实现维护前后光路的准确复位。作为本技术的优选实施方式,所述第一本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种样品分析装置样品室,其特征在于:包括样品室腔壁和至少一个光学安装组件,所述光学安装组件与所述样品室腔壁之间设置有连接件;所述样品室腔壁上设置有至少一个安装法兰,所述连接件通过所述安装法兰与所述样品室腔壁连接;所述连接件上设置有第一定位元素,所述安装法兰和所述光学安装组件二者之一上设置有第二定位元素,所述第一定位元素和所述第二定位元素安装时相互配合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邓文平朱道龙
申请(专利权)人:苏州谱道光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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