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一种X-荧光光谱分析用样品盒制造技术

技术编号:9448613 阅读:119 留言:0更新日期:2013-12-12 23:50
本实用新型专利技术涉及X-荧光光谱分析领域,具体提供一种X-荧光光谱分析用样品盒。其结构由盒体、盒盖、支撑弹簧、顶板及面罩构成,盒盖旋接在盒体开口端,支撑弹簧、顶板及面罩自下而上依次抵压设置在盒体底面与盒盖之间,盒盖上开有透射孔,面罩上开有检测孔,其特点是,面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合。与现有技术相比,本实用新型专利技术的X-荧光光谱分析用样品盒具有设计合理,便于对样品的不同部位进行检测等特点,可应用于各种样品的X-荧光光谱分析过程中。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种X?荧光光谱分析用样品盒,由盒体、盒盖、支撑弹簧、顶板及面罩构成,盒盖旋接在盒体开口端,支撑弹簧、顶板及面罩自下而上依次抵压设置在盒体底面与盒盖之间,盒盖上开有透射孔,面罩上开有检测孔,其特征在于,面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:洪飞白雪冰袁家义
申请(专利权)人:洪飞白雪冰袁家义
类型:实用新型
国别省市:

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