一种粗糙度比较样块校准固定微调装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种粗糙度比较样块校准固定微调装置，包括底座、径向位移调整块、角度调整块、样块盒装夹平台，所述径向位移调整块可移动的设在底座上，所述角度调整块可转动的设在径向位移调整块上，所述样块盒装夹平台固定在角度调整块上。能够直接固定粗糙度比较样块的样块盒，并可实现径向调整和角度调整，能够一次实现整套样块的校准测量，降低了校准工作的调整工作量，极大提高了校准效率；并且操作简便，固定可靠，数据准确。

【技术实现步骤摘要】
—种粗糙度比较样块校准固定微调装置
[0001 ] 本专利技术涉及粗糙度比较样块校准
，尤其是涉及一种粗糙度比较样块校准固定微调装置。
技术介绍
机加工中需要使用成套的粗糙度比较样块来比较测量在线控制制件的表面粗糙度。在粗糙度比较样块的校准中，仅仅按照校准规范和使用粗糙度仪，并不能很顺利的对整套样块一次性校准。 粗糙度比较样块为多块组合，测量过程中各个样块不易拆卸(拆卸易混淆，且每块重新装夹，效率低)测量，同时由于样块中有内圆弧、外圆弧等形状，测量过程中要调整至拐点位置(需调节样块的径向位置和角度)，只能靠人为使用垫块调节位置和角度，严重影响校准的效率，且装夹固定不可靠，易造成设备测针非正常接触，损坏测针。
技术实现思路
针对现有技术不足，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种粗糙度比较样块校准固定微调装置，其可实现径向和角度位置调整，提高校准效率。 为了解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案为: 该粗糙度比较样块校准固定微调装置，包括底座、径向位移调整块、角度调整块、样块盒装夹平台，所述径向位移调整块可移动的设在底座上，所述角度调整块可转动的设在径向位移调整块上，所述样块盒装夹平台固定在角度调整块上。 进一步的，所述底座通过T型键固定在粗糙度轮廓仪设备平台上。 还包括用于调整被测样块套件位置的调整垫块，所述调整垫块设在样块盒装夹平台上。 所述样块盒装夹平台为凹槽结构，凹槽结构的槽壁上设有用于夹紧样块盒的夹紧旋钮。 所述径向位移调整块下部与底座上部之间通过燕尾槽配合，底座上设有与径向位移调整块下部螺纹配合的位移调节旋钮。 所述径向位移调整块上部与角度调整块下部之间通过涡轮蜗杆机构相连。 所述样块盒装夹平台上设有高度不同的用于支撑样块盒的一组支撑杆。 所述角度调整块下部设有凸起，径向位移调整块上部设有与凸起相对应的凹槽，径向位移调整块上设有角度调节旋钮，凸起上设有与角度调节旋钮相适配的涡轮结构。 本专利技术与现有技术相比，具有以下优点: 能够直接固定粗糙度比较样块的样块盒，并可实现径向调整和角度调整，能够一次实现整套样块的校准测量，降低了校准工作的调整工作量，极大提高了校准效率；并且操作简便，固定可靠，数据准确。 【附图说明】 下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明: 图1为本专利技术固定微调装置结构示意图。 图2为本专利技术固定微调装置爆炸示意图。 图中:1.T型键、2.底座、3.位移调节旋钮、4.径向位移调整块、5.角度调节旋钮、6.角度调整块、7.样块盒装夹平台、8.固定螺栓、9.夹紧旋钮、10.调整垫块、11.被测样块套件。 【具体实施方式】 下面对照附图，通过对实施例的描述，对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细的说明。 如图1和图2所示，该粗糙度比较样块校准固定微调装置，包括底座2、径向位移调整块4、角度调整块6、样块盒装夹平台7 ;其中，径向位移调整块4可移动的设在底座2上，实现径向位置调整；角度调整块6可转动的设在径向位移调整块4上，实现角度位置调整，样块盒装夹平台7固定在角度调整块6上，被测样块套件11设置在样块盒中。 底座2的下底面上设有键槽，底座通过T型键I与粗糙度轮廓仪设备平台的T型槽进行配合固定，底座2固定在粗糙度轮廓仪设备平台上，通过底座支撑整个固定微调装置。 径向位移调整块4下部与底座2上部之间通过燕尾槽配合，底座2上设有与径向位移调整块下部螺纹配合的位移调节旋钮3，采用螺旋结构工作原理，旋转位移调节旋钮3可带动径向位移调整块沿燕尾槽轨道平移调节位置；从而实现径向调节位移可达±10mm，在校准过程中，每片样块需要在表面均匀分布测量10组数据，满足测量要求。 径向位移调整块4上部与角度调整块6下部之间通过涡轮蜗杆机构相连。具体为，角度调整块6下部设有凸起，径向位移调整块4上部设有与凸起相对应的凹槽，径向位移调整块上设有角度调节旋钮5，凸起上设有与角度调节旋钮5相适配的涡轮结构。采用涡轮蜗杆工作原理，角度调节范围可达到±20°，实现角度位置调整。 将粗糙度比较样块盒夹紧后，通过角度调节旋钮5进行调节，可以实现一定角度倾斜，因为粗糙度量仪测针相对较短，通过样块的整体角度倾斜，可以更大范围实现测量需求；另外，避免测量过程的干涉现象，从而有效保护粗糙度轮廓仪的测针正常使用。 样块盒装夹平台7通过固定螺栓8夹紧固定在角度调整块7上，样块盒装夹平台7为凹槽结构，凹槽结构的槽壁上设有用于夹紧样块盒的夹紧旋钮9 ;并且，样块盒装夹平台7上设有高度不同的用于支撑样块盒的一组支撑杆。被测样块套件通过样块盒固定在样块盒装夹平台上。 由于不同厂家、不同型号的样块套件大小不一致，可以通过位置调整垫块10放置样块盒装夹平台上进行夹紧前的位置补偿，从而保证所有型号样块套件整体夹紧，满足测量需求。 测量之前，先通过位置调整垫块10和夹紧旋扭9，对被测量样块套件位置进行整体初步调整，夹紧后，再通过径向调节旋钮3和.角度调节旋钮5，调至理想位置，结合粗糙测量仪实现粗糙度比较样块组合的校准。可以实现每次装夹，测量一排样块，极大提高工作效率和数据准确性。 上面结合附图对本专利技术进行了示例性描述，显然本专利技术具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本专利技术的构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本专利技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粗糙度比较样块校准固定微调装置，其特征在于：包括底座、径向位移调整块、角度调整块、样块盒装夹平台，所述径向位移调整块可移动的设在底座上，所述角度调整块可转动的设在径向位移调整块上，所述样块盒装夹平台固定在角度调整块上。

【技术特征摘要】
1.一种粗糙度比较样块校准固定微调装置，其特征在于:包括底座、径向位移调整块、角度调整块、样块盒装夹平台，所述径向位移调整块可移动的设在底座上，所述角度调整块可转动的设在径向位移调整块上，所述样块盒装夹平台固定在角度调整块上。2.如权利要求1所述粗糙度比较样块校准固定微调装置，其特征在于:所述底座通过T型键固定在粗糙度轮廓仪设备平台上。3.如权利要求1所述粗糙度比较样块校准固定微调装置，其特征在于:还包括用于调整被测样块套件位置的调整垫块，所述调整垫块设在样块盒装夹平台上。4.如权利要求1所述粗糙度比较样块校准固定微调装置，其特征在于:所述样块盒装夹平台为凹槽结构，凹槽结构的槽壁上设有用于夹紧样块盒的夹紧旋钮。5.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁国庆，李淳，权茂进，陈平，刘琳，
申请(专利权)人：奇瑞汽车股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34