【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,靶材主体采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽,溅射槽的溅射面中部沿主体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽。本技术与现有平面结构型的溅射面不同的是:本方案设计有溅射槽以适应溅射不同位置,进而提高溅射靶材的使用效率,进一步增加靶材的使用寿命,而且本方案靶材底部不需要采用胶水粘接,使用操作方便,减少靶材体积,降低制造成本。【专利说明】一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材
本技术涉及溅射靶材,尤其是指一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶 材。
技术介绍
磁控溅射的工作原理是指电子在电场E的作用下,在飞向基片过程中与氩原子发 生碰撞,使其电离产生出Ar正离子和新的电子;新电子飞向基片,Ar离子在电场作用下加 速飞向阴极靶,并以高能量轰击靶表面,使靶材发生溅射。在溅射粒子中,中性的靶原子或 分子沉积在基片上形成薄膜,而产生的二次电子会受到电场和磁场作用,产生E电场X B磁 场所指的方向漂移,简称EXB漂移,其运动轨迹近似于一条摆线。若为环形磁场,则电子就 以近似摆线形式在靶表面做圆周运动,它们的运动路径不仅很长,而且被束缚在靠近靶表 面的等离子体区域内,并且在该区域中电离出大量的Ar来轰击靶材,从而实现了高的沉积 速率。随着碰撞次数的增加,二次电子的能量消耗殆尽,逐渐远离靶表面,并在电场E的作 用下最终沉积在基片上。由于该电子的能量很低,传递给基片的能量很小,致使基片温升较 低。为了在低气压下进行高速溅射,必须有效地提高气体的离 ...
【技术保护点】
一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,其特征在于:靶材(1)主体采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽(2),溅射槽(2)的溅射面中部沿主体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽(3);所述的靶材(1)为三段,位于两端的靶材(1)上的溅射槽(2)端部采用弧形结构收尾。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周航锋,贺伟,侍进山,徐博文,李景,李信,陈武,万禄兵,
申请(专利权)人:湖南中好科技有限公司,
类型:新型
国别省市:湖南;43
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