一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材制造技术

技术编号:10671908 阅读:282 留言:0更新日期:2014-11-20 16:23
本实用新型专利技术提供一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,靶材主体采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽,溅射槽的溅射面中部沿主体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽。本实用新型专利技术与现有平面结构型的溅射面不同的是:本方案设计有溅射槽以适应溅射不同位置,进而提高溅射靶材的使用效率,进一步增加靶材的使用寿命,而且本方案靶材底部不需要采用胶水粘接,使用操作方便,减少靶材体积,降低制造成本。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,靶材主体采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽,溅射槽的溅射面中部沿主体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽。本技术与现有平面结构型的溅射面不同的是:本方案设计有溅射槽以适应溅射不同位置,进而提高溅射靶材的使用效率,进一步增加靶材的使用寿命,而且本方案靶材底部不需要采用胶水粘接,使用操作方便,减少靶材体积,降低制造成本。【专利说明】一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材
本技术涉及溅射靶材,尤其是指一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶 材。
技术介绍
磁控溅射的工作原理是指电子在电场E的作用下,在飞向基片过程中与氩原子发 生碰撞,使其电离产生出Ar正离子和新的电子;新电子飞向基片,Ar离子在电场作用下加 速飞向阴极靶,并以高能量轰击靶表面,使靶材发生溅射。在溅射粒子中,中性的靶原子或 分子沉积在基片上形成薄膜,而产生的二次电子会受到电场和磁场作用,产生E电场X B磁 场所指的方向漂移,简称EXB漂移,其运动轨迹近似于一条摆线。若为环形磁场,则电子就 以近似摆线形式在靶表面做圆周运动,它们的运动路径不仅很长,而且被束缚在靠近靶表 面的等离子体区域内,并且在该区域中电离出大量的Ar来轰击靶材,从而实现了高的沉积 速率。随着碰撞次数的增加,二次电子的能量消耗殆尽,逐渐远离靶表面,并在电场E的作 用下最终沉积在基片上。由于该电子的能量很低,传递给基片的能量很小,致使基片温升较 低。为了在低气压下进行高速溅射,必须有效地提高气体的离化率。通过在靶阴极表面引 入磁场,利用磁场对带电粒子的约束来提高等离子体密度以增加溅射率的方法。但现有的 靶材在制作时材料浪费大、溅射效果不佳。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种用于提高磁控溅射镀膜靶 材利用率的结构简单、溅射效果好、制造成本低的靶材。 为实现上述目的,本技术所提供的技术方案为:一种用于提高磁控溅射镀膜 靶材利用率的靶材,靶材主体采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽, 溅射槽的溅射面中部沿主体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸 的定位槽。 所述的靶材为三段,位于两端的靶材上的溅射槽端部采用弧形结构收尾。 本技术与现有平面结构型的溅射面不同的是:本方案设计有溅射槽以适应溅 射不同位置,进而提高溅射靶材的使用效率,进一步增加靶材的使用寿命,而且本方案靶材 底部不需要采用胶水粘接,使用操作方便,减少靶材体积,降低制造成本。 【专利附图】【附图说明】 图1为本技术的整体结构示意图。 图2为本技术靶材底部示意图。 【具体实施方式】 下面结合所有附图对本技术作进一步说明,本技术的较佳实施例为:参 见附图1和附图2,本实施例所述的用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,靶材1主体 采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽2,溅射槽2的溅射面中部沿主 体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽3。本实施例的靶 材1为三段,位于两端的靶材1上的溅射槽2端部采用弧形结构收尾。本实施例通过溅射 槽以适应溅射不同位置,进而提高溅射靶材的使用效率,进一步增加靶材的使用寿命。 以上所述之实施例只为本技术之较佳实施例,并非以此限制本技术的实 施范围,故凡依本技术之形状、原理所作的变化,均应涵盖在本技术的保护范围 内。【权利要求】1. 一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,其特征在于:靶材(1)主体采用多 段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽(2),溅射槽(2)的溅射面中部沿主体 长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽(3);所述的靶材(1) 为三段,位于两端的靶材(1)上的溅射槽(2)端部采用弧形结构收尾。【文档编号】C23C14/35GK203947153SQ201420082877【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年2月26日 优先权日:2014年2月26日 【专利技术者】周航锋, 贺伟, 侍进山, 徐博文, 李景, 李信, 陈武, 万禄兵 申请人:湖南中好科技有限公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于提高磁控溅射镀膜靶材利用率的靶材,其特征在于:靶材(1)主体采用多段组合式结构,组合后的主体顶部设有下凹的溅射槽(2),溅射槽(2)的溅射面中部沿主体长度方向凸起,使溅射面横截面呈W状,主体下端设有凹或凸的定位槽(3);所述的靶材(1)为三段,位于两端的靶材(1)上的溅射槽(2)端部采用弧形结构收尾。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周航锋贺伟侍进山徐博文李景李信陈武万禄兵
申请(专利权)人:湖南中好科技有限公司
类型:新型
国别省市:湖南;43

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