铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置，包括铁基体缺陷、测量辅助片和磁场发射装置；铁基体缺陷上端面有凹槽，测量输助片中部开有通孔，磁场发射装置由弹力测试件、螺旋线圈、铁芯和触发头构成，螺旋线圈套在铁芯上，弹力测试件一端与铁芯一端相连或相触，铁芯另一端为触发头。优点：提出新型测量方法（比差法）对其缺陷深度进行精确测量，其检测精度可达到±30um。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置，包括铁基体缺陷、测量辅助片和磁场发射装置；铁基体缺陷上端面有凹槽，测量输助片中部开有通孔，磁场发射装置由弹力测试件、螺旋线圈、铁芯和触发头构成，螺旋线圈套在铁芯上，弹力测试件一端与铁芯一端相连或相触，铁芯另一端为触发头。优点：提出新型测量方法（比差法）对其缺陷深度进行精确测量，其检测精度可达到±30um。【专利说明】铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置
本技术涉及一种借用磁吸法测涂覆测厚度原理，用比差法的数学方法消除不 确定度、粗糙度、外在因素和不确定度的干扰，引入磁阻抗与铁基体相差较大的介质，用测 量调整片使其达到测量微小缺陷深度功能的铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装 置，属钢轨表面开口性微缺陷的深度测量装置制造领域。
技术介绍
现有对铁磁性材料的深度测量有机械法、超声法等。机械法：利用深度游标卡尺的 原理来测量，但是对于微小缺陷的测量，要求测量端面积小于0. 5mm2,测量基准误差大，只 适用于缺陷开口大于〇. 8 mm2,深度较大，基准面光滑平整的缺陷。超声波法：利用超声波反 射原理测量，但是该方法只适用于长远距离测量，而且误差在5mm以上，不能满足微小缺陷 的测量。
技术实现思路
设计目的：避免
技术介绍
中的不足之处，设计一种借用磁吸法测涂覆测厚度原理， 用比差法的数学方法消除不确定度、粗糙度、外在因素和不确定度的干扰，引入磁阻抗与铁 基体相差较大的介质，用测量调整片使其达到测量微小缺陷深度功能的铁磁性材料表面开 口性微缺陷的深度测量装置。 设计方案：本技术利用磁吸法的原理，配合现代电子测量技术，利用加入磁介 质和磁粉的方法，并利用的比差法的数学手段，解决的该测量问题。在道岔制造过程中常常 会出现钢轨表面材质缺陷，依据《客运专线60Kg/m钢轨暂行技术条件》4. 10. 3在热状态下 形成的钢轨纵向导位板刮伤、磨痕、热刮伤、纵向线纹、折迭、氧化皮压入、乳痕等的最大允 许深度：钢轨踏面< 〇. 35mm、钢轨其它部位< 0. 5mm为界限判定该缺陷是否影响钢轨继续 使用。该缺陷产生的原因一般是由于钢厂热轧制或道岔制造过程中压型所造成的，表面通 常会有很薄的氧化膜且不易剥离，肉眼可见但对其深度的准确测量至今未找到有效而适用 的方法，本技术正是为了解决该问题二设计的。 利用磁铁与铁磁材料之间发生作用时，磁通量不同，产生的力不同来实现测量的， 所以这注定了它只能测量铁基体材料且测量范围狭小。该方法对磁源与铁基体材料之间的 介质的磁阻抗有严格的要求。根据其原理与现代电子技术相结合，可用于精确测量微缺陷 的深度。本技术用该原理，用比差法的数学方法消除不确定度、粗糙度、外在因素和不 确定度的干扰，引入磁阻抗与铁基体相差较大的耦合剂，在耦合剂中加入磁介质补偿调节 磁场，用厚度适合的测量调整片使其达到测量微小缺陷深度的目的。 技术方案：一种铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置，包括铁基体缺陷、 测量辅助片和磁场发射装置；铁基体缺陷上端面有凹槽，测量输助片中部开有通孔，磁场发 射装置由弹力测试件、螺旋线圈、铁芯和触发头构成，螺旋线圈套在铁芯上，弹力测试件一 端与铁芯一端相连或相触，铁芯另一端为触发头。 本技术与
技术介绍
相比，现有的国标、铁标要求铁质材料表面缺陷不得超过 一定数值，但现有的测量方法无法对开口性缺陷精确测量，现针对这一问题，提出可行的测 量方法，现对于这一方法进行理论论证、提出新型测量方法（比差法）对其缺陷深度进行精 确测量，其检测精度可达到±30um。 【专利附图】【附图说明】 图1是铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置结构示意图。 图2是铁基体缺陷的剖视结构示意图。 图3是测量辅助片的剖视结构示意图。 图4是铁基体的局部结构不意图中用于测量L1。 图5是铁基体的局部结构不意图中用于测量L2。 图6是磁场发射装置的结构示意图。 图7是图1应用结构示意图。 【具体实施方式】 实施例1 :参照附图1-7。一种铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置，包 括铁基体缺陷1、测量辅助片2和磁场发射装置3 ;铁基体缺陷1上端面有凹槽，测量输助片 2中部开有通孔，磁场发射装置3由弹力测试件31、螺旋线圈32、铁芯33和触发头34构成， 螺旋线圈32套在铁芯33上，弹力测试件31 -端与铁芯33 -端相连或相触，铁芯33另一 端为触发头34。所述弹力测试件31为弹簧或弹性测量传感器。测量辅助片2位于铁基体 缺陷1上端面的凹槽上且测量辅助片2中通孔与铁基体缺陷1上端面的凹槽相对，液态磁 耦合剂介质和磁粉位于铁基体缺陷1上端面的凹槽和测量辅助片2中通孔内。所述液态磁 耦合剂介质为液压油。每升耦合剂介质中加入2g磁粉。 其铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量方法，如图1-3所示，1铁基体缺陷、 2测量辅助片、3磁场发射装置。 设：磁吸法测量值分别为Cl、C2 ;不确定度影响为Λ 1 ;外在因素干扰为Λ 2 ;粗 糙度影响Λ 3;缺陷深度X。其他距离如各图所示。 第一步：如图4所示，在该铁基体非缺陷面上测量其L1值。 Η > Τ (略大于）影响测量范围 L1=C1-A 1-Δ2-Δ3 (1) 第二步：如图5所示，测量L2值。 采用同第一步骤相同的铁基体缺陷、磁场发射装置、测量辅助垫片。 Η > T (略大于） L2=C2-A 1-Δ2-Δ3 (2) 由图可见：X=L2_L1 (3) 把（1)、（2)两式代入（3)式得： X=C2-C1 (4) 由于同环境、同人操作、同样设备，所以Λ1、Λ2、Λ3第一次测量与第二次测量为 同数值。 论证测量数（Cl、C2)的正确性：根据磁吸法测厚原理 设：R为螺旋线圈半径、I为线圈中的电流、u。为真空中的介电常数、X为线圈中轴 线上距离线圈的距离、B为磁感应强度、B'为放入铁磁性材料后的附加磁感应强度、B。为没 有磁介质时的磁感应强度、μ,为不同介质的磁导率、n为线圈匝数。 Β= Β0+ Β' (5) Β0=μ。IR2 / 2 (R2+X2 ) (6) 铁磁性材料h在18000左右，μ。为4 π X 10 #。铁磁性材料B'远大于B。，一般 B'/B。在几百至几千范围内，所以（6)式中通电线圈所产生的磁感应强度B。可忽略不计。 Β ^ B' (7) 在不考虑线圈漏磁场和铁心漏磁场的情况下，触发头作为磁极一端，则有下列推 导： 绝对磁导率 μ^μ。XPr (8) 铁磁心触发头与铁基体之间的吸引力F=B2S/2P。（9) μ=Η/Β (10) Η为铁磁材料的磁感应磁场强度、Rm为触发头与铁基体之间介质的磁阻、L为触发 头与铁基体之间的距离(磁路的有效长度)。（图5、图6中L1与L2值)、S为触发头的横截 面积； Rm=L/^S (11) 将（10)式代入（11)式得： B=HL/RmS (12) 将式（12)代入（9)式得： F=H2 S3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种铁磁性材料表面开口性微缺陷的深度测量装置，其特征是包括铁基体缺陷(1)、测量辅助片(2)和磁场发射装置(3)；铁基体缺陷(1)上端面有凹槽，测量输助片(2)中部开有通孔，磁场发射装置(3)由弹力测试件(31)、螺旋线圈(32)、铁芯(33)和触发头(34)构成，螺旋线圈(32)套在铁芯(33)上，弹力测试件(31)一端与铁芯(33)一端相连或相触，铁芯(33)另一端为触发头(34)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：姚棋，职涛，
申请(专利权)人：中铁宝桥南京有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32