【技术实现步骤摘要】
—种用于芯片测试的接口盒系统
本技术涉及半导体芯片测试领域，特别涉及一种用于芯片测试的接口盒系统。
技术介绍
目前对半导体芯片进行测试时，通过人工连线将芯片(二极管芯片、MOS管芯片等)的相应引脚与测试仪器连接，再使用测试仪器对芯片的各种电性能参数进行测试记录，人工接线复杂易出错，且测试效率低下。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种接线简单、测试效率高的用于芯片测试的接口盒系统。为了实现上述专利技术目的，本技术采用的技术方案是:一种用于芯片测试的接口盒系统，包括用于安装待测芯片的盒体，所述盒体与测试仪器电连接；其中所述盒体上设有至少一个插座，所述至少一个插座具有容纳夹持待测芯片载板的凹口，所述凹口内对称两侧面分别均匀间隔设有与待测芯片载板的针脚相接触的多个探针，所述盒体上还设有与所述测试仪器连接的接口，所述插座的凹口内的多个探针分别通过导线与所述盒体上的接口电连接。优选的，所述插座有两个，对称设置在所述盒体上表面。本技术工作过程:将多个待测芯片安装于芯片载板上，将芯片载板插入盒体上所述插座的凹口内，通过接口连接线将该测试接口盒与测试仪器插接实现连接，之后通过测试仪器对待测芯片进行测试记录测试结果，可对芯片进行统一集成批次测试，可同时测试多个芯片，效率大大提高。与现有技术相比，本技术的有益效果:本技术系统可直接插接连接芯片测试接口盒与测试仪器，接线简单不易出错，同时利用盒体上设置的多个插座可对芯片进行统一集成批次测试，可同时测试多个芯片，测试效率大大提闻。【附图说明】:图1是本技术的用于芯片测试的接口盒的示意图。【具体实施...
【技术保护点】
一种用于芯片测试的接口盒系统，其特征在于，包括用于安装待测芯片的盒体，所述盒体与测试仪器电连接；其中所述盒体上设有至少一个插座，所述至少一个插座具有容纳夹持待测芯片载板的凹口，所述凹口内对称两侧面分别均匀间隔设有与待测芯片载板的针脚相接触的多个探针，所述盒体上还设有与所述测试仪器连接的接口，所述插座的凹口内的多个探针分别通过导线与所述盒体上的接口电连接。
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的接口盒系统，其特征在于，包括用于安装待测芯片的盒体，所述盒体与测试仪器电连接；其中所述盒体上设有至少一个插座，所述至少一个插座具有容纳夹持待测芯片载板的凹口，所述凹口内对称两侧面分别均匀间隔设有与待测芯片载板的...
【专利技术属性】
技术研发人员：周维树，柳虎，邱勇，
申请(专利权)人：成都先进功率半导体股份有限公司，乐山无线电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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