光学记录介质基板及其制造方法、光学记录介质技术

本发明专利技术提供了光学记录介质基板及其制造方法、光学记录介质。其中，该光学记录介质基板，包括平均分子量在15000至16000的范围内且25℃下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内的聚碳酸酯。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了光学记录介质基板及其制造方法、光学记录介质。其中，该光学记录介质基板，包括平均分子量在15000至16000的范围内且25℃下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内的聚碳酸酯。【专利说明】光学记录介质基板及其制造方法、光学记录介质相关申请的交叉引用本申请要求2012年11月15日提交的日本在先专利申请JP 2012至251413的权益，该专利申请的全部内容通过引用并入本文。
本专利技术涉及一种减少翘曲的光学记录介质基板、利用该光学记录介质基板的光学记录介质以及光学记录介质基板的制造方法。
技术介绍
光学记录介质作为用于提供软件(包括音乐、视频等)的介质是非常优异的，且由于操作方便、批量生产简单、制造成本降低等而在广泛的领域中变得普遍。另外，正在改善光学记录介质的高密度，与现有技术的压缩光盘(CD)和数字通用光盘(DVD)等相比，实现相当高的容量的蓝光光盘(注册商标)等已经变得普遍。当这些光学记录介质翘曲时，难以展示出良好的再现特性。这是因为光斑中出现了像差。在日本未经审查的专利申请公开第2009至271970中，公开了层压由具有预定特性的活化能量线固化树脂(active energy line curable resin)形成的光学传输层(透明覆盖层)以抑制光学记录介质(尤其是蓝光光盘)翘曲的技术。
技术实现思路
顺便提及，在现有技术的光学记录介质没有足够的刚性且例如光学记录介质以其两端(中心介入在其间)插入存储盒的保持沟槽中的水平状态下被存储很长一段时间时，可能会发生翘曲并且难以展示出良好的再现特性。在存储于高温环境时，这种情况可以被明显示出。这是缩短光学记录介质寿命的一个因素。如果可以减少以这种水平状态存储的光学记录介质的翘曲，则这将大大有助于长期保存光学记录介质。期望提供一种长寿命的光学记录介质基板，其即使当光学记录介质在正常温度或高温环境下以水平状态被长时间存放时，也可减少翘曲且具有良好的再现特性，以及使用该光学记录介质基板的光学记录介质。根据本专利技术的一个实施方式，提供了一种光学记录介质基板，包括:平均分子量在15000至16000的范围内且25°C下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内的聚碳酸酯。根据本专利技术的另一个实施方式，提供了一种光学记录介质，包括:光学记录介质基板，所述光学记录介质基板是平均分子量在15000至16000的范围内且25°C下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内的聚碳酸酯。进一步地，根据本专利技术的又一实施方式，提供了一种光学记录介质基板的制造方法，包括:在模具中填充并注塑成型平均分子量在15000至16000的范围内的聚碳酸酯；以及在所述模具中进行冷却达6秒以上。由此，确保了光学记录介质的高刚性。根据本专利技术的一个或多个实施方式，即使光学记录介质存放很长一段时间的情况下，也可抑制由于自身重量导致的翘曲，进而记录在光学记录介质上的音乐、视频等可以在良好的状态下再现。另外，即使在光学记录介质存放在高温环境时，也可以抑制由于其自身重量导致的翘曲且类似获得良好的再现特性。【专利附图】【附图说明】图1是实施方式的光学记录介质的层结构的说明图；图2是示出了测量光学记录介质基板的密度的方法的示图；图3是示出了当记录介质保持在水平状态下时的形状变化的示图；图4是示出了当以水平状态存放时光学记录介质的翘曲的测量结果的示图；图5是示出了光学记录介质基板的密度与翘曲之间的关系的示图；以及图6是示出了光学记录介质基板的注塑成型的冷却时间与密度之间的关系的示图。【具体实施方式】 下文中，将参照附图详细描述本专利技术的优选实施方式。要注意的是，在该说明书和附图中，具有大致相同功能和结构的结构元件用相同参考标号表示，并省略对这些结构元件的重复阐述。下文中，将按以下顺序描述本专利技术的内容。【1.光学记录介质的结构】【2.制造方法】【3.密度测量方法】【4.实验结果】【5.结论】下文中，将参照图1描述根据实施方式的光学记录介质、光学记录介质基板以及光学记录介质基板的制造方法。本专利技术的技术适用于这里描述的光学记录介质基板且适用于使用该光学记录介质基板的光学记录介质。本专利技术包括蓝光光盘作为光学记录介质的实例、蓝光光盘基板作为光学记录介质基板的实例以及蓝光光盘基板的制造方法作为光学记录介质基板的制造方法的实例，如下文所述。本专利技术的应用范围不限于充当蓝光光盘的光学记录介质、蓝光光盘基板以及蓝光光盘基板的制造方法，并且例如可以广泛适用于各种光学记录介质比如CD和DVD、各种光学记录介质的基板以及各种光学记录介质的基板的制造方法。【1.光学记录介质的结构】在图1中，包括蓝光光盘(光学记录介质I)的层结构的实例。图1中的A示出了光学记录介质I的层结构，其中所谓的记录层5是单层。光学记录介质I具有光学记录介质基板4，在该光学记录介质基板的一侧上形成有记录层5。使用聚碳酸酯作为光学记录介质基板4。在聚碳酸酯中，平均分子量在15000至16000的范围内且25°C下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内。记录层5被形成为凹/凸形状，作为包括凹坑和间隔的凹坑阵列图案。光学记录介质基板4例如形成有大约1.1mm的厚度。形成用于反射激光9的反射膜6，以便在光学记录介质基板4的记录层5具有凹坑阵列图案的一侧再现。反射膜6中与记录层5相对的一侧充当激光9的入射面，光被物镜14收集在该入射面上。虽然银、银合金、铝或铝合金通常被用作反射膜6，但本专利技术不限于此，因为只要可以有效地反射405nm (其是再现激光的波长)的光就可满足该功能。具有均匀优良的表面平滑度的透明覆盖层7形成在反射膜6中的激光9的入射面侦牝该入射面侧即是信息读出表面侧。进一步地，充当保护层的硬涂层8形成在透明覆盖层7的表面侧上，该表面侧即是激光9入射到其上的那一侧。在这种情况下，虽然保护层由透明覆盖层7和硬涂层8形成，但透明覆盖层7和硬涂层8的总厚度例如变为95 μ m至105 μ m。虽然不特别规定透明覆盖层7与硬涂层8之t:匕，但硬涂层8的厚度通常为1.5 μ m至5 μ m。另外，当从光学记录介质基板4的激光9的入射侧观察时，相对侧的表面(所谓的标签表面)被形成为印刷侧3，用于展示光学记录介质I的内容的标签印刷操作在该印刷侧3上执行。可能不需要形成硬涂层8。例如，当获得通过透明覆盖层7的表面保护功能时，可以考虑没有形成硬涂层8的实例。可以通过省略硬涂层8的形成来简化光盘制造工艺。在蓝光光盘中，具有两个记录层10和12的两层光盘结构同样被标准化。在图1的B中，示出了两层光学记录介质2的层结构。如图1的B所示，光学记录介质基板4被设置在光学记录介质I中。如上所述，聚碳酸酯用作光学记录介质基板4。在聚碳酸酯中，平均分子量在15000至16000的范围内且25°C下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内。在光学记录介质基板4的激光9的入射表面侧，形成中间层11介于其间的第一记录层10和第二记录层12。第一记录层10和第二记录层12形成为凹/凸形状，作为包括凹坑和间隔的凹坑阵列图案。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学记录介质基板：所述光学记录介质基板是平均分子量在15000至16000的范围内且25℃下的单位体积质量在1.1930g/cm3至1.2000g/cm3的范围内的聚碳酸酯。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：中山比吕史，竹本宏之，菊地稔，松浦穗，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：