本申请提供了一种基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质；涉及集成电路测试技术领域。方法包括：将与待测的IO通道单元连接的通道开关闭合，控制其余通道开关保持断开；分别在待测的IO通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流、大小...

本发明公开了光通信系统、数据处理方法及存储介质，光通信系统包括：上位机，包括光通信卡，光通信卡用于将接收到的目标数据转换为电信号，并将电信号转换为光通信号；测试机，与上位机通信连接以接收上位机发送的光通信号，测试机包括光电转换模块以及至...

本发明公开了一种ATE设备及其芯片测试方法、电子设备、存储介质，涉及芯片测试技术领域。基于ATE设备的芯片测试方法包括以下步骤：上位机发送测试向量和滤波档位信息给控制单元；根据测试向量，控制单元控制测试芯片产生激励信号，并将激励信号发送...

本申请公开了基于辅助系统的芯片测试方法

本发明提供一种基于ATE的四象限电源电路及四象限电源，包括数模转换器、反馈补偿模块、输出调节模块和负载输出端，数模转换器设置有多个输出通道；反馈补偿模块包括第一运算放大器，第一运算放大器的第一同相端与第二输出通道连接，第一运算放大器的第...

本发明公开了基于ATE设备的多板卡FPGA升级方法、系统及存储介质，包括：通过控制板获取第一秘钥，并对第一秘钥进行验证，当验证通过，开放对应的多个功能板的FPGA的FLASH写入权限；根据更新标志位判断FPGA的FLASH中是否存在待更...

本发明公开了一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法，包括上位机、万用笔、检测校准模块及ATE测试设备，ATE测试设备包括测试资源板卡，测试资源板卡包括FPGA、数字通道或电源通道，上位机与ATE测试设备及万用笔连接，检测校准模...

本发明提出了一种模拟芯片测试分选机的通信测试方法、系统、存储介质，该方法包括：通过目标模拟进程生成目标测试参数并部署在目标共享文件，向ATE控制进程发送测试启动指令；ATE控制进程从目标共享文件获取目标测试参数并发送至ATE测试设备进行...

本申请公开了一种测试机与分选机的通讯系统、方法、装置和存储介质，本申请的系统包括：通讯装置、上位机、分选机；所述通讯装置包括USB转UART电路、UART转TTL信号电路、分选机传输信号去抖和锁存处理电路；所述上位机将分选机参数通过US...

本发明提供了一种基于前置条件的Shmoo测试方法、装置、上位机、存储介质，方法包括：获取测试工位信息、Shmoo测试位置信息和Shmoo测试参数；确定ATE测试机的可用工位，根据测试工位信息从可用工位中确定目标工位；获取记载有多个功能测...

本发明公开了一种直流参数测试系统及方法。系统包括：上位机，用于采用数据压缩算法生成第一参数并下发给TMU控制板，用于将第二测试结果映射到各个测试通道对应的内存中；TMU控制板，用于根据第一数据格式解析第一参数得到第二参数，用于读取第一测...

本申请实施例提供一种信号处理方法及其装置、计算机设备、存储介质，属于自动化测试设备技术领域，所述方法包括：生成波形信号；生成电压信号；确定发送通道；根据所述波形信号的开始标志确定使能信号的状态；根据所述使能信号的状态确定待发送的目标信号...

本发明实施例提供错误信息记录方法和装置、电子设备、存储介质，涉及芯片自动化测试设备技术领域。该方法包括若干数字板卡、主控制卡和内存，首先创建并运行测试向量，生成通道数据，主控制卡控制数字板卡根据预设规则标记错误数据和对应工位信息，形成第...

本发明公开了基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法及系统，该方法包括：设置于ATE测试机的传输硬件端，接收上位机根据测试内容生成的第一交互请求包，从第一交互请求包中解析出第一交互类型以及第一数量；传输硬件端根据第一交互类型确定第一传输...

本实用新型公开了一种芯片测试设备，包括：基座；测试机体，转动连接在基座上，测试机体包括外框架和设置在外框架内的电源组件、测试板卡和载荷板，电源组件、测试板卡和载荷板之间电性连接，外框架包括若干支承立柱，支承立柱上设有竖向设置的若干安装孔...

本实用新型公开了一种带止转结构的旋转组件，包括：支座；旋转机构，设置在所述支座上，包括转动基座和转动连接在所述转动基座上的转轴；止转结构，包括设置在所述转轴端部的止转端盖，所述止转端盖上设有止转凸块，所述止转凸块上设有止转件，所述转动基...