基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质技术方案

本申请提供了一种基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质；涉及集成电路测试技术领域。方法包括：将与待测的IO通道单元连接的通道开关闭合，控制其余通道开关保持断开；分别在待测的IO通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流、大小为第二预设理论值的灌电流并分别获取检测的第一电压、第二电压；根据第一电压、第二电压、第一预设理论值、第二预设理论值、精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率、初始DAC值进行计算得到增益值、偏置值、DAC校准值；当校准误差小于或等于预设误差阈值，将增益值和偏置值保存至数据库。能提高对动态负载的校准效率和校准精度，从而提高ATE设备测试被测芯片时的准确性和测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及集成电路测试，尤其是一种基于ate设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质。

技术介绍

1、在集成电路测试中，ate设备（automatic test equipment，芯片自动化测试机）测量功能的完整性和精度影响着芯片测试的质量。ate设备通常有多块数字测试板卡，使得其内部的io通道单元多达上百个。在利用ate设备进行芯片测试时，大多采用pmu的方式对被测芯片的管脚的驱动能力进行测试，这种测试效率不高。基于此，需要采用动态负载测试以提高测试效率。但在利用动态负载测量被测芯片的驱动电流时，需保证ate设备的负载电流大小的精度，从而才能精准地测量出被测芯片的管脚驱动能力。因此，在对集成电路进行规模测试前，需要对ate设备的引脚电子（pin electronics，pe）芯片中的动态负载部分进行校准。

2、相关技术中，大多数采用多点采样进行校准，校准时间长，校准效率低；对于使用pe芯片自带的6bit的动态负载增益校准寄存器和8bit的偏置校准寄存器，dac分辨率较低，导致校准精度较低；难以保障ate设备测量被测芯片的管脚驱动能力时的准确本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于ATE设备的动态负载校准方法，其特征在于，应用于动态负载校准系统的上位机；所述动态负载校准系统还包括：与所述上位机通信连接的ATE设备、测量校准模块和数据库；其中，所述ATE设备包括：多块数字通道板；每块所述数字通道板包括：多个引脚电子芯片、多个通道开关；每个所述引脚电子芯片包括：两个待测的IO通道单元；每个所述通道开关对应地连接在一个所述IO通道单元与所述测量校准模块之间；所述测量校准模块包括：并联的测量单元和精密电阻；

2.根据权利要求1所述的基于ATE设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述增益值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所...

【技术特征摘要】

1.一种基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，应用于动态负载校准系统的上位机；所述动态负载校准系统还包括：与所述上位机通信连接的ate设备、测量校准模块和数据库；其中，所述ate设备包括：多块数字通道板；每块所述数字通道板包括：多个引脚电子芯片、多个通道开关；每个所述引脚电子芯片包括：两个待测的io通道单元；每个所述通道开关对应地连接在一个所述io通道单元与所述测量校准模块之间；所述测量校准模块包括：并联的测量单元和精密电阻；

2.根据权利要求1所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述增益值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：

3.根据权利要求2所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述偏置值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：

4.根据权利要求1所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，所述预设校准公式为：

5.根据权利要求1所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，所述得到校准误差之后，所述方法还包括：

6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄程，
申请(专利权)人：珠海芯业测控有限公司，
类型：发明
国别省市：