基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法及系统，该方法包括：设置于ATE测试机的传输硬件端，接收上位机根据测试内容生成的第一交互请求包，从第一交互请求包中解析出第一交互类型以及第一数量；传输硬件端根据第一交互类型确定第一传输指令类型，接收第一数量的第一访问地址；传输硬件端通过第一传输指令类型，根据第一访问地址对设置于ATE测试机上的多个功能板卡执行相应的寄存器访问，并根据第一数量判断功能板卡的寄存器访问操作是否完成。本发明专利技术一次可以对多个功能板卡上的真实的寄存器地址进行寻址，通过减少交互频度，有效地缩短测试时间，提高了生产效率。提高了生产效率。提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法及系统


[0001]本专利技术涉及ATE测试的
，特别涉及一种基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法及系统。

技术介绍

[0002]在ATE(Automatic Test Equipment，集成电路自动测试机)对芯片的测试过程中，ATE测试机分别与上位机及待测板卡连接。上位机发送测试指令给ATE测试机，ATE测试机通过功能板卡对待测板卡进行测试。在测试过程中，当ATE测试机连接有多功能板卡时，上位机需要耗费大量时间依次与各个功能板卡进行交互以获取数据，导致测试时间延长，生产效率不高。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，能够有效缩短测试时间，提高生产效率。
[0004]本专利技术还提出一种具有上述基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问系统。
[0005]根据本专利技术的第一方面实施例的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，包括以下步骤：设置于ATE测试机的传输硬件端，接收上位机根据测试内容生成的第一交互请求包，从所述第一交互请求包中解析出第一交互类型以及第一数量；所述传输硬件端根据所述第一交互类型确定第一传输指令类型，接收所述第一数量的第一访问地址；所述传输硬件端通过所述第一传输指令类型，根据所述第一访问地址对设置于ATE测试机上的多个功能板卡执行相应的寄存器访问，并根据所述第一数量判断所述功能板卡的寄存器访问操作是否完成。
[0006]根据本专利技术实施例的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，至少具有如下有益效果：通过在一次交互请求中包括多个访问数量，可以在多资源多功能板卡的ATE测试机上，一次对多个功能板卡上的真实的寄存器地址进行寻址，通过减少交互频度，有效地缩短测试时间，提高了生产效率。
[0007]根据本专利技术的一些实施例，所述第一交互类型为寄存器写时，所述传输硬件端接收所述第一数量的待写数据，按照接收到的所述第一访问地址的顺序，将所述第一数量的待写数据写入多个所述功能板卡相应的寄存器中。
[0008]根据本专利技术的一些实施例，所述第一交互类型为寄存器读时，所述传输硬件端按照接收到的所述第一访问地址的顺序，从多个所述功能板卡相应的寄存器中读取数据，生成交互响应包返回给所述上位机，以使所述上位机从所述交互响应包中还原所述第一数量的预设长度的寄存器值。
[0009]根据本专利技术的一些实施例，所述第一访问地址包括所述功能板卡的地址以及寄存器地址。
[0010]根据本专利技术的一些实施例，所述功能板卡的地址的编码格式为独热码。
[0011]根据本专利技术的一些实施例，所述功能板卡通过触发器FF存储的方式对寄存器的数据进行存储。
[0012]根据本专利技术的一些实施例，还包括：所述传输硬件端接收所述上位机根据测试内容生成的第二交互请求包，从所述第二交互请求包中解析出第二交互类型、第二数据长度以及第二访问地址；所述传输硬件端根据所述第二交互类型确定第二传输指令类型，根据所述第二访问地址及所述第二数据长度对单个功能板卡的内存进行访问。
[0013]根据本专利技术的第二方面实施例的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问系统，包括：上位机，用于根据测试内容生成的第一交互请求包，所述第一交互请求包中包括：第一交互类型、第一数量以及第一数量的第一访问地址；ATE测试机，所述ATE测试机上设置有传输硬件端及多个功能板卡；所述传输硬件端与所述上位机连接，用于接收所述第一交互请求包，通过所述第一交互类型确定第一传输指令类型，根据所述第一访问地址对多个所述功能板卡执行相应的寄存器访问，并根据所述第一数量判断多个所述功能板卡的寄存器访问操作是否完成。
[0014]根据本专利技术实施例的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问系统，至少具有如下有益效果：通过在一次交互请求中包括多个访问数量，可以在多资源多功能板卡的ATE测试机上，一次对多个功能板卡上的真实的寄存器地址进行寻址，通过减少交互频度，有效地缩短测试时间，提高了生产效率。
[0015]根据本专利技术的一些实施例，所述传输硬件端通过USB方式与所述上位机连接。
[0016]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0017]本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0018]图1为本专利技术实施例的方法的流程示意图；
[0019]图2为本专利技术实施例的方法中上位机的数据帧结构示例；
[0020]图3为本专利技术实施例的方法中上位机对数据的处理流程示意图；
[0021]图4为本专利技术实施例的方法中传输硬件端对指令的处理流程示意图；
[0022]图5为本专利技术实施例的系统的连接示意框图。
[0023]附图标记：
[0024]上位机100、ATE测试机200、传输硬件端210、功能板卡220。
具体实施方式
[0025]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0026]在本专利技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个及两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到
第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。在本专利技术的描述中，步骤标号仅是为了描述的方便或者引述的方便所作出的标识，各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本专利技术实施例的实施过程构成任何限定。
[0027]参照图1，本专利技术的实施例的方法包括：设置于ATE测试机的传输硬件端，接收上位机根据测试内容生成的第一交互请求包，从第一交互请求包中解析出第一交互类型以及第一数量；传输硬件端根据第一交互类型确定第一传输指令类型，接收第一数量的第一访问地址；传输硬件端通过第一传输指令类型，根据第一访问地址对设置于ATE测试机上的多个功能板卡执行相应的寄存器访问，并根据第一数量判断功能板卡的寄存器访问操作是否完成。
[0028]本专利技术的实施例中，上位机根据测试内容对寄存器的读写需求，例如读取测试数据或者操控通道输入输出等，生成对应的数据帧。其中，数据帧包括第一交互请求包(对应于对功能板卡的寄存器访问)及第二交互请求包(对应于功能板卡的内存访问)。上位机发送的数据帧的一个实施例，如图2所示。对于寄存器写，数据帧的内容包括：交互类型(或称指令码)、操作的寄存器数量、地址(功能板卡地址和寄存器地址)及数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，其特征在于，包括以下步骤：设置于ATE测试机的传输硬件端，接收上位机根据测试内容生成的第一交互请求包，从所述第一交互请求包中解析出第一交互类型以及第一数量；所述传输硬件端根据所述第一交互类型确定第一传输指令类型，接收所述第一数量的第一访问地址；所述传输硬件端通过所述第一传输指令类型，根据所述第一访问地址对设置于ATE测试机上的多个功能板卡执行相应的寄存器访问，并根据所述第一数量判断所述功能板卡的寄存器访问操作是否完成。2.根据权利要求1所述的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，其特征在于，所述第一交互类型为寄存器写时，所述传输硬件端接收所述第一数量的待写数据，按照接收到的所述第一访问地址的顺序，将所述第一数量的待写数据写入多个所述功能板卡相应的寄存器中。3.根据权利要求1所述的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，其特征在于，所述第一交互类型为寄存器读时，所述传输硬件端按照接收到的所述第一访问地址的顺序，从多个所述功能板卡相应的寄存器中读取数据，生成交互响应包返回给所述上位机，以使所述上位机从所述交互响应包中还原所述第一数量的预设长度的寄存器值。4.根据权利要求1所述的基于ATE测试机的多个功能板卡的访问方法，其特征在于，所述第一访问地址包括所述功能板卡的地址以及寄存器地址。5.根据权利要求4所述的基于ATE测试机的多个功能...

【专利技术属性】
技术研发人员：张华赞，庞贤明，吴春诚，赵世伟，石敬龙，
申请(专利权)人：珠海芯业测控有限公司，
类型：发明
国别省市：