【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，尤其是涉及一种ate设备及其芯片测试方法、电子设备、存储介质。
技术介绍
1、在芯片的测试过程中，由于外围电路等多方面影响，芯片输出的波形有方波、正弦波、三角波等各种各样波形，难以正确测量其输出的波形的频率。传统的频率测试方法是给芯片输入对应的激励信号，让芯片进入相应的测试模式下，输出特定频率的波形，然后对芯片输出的波形进行采样，在一定时间t内，抓取到芯片信号上升沿个数n，通过计算得出输出频率为f=n/t；但是，面对复杂的测试环境，芯片输出来的波形存在反射、振荡、上升沿变缓等各种异常情况，被测波形不是标准的方波，故设备抓取上升沿个数的值时存在误差，从而导致测量频率偏差过大。而且，传统的频率测试方法，往往不能测量出与频率相关的其他参数，例如占空比、频率的高电平持续时间和低电平持续时间等，满足不了芯片日益的复杂测试要求。
技术实现思路
1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出了一种ate设备及其芯片测试方法、电子设备、存储介质，能够提高测试精度，满足芯片的测试要求。
2、一方面，根据本专利技术实施例的基于ate设备的芯片测试方法，所述ate设备包括测试芯片、控制单元和时钟源，所述控制单元与上位机、所述测试芯片及所述时钟源电连接，所述测试芯片与待测芯片电连接；所述方法包括：
3、所述上位机发送测试向量和滤波档位信息给所述控制单元；
4、根据所述测试向量，所述控制单元控制所述测试芯片产生激励信号
5、根据所述激励信号，所述待测芯片输出待测信号；
6、所述ate设备通过第一测试模式或第二测试模式对所述待测信号进行测试；
7、所述第一测试模式包括：
8、所述测试芯片识别所述待测信号的上升沿，并生成第一反馈信号；
9、所述控制单元根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第一反馈信号进行滤波；
10、所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第一反馈信号，计算所述待测信号在预设时间内的上升沿个数，进而计算得到所述待测信号的频率；
11、所述第二测试模式包括：
12、所述测试芯片识别所述待测信号的翻转沿，并生成第二反馈信号；
13、所述控制单元根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第二反馈信号进行滤波；
14、所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第二反馈信号，计算所述待测信号在一个周期内的高电平持续时间和低电平持续时间，并根据所述高电平持续时间和所述低电平持续时间，计算得到所述待测信号的频率和占空比。
15、根据本专利技术的一些实施例，所述控制单元包括fpga芯片，所述fpga芯片包括处理单元、计算单元和寄存器；所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第二反馈信号，计算所述待测信号在一个周期内的高电平持续时间和低电平持续时间，并根据所述高电平持续时间和所述低电平持续时间，计算得到所述待测信号的频率和占空比，具体包括：
16、对所述寄存器进行清零；
17、所述处理单元根据所述测试向量，控制所述计算单元开始进行计时；
18、所述计算单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第二反馈信号，对所述待测信号在一个周期内的高电平和低电平进行计时，并通过所述寄存器存储计时结果，得到所述高电平持续时间和所述低电平持续时间；
19、对所述高电平持续时间和所述低电平持续时间求和后取倒数，得到所述待测信号的频率；
20、计算所述高电平持续时间与所述低电平持续时间的比值，得到所述待测信号的占空比。
21、根据本专利技术的一些实施例，所述测试芯片识别所述待测信号的翻转沿，并生成第二反馈信号，具体包括：
22、所述测试芯片设定高电平阈值和低电平阈值；
23、根据所述高电平阈值和低电平阈值，所述测试芯片识别所述待测信号的高电平和低电平；
24、根据所述待测信号的高电平和低电平，所述待测芯片识别所述待测信号的翻转沿，并根据识别结果，生成所述第二反馈信号；所述翻转沿包括上升沿和下降沿。
25、根据本专利技术的一些实施例，所述控制单元包括fpga芯片，所述fpga芯片包括处理单元和计算单元；所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第一反馈信号，计算所述待测信号在预设时间内的上升沿个数，进而计算得到所述待测信号的频率，具体包括：
26、所述处理单元根据所述测试向量，控制所述计算单元开始进行计时；
27、所述计算单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第一反馈信号，计算所述待测信号在预设时间内的上升沿个数；
28、计算所述上升沿个数与所述预设时间的比值，得到所述待测信号的频率。
29、根据本专利技术的一些实施例，所述控制单元包括滤波单元，所述滤波单元用于根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第一反馈信号或所述第二反馈信号进行滤波。
30、根据本专利技术的一些实施例，所述方法还包括：
31、所述ate设备通过所述控制单元，将对所述待测信号的测试结果发送给所述上位机。
32、另一方面，根据本专利技术实施例的ate设备，包括测试芯片、控制单元和时钟源，所述控制单元与上位机、所述测试芯片及所述时钟源电连接，所述测试芯片还与待测芯片电连接；
33、所述上位机用于发送测试向量和滤波档位信息给所述控制单元；
34、所述控制单元用于根据所述测试向量，控制所述测试芯片产生激励信号，并将所述激励信号发送给所述待测芯片；
35、所述待测芯片用于根据所述激励信号，输出待测信号；
36、所述ate设备用于通过第一测试模式或第二测试模式对所述待测信号进行测试；
37、所述第一测试模式包括：
38、所述测试芯片识别所述待测信号的上升沿，并生成第一反馈信号；
39、所述控制单元根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第一反馈信号进行滤波；
40、所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第一反馈信号，计算所述待测信号在预设时间内的上升沿个数，进而计算得到所述待测信号的频率；
41、所述第二测试模式包括：
42、所述测试芯片识别所述待测信号的翻转沿，并生成第二反馈信号；
43、所述控制单元根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第二反馈信号进行滤波；
44、所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第二反馈信号，计算所述待测信号在一个周期内的高电平持续时间和低电平持续时间，并根据所述高电平持续时间和所述低电平持续时间，计算得到所述待测信号的频率和占空比。
45、根据本专利技术的一些实施例，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于ATE设备的芯片测试方法，其特征在于，所述ATE设备包括测试芯片、控制单元和时钟源，所述控制单元与上位机、所述测试芯片及所述时钟源电连接，所述测试芯片与待测芯片电连接；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于ATE设备的芯片测试方法，其特征在于，所述控制单元包括FPGA芯片，所述FPGA芯片包括处理单元、计算单元和寄存器；所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第二反馈信号，计算所述待测信号在一个周期内的高电平持续时间和低电平持续时间，并根据所述高电平持续时间和所述低电平持续时间，计算得到所述待测信号的频率和占空比，具体包括：
3.根据权利要求1所述的基于ATE设备的芯片测试方法，其特征在于，所述测试芯片识别所述待测信号的翻转沿，并生成第二反馈信号，具体包括：
4.根据权利要求1所述的基于ATE设备的芯片测试方法，其特征在于，所述控制单元包括FPGA芯片，所述FPGA芯片包括处理单元和计算单元；所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第一反馈信号，计算所述待测信号在预设时间内的上升沿个数，进而计算
5.根据权利要求1所述的基于ATE设备的芯片测试方法，其特征在于，所述控制单元包括滤波单元，所述滤波单元用于根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第一反馈信号或所述第二反馈信号进行滤波。
6.根据权利要求1所述的基于ATE设备的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.一种ATE设备，其特征在于，包括测试芯片、控制单元和时钟源，所述控制单元与上位机、所述测试芯片及所述时钟源电连接，所述测试芯片还与待测芯片电连接；
8.根据权利要求7所述的ATE设备，其特征在于，所述控制单元包括FPGA芯片，所述FPGA芯片包括处理单元、计算单元和滤波单元；所述处理单元用于根据所述测试向量，控制所述测试芯片产生所述激励信号，以及控制所述计算单元进行计时；所述计算单元用于计算所述待测信号的频率和占空比；所述滤波单元用于根据所述滤波档位信息，选取对应的滤波档位对所述第一反馈信号或所述第二反馈信号进行滤波。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行权利要求1-6中任一项所述的基于ATE设备的芯片测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种基于ate设备的芯片测试方法，其特征在于，所述ate设备包括测试芯片、控制单元和时钟源，所述控制单元与上位机、所述测试芯片及所述时钟源电连接，所述测试芯片与待测芯片电连接；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于ate设备的芯片测试方法，其特征在于，所述控制单元包括fpga芯片，所述fpga芯片包括处理单元、计算单元和寄存器；所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第二反馈信号，计算所述待测信号在一个周期内的高电平持续时间和低电平持续时间，并根据所述高电平持续时间和所述低电平持续时间，计算得到所述待测信号的频率和占空比，具体包括：
3.根据权利要求1所述的基于ate设备的芯片测试方法，其特征在于，所述测试芯片识别所述待测信号的翻转沿，并生成第二反馈信号，具体包括：
4.根据权利要求1所述的基于ate设备的芯片测试方法，其特征在于，所述控制单元包括fpga芯片，所述fpga芯片包括处理单元和计算单元；所述控制单元根据所述时钟源提供的时钟信号以及滤波后的所述第一反馈信号，计算所述待测信号在预设时间内的上升沿个数，进而计算得到所述待测信号的频率，具体包括：
5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭启标，
申请(专利权)人：珠海芯业测控有限公司，
类型：发明
国别省市：
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