本发明专利技术公开了一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法，包括上位机、万用笔、检测校准模块及ATE测试设备，ATE测试设备包括测试资源板卡，测试资源板卡包括FPGA、数字通道或电源通道，上位机与ATE测试设备及万用笔连接，检测校准模块与ATE测试设备及万用笔连接；检测校准模块包括输入单元、电阻调节单元及多个万用表接口，输入单元包括若干条并联输入支路，每条输入支路包括串联连接的输入端口及第一控制开关，电阻调节单元包括若干条并联连接的电阻支路，每条电阻支路包括串联连接的第二控制开关及电阻。本发明专利技术实施例能够丰富测试功能、提高测量精度，可广泛应用于自动控制技术领域。领域。领域。
【技术实现步骤摘要】
一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法
[0001]本专利技术涉及自动控制
，尤其涉及一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法。
技术介绍
[0002]芯片在封装后会用ATE测试机进行FT(Final Test)测试和CP(Chip Probing)测试，FT(Final Test)测试也被称为封装测试(Package Test)，以及CP(Chip Probing)测试也被称为晶圆测试。FT测试是对每颗IC封装后对IC的功能还有其规定标准进行测试，CP测试是在未进行划片封装的整片Wafer上，通过探针将裸露的芯片与测试机连接，从而进行的芯片测试。完成FT测试和CP测试即需要保证ATE测试机功能正常及其能否达到FT测试和CP测试要求的高精度。
[0003]相关技术中，ATE测试设备的测试方案，测试功能单一，测量精度不够。例如，不能指定通道及校准项目进行测量校准，当测量某个通道的各个驱动和测量的精度是否达到标准时，就必须从零开始进行测量，而不能直接选择该通道进行，增加了时间成本，不利于ATE设备的高效性和便捷性。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本专利技术实施例的目的是提供一种用于ATE测试设备的检测校准系统及其控制方法，能够丰富测试功能、提高测量精度。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种用于ATE测试设备的检测校准系统，包括上位机、万用笔、检测校准模块及ATE测试设备，其中，所述ATE测试设备包括测试资源板卡，所述测试资源板卡包括FPGA、数字通道或电源通道，所述上位机与所述ATE测试设备及所述万用笔连接，所述检测校准模块与所述ATE测试设备及所述万用笔连接；
[0006]所述上位机，用于控制万用表及ATE测试设备；
[0007]所述万用表，用于测量所述检测校准模块的电学参数；
[0008]所述FPGA，用于存储所述ATE测试设备的校准值；
[0009]所述检测校准模块包括输入单元、电阻调节单元及多个万用表接口，所述输入单元包括若干条并联输入支路，每条输入支路包括串联连接的输入端口及第一控制开关，电阻调节单元包括若干条并联连接的电阻支路，每条电阻支路包括串联连接的第二控制开关及电阻，所述输入单元与所述电阻调节单元串联连接，第一万用表接口与所述电阻调节单元的第一端口，所述电阻调节单元的第二端口通过单刀双掷开关连接第二万用表接口和第三万用表接口，所述第三万用表接口接地。
[0010]第二方面，本专利技术实施例提供了一种用于ATE测试设备的检测校准方法，用于上述的上位机，包括：
[0011]向ATE测试设备发起测试请求；
[0012]测试所有数字通道或电源通道的基本功能是否正常，若基本功能全部正常，对测
试资源板卡进行自测；所述基本功能包括驱动电压、测量电压、驱动电流及测试电流；
[0013]若自测结果正常，对自测结果进行校准；
[0014]校准完成后，测试所有数字通道或电源通道的测量精度；所述测量精度包括驱动电压精度、测量电流精度、驱动电流精度及测量电压精度；
[0015]若测量精度符合要求，将校准值保存到FPGA中。
[0016]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的驱动电压是否正常：
[0017]打开所有数字通道或电源通道，将待检测的数字通道或电源通道设为输出通道，并输出第一驱动电压到检测校准模块；
[0018]通过其它数字通道或电源通道测量检测校准模块的第一测试电压，并根据第一驱动电压及第一测试电压确定待检测的数字通道或电源通道的驱动电压是否正常。
[0019]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的测量电压是否正常：
[0020]打开所有数字通道或电源通道，将待检测的数字通道或电源通道设为测量通道，将其它数字通道或电源通道设为输出通道，输出通道输出第二驱动电压到检测校准模块；
[0021]通过待检测的数字通道或电源通道测量检测校准模块的第二测试电压，根据第二驱动电压及第二测试电压确定待检测的数字通道或电源通道的测量电压是否正常。
[0022]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的驱动电流是否正常：
[0023]关闭所有通道，闭合第二控制开关以连接电阻调节单元中的电阻，通过待检测的数字通道或电源通道输出第一驱动电流到检测校准模块；
[0024]测量检测校准模块的第三测试电压，根据第一驱动电流、电阻及第三测试电压确定待检测的数字通道或电源通道的驱动电流是否正常。
[0025]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的测量电流是否正常：
[0026]关闭所有通道，闭合第二控制开关以连接电阻调节单元中的电阻，通过待检测的数字通道或电源通道输出第三驱动电压到检测校准模块；
[0027]测量检测校准模块的第一测试电流，根据第三驱动电压、电阻及第一测试电流确定待检测的数字通道或电源通道的测量电流是否正常。
[0028]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的驱动电压精度是否满足要求：
[0029]根据预设的驱动电压范围，从电压下限开始，通过待检测的数字通道或电源通道输出第四驱动电压到检测校准模块；
[0030]通过万用表测量检测校准模块的第四测试电压，根据第四驱动电压及第四测试电压确定驱动电压精度是否满足要求。
[0031]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的测量电流精度是否满足要求：
[0032]闭合第二控制开关以连接电阻调节单元中的电阻，通过待检测的数字通道或电源通道输出第五驱动电压到检测校准模块，通过万用表测量第二测试电流，通过调用接口获取检测校准模块自测的第三测试电流；
[0033]根据所述第二测试电流及第三测试电流确定测量电流精度是否满足要求。
[0034]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的驱动电流精度是否满足要求：
[0035]闭合第二控制开关以连接电阻调节单元中的电阻，根据预设的驱动电流范围，从电流下限开始，通过待检测的数字通道或电源通道输出第二驱动电流到检测校准模块，通过万用表测量检测校准模块的第四测试电流；
[0036]根据第二驱动电流及第四测试电流确定驱动电流精度是否满足要求。
[0037]可选地，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的测量电压精度是否满足要求：
[0038]闭合第二控制开关以连接电阻调节单元中的电阻，通过待检测的数字通道或电源通道输出第三驱动电流到检测校准模块，通过万用表测量检测校准模块的第五测试电压，通过调用接口获取检测校准模块自测的第六测试电压；
[0039]根据所述第五测试电压及第六测试电压确定测量电压精度是否满足要求。
[0040]实施本专利技术实施例包括以下有益效果：本实施例用于ATE测试设备的检测校准系统包括上位机、万用笔、检测校准模块及ATE测试设备，检测校准模块包括输入单元、电阻调节单元及多个万用表接本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于ATE测试设备的检测校准系统，其特征在于，包括上位机、万用笔、检测校准模块及ATE测试设备，其中，所述ATE测试设备包括测试资源板卡，所述测试资源板卡包括FPGA、数字通道或电源通道，所述上位机与所述ATE测试设备及所述万用笔连接，所述检测校准模块与所述ATE测试设备及所述万用笔连接；所述上位机，用于控制万用表及ATE测试设备；所述万用表，用于测量所述检测校准模块的电学参数；所述FPGA，用于存储所述ATE测试设备的校准值；所述检测校准模块包括输入单元、电阻调节单元及多个万用表接口，所述输入单元包括若干条并联输入支路，每条输入支路包括串联连接的输入端口及第一控制开关，电阻调节单元包括若干条并联连接的电阻支路，每条电阻支路包括串联连接的第二控制开关及电阻，所述输入单元与所述电阻调节单元串联连接，第一万用表接口与所述电阻调节单元的第一端口，所述电阻调节单元的第二端口通过单刀双掷开关连接第二万用表接口和第三万用表接口，所述第三万用表接口接地。2.一种用于ATE测试设备的检测校准方法，其特征在于，用于权利要求1所述的上位机，包括：向ATE测试设备发起测试请求；测试所有数字通道或电源通道的基本功能是否正常，若基本功能全部正常，对测试资源板卡进行自测；所述基本功能包括驱动电压、测量电压、驱动电流及测试电流；若自测结果正常，对自测结果进行校准；校准完成后，测试所有数字通道或电源通道的测量精度；所述测量精度包括驱动电压精度、测量电流精度、驱动电流精度及测量电压精度；若测量精度符合要求，将校准值保存到FPGA中。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的驱动电压是否正常：打开所有数字通道或电源通道，将待检测的数字通道或电源通道设为输出通道，并输出第一驱动电压到检测校准模块；通过其它数字通道或电源通道测量检测校准模块的第一测试电压，并根据第一驱动电压及第一测试电压确定待检测的数字通道或电源通道的驱动电压是否正常。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过以下方式测试每个数字通道或电源通道的测量电压是否正常：打开所有数字通道或电源通道，将待检测的数字通道或电源通道设为测量通道，将其它数字通道或电源通道设为输出通道，输出通道输出第二驱动电压到检测校准模块；通过待检测的数字通道或电源通道测量检测校准模块的第二测试电压，根据第二驱动电压及第二测试电压确定待检测的数字通道或电源通道的测量电压是否正常。5.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：黎志祥，常国敏，
申请(专利权)人：珠海芯业测控有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。