一种直流参数测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种直流参数测试系统及方法。系统包括：上位机，用于采用数据压缩算法生成第一参数并下发给TMU控制板，用于将第二测试结果映射到各个测试通道对应的内存中；TMU控制板，用于根据第一数据格式解析第一参数得到第二参数，用于读取第一测试结果，并根据第二数据格式打包生成第二测试结果；PEC模块，用于根据第二参数配置PMU测试芯片的通道参数，用于根据配置结束信号读取第一测试结果，并根据测试通道将第一测试结果保存；PMU测试芯片，用于根据通道参数对待测芯片进行直流参数测试，并在测试结束后生成第一测试结果。本发明专利技术实现了高效的多通道直流参数测试和多测试工位并行测试，可广泛应用于测试技术领域。可广泛应用于测试技术领域。可广泛应用于测试技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种直流参数测试系统及方法


[0001]本申请涉及测试
，尤其是一种直流参数测试系统及方法。

技术介绍

[0002]在芯片的量产测试(包括CP/FT测试)过程中，一般需要较多的直流参数的测试，比如进行开短路(open/short,OS)测试和漏电流测试，往往这些测试涉及到的芯片管脚较多。在面对数量庞大的芯片的测试时，直流参数测试将占据大量的时间，从而影响了芯片的测试成本和生产效率。
[0003]在传统的直流参数测试方法中，上位机根据需要测试的通道对下位机进行逐通道地配置，并在延时等待一段时间后串行读回测试结果。其中，每测试一个通道直流参数都需要上位机下发一次通道配置信息进行通道配置，并且由于每个通道直流参数的测试结果的生成时间不固定，上位机延时等待的时间往往设置较长，大大增加了直流参数的测试时间。此外，在进行多测试工位直流参数的并行测试时，每个测试工位都需要进行单独测试，上位机同样需要延时等待一段时间后串行读回测试结果，导致多测试工位直流参数的并行测试效率低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0005]为此，本专利技术实施例的一个目的在于提供一种直流参数测试系统及方法，实现了高效的多通道直流参数测试。
[0006]为了达到上述技术目的，本专利技术实施例所采取的技术方案包括：
[0007]第一方面，本专利技术实施例提供了一种直流参数测试系统，包括：
[0008]上位机，用于采用数据压缩算法生成第一参数并下发给TMU控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；用于根据所述测试通道，将第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中；
[0009]TMU控制板，用于根据第一数据格式解析所述第一参数，得到所述第二参数；用于读取PEC模块保存的第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成所述第二测试结果，所述第一数据格式和所述第二数据格式为所述上位机与所述TMU控制板约定的数据格式；
[0010]PEC模块，用于根据所述第二参数配置PMU测试芯片的通道参数；用于根据配置结束信号进行FPGA内部延时处理后读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存，所述配置结束信号为所述PEC模块完成所述PMU测试芯片的通道参数的配置后生成的信号；
[0011]PMU测试芯片，用于根据所述通道参数对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成所述第一测试结果。
[0012]另外，根据本专利技术上述实施例的一种直流参数测试系统，还可以具有以下附加的
技术特征：
[0013]进一步地，本专利技术实施例的一种直流参数测试系统中，所述PEC模块中包括多块PEC板，所述PEC板中包括32个通道；
[0014]所述PEC板根据所述第二参数采用状态机步进配置所述通道参数。
[0015]进一步地，在本专利技术的一个实施例中，所述PMU测试芯片根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和加电流测电流，并根据所述工作模式通过各所述测试通道对所述待测芯片进行直流参数测试。
[0016]进一步地，在本专利技术的一个实施例中，所述的一种直流参数测试系统还包括ADC模块；
[0017]所述PEC模块根据所述配置结束信号进行FPGA内部延时处理后发送启动信号，所述ADC模块根据所述启动信号并行读取所述PMU测试芯片中的所述第一测试结果并生成第一通知，所述PEC模块根据所述第一通知读取所述第一测试结果。
[0018]第二方面，本专利技术实施例提出了一种直流参数测试方法，所述方法应用于直流参数测试系统，所述直流参数测试系统包括上位机、TMU控制板、PEC模块、PMU测试芯片，所述方法包括：
[0019]通过所述上位机采用数据压缩算法生成第一参数并下发给所述TMU控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；
[0020]根据第一数据格式，通过所述TMU控制板解析所述第一参数，得到所述第二参数，所述第一数据格式为所述上位机与所述TMU控制板约定的数据格式；
[0021]根据所述第二参数，通过所述PEC模块配置所述PMU测试芯片的通道参数；
[0022]根据所述通道参数，通过所述PMU测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成第一测试结果；
[0023]根据配置结束信号，通过所述PEC模块进行FPGA内部延时处理后读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存，所述配置结束信号为所述PEC模块完成所述PMU测试芯片的通道参数的配置后生成的信号；
[0024]通过所述TMU控制板读取所述PEC模块保存的所述第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成第二测试结果，所述第二数据格式为所述上位机与所述TMU控制板约定的数据格式；
[0025]根据所述测试通道，通过所述上位机将所述第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中。
[0026]进一步地，在本专利技术的一个实施例中，所述PEC模块中包括多块PEC板，所述PEC板中包括32个通道；
[0027]所述根据所述第二参数，通过所述PEC模块配置所述PMU测试芯片的通道参数，包括：
[0028]根据所述第二参数，通过所述PEC板采用状态机步进配置所述通道参数。
[0029]进一步地，在本专利技术的一个实施例中，所述根据所述第二参数，通过所述PEC板采用状态机步进配置所述通道参数，包括：
[0030]根据状态机的初始状态，选取第一通道作为当前通道，所述第一通道为所述PEC板上的第一个通道；
[0031]根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置；
[0032]若是，根据所述测试模式和所述配置参数配置所述当前通道；
[0033]确认所述当前通道配置完成，且所述当前通道不为所述PEC板上的最后一个通道，选取第二通道作为所述当前通道，并返回根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置这一步骤，所述第二通道为所述PEC板上所述当前通道的下一个通道。
[0034]进一步地，在本专利技术的一个实施例中，在所述根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置这一步骤之后，还包括：
[0035]若否，确认所述当前通道不为所述PEC板上的最后一个通道，选取所述第二通道作为所述当前通道，并返回根据所述测试通道，判断所述当前通道是否需要配置这一步骤。
[0036]进一步地，在本专利技术的一个实施例中，所述根据所述通道参数，通过所述PMU测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，包括：
[0037]根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种直流参数测试系统，其特征在于，包括：上位机，用于采用数据压缩算法生成第一参数并下发给TMU控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；用于根据所述测试通道，将第二测试结果映射到各个所述测试通道对应的内存中；TMU控制板，用于根据第一数据格式解析所述第一参数，得到所述第二参数；用于读取PEC模块保存的第一测试结果，并根据第二数据格式打包所述第一测试结果，生成所述第二测试结果，所述第一数据格式和所述第二数据格式为所述上位机与所述TMU控制板约定的数据格式；PEC模块，用于根据所述第二参数配置PMU测试芯片的通道参数；用于根据配置结束信号进行FPGA内部延时处理后读取所述第一测试结果，并根据所述测试通道将所述第一测试结果保存，所述配置结束信号为所述PEC模块完成所述PMU测试芯片的通道参数的配置后生成的信号；PMU测试芯片，用于根据所述通道参数对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成所述第一测试结果。2.根据权利要求1所述的一种直流参数测试系统，其特征在于，所述PEC模块中包括多块PEC板，所述PEC板中包括32个通道；所述PEC板根据所述第二参数采用状态机步进配置所述通道参数。3.根据权利要求1所述的一种直流参数测试系统，其特征在于，所述PMU测试芯片根据所述通道参数配置各所述测试通道的工作模式，所述工作模式包括加电压测电流、加电压测电压、加电流测电压和加电流测电流，并根据所述工作模式通过各所述测试通道对所述待测芯片进行直流参数测试。4.根据权利要求1所述的一种直流参数测试系统，其特征在于，还包括ADC模块；所述PEC模块根据所述配置结束信号进行FPGA内部延时处理后发送启动信号，所述ADC模块根据所述启动信号并行读取所述PMU测试芯片中的所述第一测试结果并生成第一通知，所述PEC模块根据所述第一通知读取所述第一测试结果。5.一种直流参数测试方法，其特征在于，所述方法应用于直流参数测试系统，所述直流参数测试系统包括上位机、TMU控制板、PEC模块、PMU测试芯片，所述方法包括：通过所述上位机采用数据压缩算法生成第一参数并下发给所述TMU控制板，所述第一参数中包括压缩的第二参数，所述第二参数包括测试通道、对应的测试模式和对应的配置参数；根据第一数据格式，通过所述TMU控制板解析所述第一参数，得到所述第二参数，所述第一数据格式为所述上位机与所述TMU控制板约定的数据格式；根据所述第二参数，通过所述PEC模块配置所述PMU测试芯片的通道参数；根据所述通道参数，通过所述PMU测试芯片对待测芯片进行各所述测试通道的直流参数测试，并在测试结束后生成第一测试结果；根据配置结束信号，通过所述PEC模块进...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭启标，石敬龙，
申请(专利权)人：珠海芯业测控有限公司，
类型：发明
国别省市：