本技术涉及一种抗过冲和振荡的脉冲生成电路及脉冲发生器，该脉冲生成电路包括：方波信号发生电路、高通滤波电路、功率运算电路、供电电路；所述方波信号发生电路与所述功率运算电路电连接；所述功率运算电路还分别与所述高通滤波电路、所述供电电路电连接...

本实用新型涉及TO封装产品测试装置技术领域，尤其是涉及一种TO封装产品老化测试装置，通过设置PCB老化板、导热板和温度监测单元，PCB老化板上设置有TO安装位，进行TO封装产品的老化测试时，将TO封装产品的引脚插设于TO安装位上，PCB...

本实用新型公开了芯片测试用恒力探针臂，包括基座、连接板、探针夹、第一弹性件及检测机构；连接板的一端铰接于基座、并可转动至第一位置和第二位置，连接板的另一端与探针夹固定连接；探针夹用于夹持探针；第一弹性件的一端与基座连接，第一弹性件的另一...

本实用新型涉及一种EML光器件老化测试装置，其包括老化板、老化插座、柔性电连接部、实体连接部和第二金手指，使用时将待测EML光器件插入至老化插座中，通过第一金手指输入合适的直流电压或电流，经过本体板提供供电使EML光器件正常工作，同时，...

本实用新型涉及一种LVDS信号隔离电路结构，包括依次连接的协议转换电路、前端缓冲电路、变压器电路和后端缓冲电路；协议转换电路用于接收原始LVDS电流信号；对信号进行数据传输协议转换，得到LVDS输入电流信号；前端缓冲电路用于将LVDS输...

本发明涉及一种支持EML激光器热插拔的驱动控制系统及控制方法，其中系统包括供电模块、采集模块、检测控制模块和通断控制模块，该系统能够实时监控EML激光器，当因机器抖动等因素造成连接松动，产生热插拔现象时，检测控制模块能够根据负载电流、实...

本实用新型涉及一种光模块测试装置，包括测试箱、温控组件、送检组件及驱动组件；测试箱包括底座、及罩设于底座的壳体，底座与壳体共同围设形成有容纳腔，且壳体设有连通容纳腔的开口；温控组件包括位于容纳腔并与底座间隔设置的安装座、及设于安装座靠近...

本实用新型涉及一种光器件高低温跟踪误差测试装置，包括工作台及调温结构；工作台包括安装座、及设于安装座同侧的多个测试座，各测试座用以放置光器件；调温结构包括均温板及多个调温部，均温板设于安装座与多个测试座之间，多个调温部设于均温板与安装座...

本实用新型涉及一种VCSEL Wafer测试系统，包括底座、测试台、电极测试组件和功能测试组件，其中测试台活动设置于底座，用于安装晶圆，电极测试组件包括测试座和探针，测试座安装于底座，测试座上开设有贯穿测试座的测试空腔，探针连接于测试座...

本申请实施例涉及光模块高低温测试技术领域，具体涉及一种光模块的温度测试装置，本申请的温度测试装置包括：密封外罩，设置于密封外罩内的顶部控温模块、底部控温模块和光模块测试板，以及贯穿密封外罩的顶部并与顶部控温模块机械连接的下压结构，光模块...

本申请公开了一种光器件高低温跟踪误差测试装置、方法及计算机存储介质，装置包括：多个导热垫块，设置于上盖板与下盖板形成的盖合空间中，各导热垫块具有用于放置待测光器件的凹槽；与多个导热垫块贴合设置的均温板，设置于导热垫块与下盖板之间；与均温...

本申请提供一种基于图像识别的芯片定位吸取方法、设备及存储介质，在芯片定位吸附方法中，通过将样本芯片放置在载物台上进行旋转，识别样本芯片旋转前后的位置以及偏转角度，以确定转动机构的旋转中心的位置。根据旋转中心的位置，可以使得待测芯片在进行...

本申请提供一种半导体激光器芯片的校准定位方法、设备及存储介质，方法包括：识别样本芯片相对于图像采集窗口的中心而具有的第一坐标和偏转角；将样本芯片平移到图像采集窗口的中心，根据样本芯片的偏转角旋转样本芯片；识别样本芯片的第二坐标；根据样本...

本实用新型涉及一种用于芯片加电的探针装置，该探针装置包括固定座、线缆、L形连接杆、夹持组件以及探针，固定座与L形连接杆的一端固定连接，L形连接杆的另一端通过夹持组件与探针的一端可拆卸连接，线缆与夹持组件电连接，以通过夹持组件向探针供电。...

本实用新型提供一种电子器件老化试验装置，包括壳体，在壳体内设有支架，支架用于承载多个老化试验模块，支架将壳体内腔分隔为进风风道和回风风道；支架上设有多个试验进风口，试验进风口对准老化试验模块，试验进风口连通进风风道和回风风道；进风风道与...

本发明涉及一种VCSEL Wafer测试系统，包括底座、测试台、电极测试组件和功能测试组件，其中测试台活动设置于底座，用于安装晶圆，电极测试组件包括测试座和探针，测试座安装于底座，测试座上开设有贯穿测试座的测试空腔，探针连接于测试座并延...

本申请公开了一种TO器件的测试分拣方法、计算机设备及计算机存储介质，方法包括：控制上料机械手将第一TO器件移动至相机识别工位；通过识别角度相机获取第一TO器件的图像信息；根据图像信息确定第一TO器件的管脚方向；通过上料机械手将管脚方向调...

本申请公开了一种插卡式机箱设备的软件管理方法、计算机设备及存储介质，方法包括：获取插卡式机箱设备的各个主板插槽上插入的子板卡的型号信息，其中，预先存储有各个型号信息对应的子板卡可执行程序；在各个主板插槽对应的显示区域内，显示主板插槽上插...

本申请提供一种激光器芯片测试装置和激光器芯片测试方法，测试装置包括：位移台，位移台上设置有载物台，载物台用于承载激光器芯片；设置于位移台一侧的加电装置，用于对激光器芯片加电以使激光器芯片发光；图像采集装置以及与图像采集装置通信连接的处理...

本申请实施例提供了一种光器件的三温测试系统，通过对测试分区的控温过程和对测试分区的待测光器件测试过程循环同步，减少了测试分区的中间等待控温过程，并且通过温控仪表和温度传感器对测试分区的温度进行精准控制，极大提高了控温效率，从而提高了光器...