一种芯片测试用恒力探针臂制造技术

本实用新型专利技术公开了芯片测试用恒力探针臂，包括基座、连接板、探针夹、第一弹性件及检测机构；连接板的一端铰接于基座、并可转动至第一位置和第二位置，连接板的另一端与探针夹固定连接；探针夹用于夹持探针；第一弹性件的一端与基座连接，第一弹性件的另一端与连接板连接；检测机构包括固定触头、活动触头、检测电源及提示件。本实用新型专利技术提出的技术方案的有益效果是：向下移动基座使探针与待检测的芯片接触，当探针与芯片之间产生接触压力时，连接板从第二位置转动至第一位置，从而固定触头与活动触头分离，以使检测电源与提示件电连接，提示件产生提示信号，从而基座停止继续下压，以防止探针与芯片之间的接触压力过大而影响探针的使用寿命。针的使用寿命。针的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用恒力探针臂


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其是涉及一种芯片测试用恒力探针臂。

技术介绍

[0002]现代信号传输广泛应用光通讯，要保证光通讯的可靠性，在其生产的各个环节，都需要进行可靠性测试。前端工序激光芯片生产环节，需要给芯片加电以测试其各项性能。
[0003]给芯片加电的电极称为探针，固定探针的机构称为探针臂。芯片测试对加电的要求是需要保证接触良好，探针与芯片接触压力可控，一般为5～10g，探针臂使用寿命长。由于待测试的芯片数量庞大，一个LD激光芯片完成其各项性能指标测试的测试周期一般在8～10s，设备24h不停机，探针臂一天动作在10000次左右。探针臂的使用寿命越长，设备的维护频率就越低。
[0004]为了保证探针的使用寿命满足实际需求，探针与芯片的接触压力不能过大，而现有的探针臂(如公开号为CN204945190U的中国技术专利)在使用时，不能检测探针与芯片的接触状态，常常会出现接触压力过大的情况，缩短了探针的使用寿命。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，有必要提供一种芯片测试用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用恒力探针臂，其特征在于，包括基座、连接板、探针夹、第一弹性件及检测机构；所述连接板的一端铰接于所述基座、并可转动至第一位置和第二位置，所述连接板的另一端与所述探针夹固定连接；所述探针夹用于夹持探针；所述第一弹性件的一端与所述基座连接，所述第一弹性件的另一端与所述连接板连接；所述检测机构包括固定触头、活动触头、检测电源及提示件，所述固定触头固定于所述基座上，所述活动触头固定于所述连接板，当所述连接板位于第一位置时，所述固定触头与所述活动触头分离，以使所述检测电源与所述提示件电连接，当所述连接板位于第二位置时，所述固定触头与所述活动触头抵接，以使所述检测电源与所述提示件电连接断开。2.根据权利要求1所述的芯片测试用恒力探针臂，其特征在于，所述检测机构还包括限流电阻，所述检测电源、所述提示件及所述限流电阻串联成一闭合电路，所述固定触头的一端与所述提示件的一端电连接，所述活动触头与所述提示件的另一端电连接。3.根据权利要求1或2所述的芯片测试用恒力探针臂，其特征在于，所述提示件为灯光提示器、声音提示器及振动提示器中的至少一者。4.根据权利要求1所述的芯片测试用恒力探针臂，其特征在于，所述检测机构还包括第一PCB板，所述第一PCB板固定于所述基座，所述提示件固定于所述第一PC...

【专利技术属性】
技术研发人员：马超，江坤，黄秋元，周鹏，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：