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本实用新型公开了芯片测试用恒力探针臂，包括基座、连接板、探针夹、第一弹性件及检测机构；连接板的一端铰接于基座、并可转动至第一位置和第二位置，连接板的另一端与探针夹固定连接；探针夹用于夹持探针；第一弹性件的一端与基座连接，第一弹性件的另一端与...
该专利属于武汉普赛斯电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉普赛斯电子技术有限公司授权不得商用。

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