双头单动测试探针制造技术

本实用新型专利技术涉及双头单动测试探针，测试探针技术领域，解决了目前测试探针导电性能不佳的技术问题。该双头单动测试探针包括针管，针管内设空腔，针管的一端开设有与空腔相连通的开口；针尾，安装在针管远离开口的一端；冠环，安装在空腔内，冠环位于空腔远离开口的一端，冠环与针管同轴安装，冠环中部的直径小于冠环两端的直径；弹簧，安装在空腔内，并位于冠环上方，弹簧与针管同轴安装；针头，一端安装穿过弹簧与冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于针管，针头的上部抵接于弹簧靠近开口的一端。因此，该双头单动测试探针在使用的导线性能更佳，使用效果更好。使用效果更好。使用效果更好。

【技术实现步骤摘要】
双头单动测试探针


[0001]本技术属于测试探针
，特别涉及双头单动测试探针。

技术介绍

[0002]随着科技的不断发展，社会的进步，市场上芯片也越来越精密，用于连接各种芯片与主板之间的测试连接器也朝着更好的性能，更科学的工艺在进步。传统的探针主要是通过针头上的滚珠进行导电，滚珠与针管的内壁接触面积小，从而容易导致针头的针尾之间的导电性降低。

技术实现思路

[0003]本技术提供双头单动测试探针，用于解决目前测试探针导电性能不佳的技术问题。
[0004]本技术通过下述技术方案实现：双头单动测试探针，包括：
[0005]针管，所述针管内设空腔，所述针管的一端开设有与所述空腔相连通的开口；
[0006]针尾，安装在所述针管远离所述开口的一端；
[0007]冠环，安装在所述空腔内，所述冠环位于所述空腔远离所述开口的一端，所述冠环与所述针管同轴安装，所述冠环中部的直径小于所述冠环两端的直径；
[0008]弹簧，安装在所述空腔内，并位于所述冠环上方，所述弹簧与所述针管同轴安装；
[0009]针头，一端安装穿过所述弹簧与所述冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于所述针管，所述针头的上部抵接于所述弹簧靠近所述开口的一端。
[0010]可选地，所述冠环包括：
[0011]两个挡圈，同轴设置，两个所述挡圈的外壁抵接于所述空腔的腔壁；
[0012]多个弹性片，两端分别安装两个挡圈上，多个所述弹性片沿所述挡圈的周向均匀分布。
[0013]可选地，所述弹性片包括：
[0014]两个第一片体，一端分别安装在两个所述挡圈上，另一端向所述针管的轴心倾斜设置，两个所述第一片体均位于两个所述挡圈之间，所述针头未下压时，所述针头伸入至所述针管内的一端抵接于所述第一片体；
[0015]第二片体，两端分别安装在两个所述第一片体的另一端，所述第二片体与所述针管的轴向平行，针头下压时，针头伸入至所述针管内的一端的周向外壁抵接于所述第二片体。
[0016]可选地，所述挡圈的一侧开设有切口。
[0017]可选地，还包括：
[0018]放置台，安装在所述空腔的腔壁上，所述放置台呈环形，所述弹簧远离所述开口的一端抵接于所述放置台，所述针头伸入至所述空腔的一端穿过所述放置台的中部伸入至所述冠环内。
[0019]可选地，还包括：
[0020]限位台阶，安装在所述针管设有开口的一端，所述限位台阶的直径从靠近所述针管设有开口的一端向另一端逐渐减小；
[0021]限位块，套设在所述针头的上部，所述限位块的直径大于所述针头的直径，所述限位块远离所述开口的一端抵接于所述弹簧，针头未下压时，所述限位块靠近所述开口的一端抵接于所述限位台阶。
[0022]可选地，所述针头的两端、所述针尾远离所述针管的一端呈锥形。
[0023]本技术相较于现有技术具有以下有益效果：
[0024]本技术提供的双头单动测试探针包括针管、针尾、冠环以及针头，针管内设有空腔，针管的一端开设有与空腔相连通的开口，针尾安装在针管远离开口的一端，冠环安装在空腔内，冠环位于空腔远离开口的一端，冠环与针管同轴安装冠环中部的直径小于冠环两端的直径，针头未下压时，针头抵接于冠环靠近开口的一端，针头下压时，针头伸入至冠环中部，弹簧安装在空腔内，弹簧位于冠环上方，弹簧于针管同轴安装，针头的一端穿过弹簧于冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于针管，针头的上部抵接在弹簧靠近开口的一端。
[0025]通过上述结构，本技术提供的双头单动测试探针在使用时，冠环安装在空腔远离开口的一端，针头未下压时，针头伸入至空腔的一端抵接在冠环靠近开口的一端，冠环中部的直径小于冠环两端的直径，针头下压时，针头伸入至冠环内，针头夹紧在冠环中，针头的外侧面与冠环的内侧面相抵接，使得针头与冠环的的接触面积更大，电流在针头和针尾间流动时导电性能更好。因此，该双头单动测试探针在使用的导线性能更佳，使用效果更好。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1是本技术提供的单动双头探针未下压时的结构示意图；
[0028]图2是本技术提供的单动双头探针下压时的结构示意图；
[0029]图3是本技术实施例中针头的结构示意图；
[0030]图4是本技术实施例中针管的结构示意图；
[0031]图5是本技术实施例中冠环的结构示意图；
[0032]图6是图2中A区域的放大结构示意图。
[0033]图中：
[0034]1‑
针管；11
‑
空腔；2
‑
针尾；3
‑
冠环；31
‑
挡圈；32
‑
弹性片；321
‑
第一片体；322
‑
第二片体；33
‑
切口；4
‑
弹簧；5
‑
针头；6
‑
放置台；7
‑
限位台阶；8
‑
限位块。
具体实施方式
[0035]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本技术的技术
方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本技术所保护的范围。
[0036]实施例
[0037]本技术提供双头单动测试探针，用于解决目前测试探针导电性能不佳的技术问题。该双头单动测试探针包括针管1、针尾2、冠环3以及针头5，其中：
[0038]针管1呈柱体状，针管1内设空腔11，空腔11沿针管1的轴向开设，针管1的一端开设有开口，开口与空腔11相连通。
[0039]针尾2一体成型在针管1远离开口的一端，这样减少了针尾2的组装，降低了生产和组装的成本。
[0040]冠环3安装在空腔11远离开口的一端，冠环3与空腔11同轴安装，冠环3的下端与空腔11的底壁接触，冠环3的侧壁与空腔11的腔壁抵接，这样不仅能够使冠环3固定更加稳定，同时能够增大冠环3与针管1内壁的接触面积，冠环3中部的直径小于冠环3两端的直径。
[0041]弹簧4安装在空腔11内，弹簧4位于冠环3的上方，弹簧4与针管1同轴安装。
[0042]针头5的一端穿过弹簧4的中部抵接在冠环3靠近开口的一端，针头5的另一端伸出于针管1，针头5的上部抵接在弹簧4靠近开口的一端，针头5未下压时，针头5抵接于冠环3靠近开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.双头单动测试探针，其特征在于，包括：针管，所述针管内设空腔，所述针管的一端开设有与所述空腔相连通的开口；针尾，安装在所述针管远离所述开口的一端；冠环，安装在所述空腔内，所述冠环位于所述空腔远离所述开口的一端，所述冠环与所述针管同轴安装，所述冠环中部的直径小于所述冠环两端的直径；弹簧，安装在所述空腔内，并位于所述冠环上方，所述弹簧与所述针管同轴安装；针头，一端安装穿过所述弹簧与所述冠环靠近开口的一端抵接，另一端伸出于所述针管，所述针头的上部抵接于所述弹簧靠近所述开口的一端。2.根据权利要求1所述的双头单动测试探针，其特征在于，所述冠环包括：两个挡圈，同轴设置，两个所述挡圈的外壁抵接于所述空腔的腔壁；多个弹性片，两端分别安装两个挡圈上，多个所述弹性片沿所述挡圈的周向均匀分布。3.根据权利要求2所述的双头单动测试探针，其特征在于，所述弹性片包括：两个第一片体，一端分别安装在两个所述挡圈上，另一端向所述针管的轴心倾斜设置，两个所述第一片体均位于两个所述挡圈之间，所述针头未下压时，所述针头伸入至所述针管内的一端抵接于...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓小楷，
申请(专利权)人：深圳圣为半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：