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本实用新型涉及双头单动测试探针，测试探针技术领域，解决了目前测试探针导电性能不佳的技术问题。该双头单动测试探针包括针管，针管内设空腔，针管的一端开设有与空腔相连通的开口；针尾，安装在针管远离开口的一端；冠环，安装在空腔内，冠环位于空腔远离开...
该专利属于深圳圣为半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳圣为半导体有限公司授权不得商用。

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