一种快速式探针插座测试盒制造技术

本申请涉及探针测试技术领域，且公开了一种快速式探针插座测试盒，包括盒体，所述盒体的内部设有测试基板，所述测试基板上安装有多个探针，所述盒体的下方设有盒盖，所述盒盖的端面开设有多个与探针相匹配的通孔，且各个探针均穿过通孔呈滑动设置，所述盒体的上方设有绝缘机盒，所述绝缘机盒的内部安装有线路板，所述线路板上安装有多个与探针位置相对应的导电铜柱。本申请可以在进行封装电路测试前，对各个探针进行快速的自检测试，降低封装电路被误判的可能性，减少时间浪费，间接提高整体的测试速度，同时可以避免瞬时冲压力过大导致探针损坏或对封装电路接点造成损坏现象。探针损坏或对封装电路接点造成损坏现象。探针损坏或对封装电路接点造成损坏现象。

【技术实现步骤摘要】
一种快速式探针插座测试盒


[0001]本申请涉及探针测试
，尤其涉及一种快速式探针插座测试盒。

技术介绍

[0002]测试探针作为半导体测试中的重要冶具，被安装在插座测试盒内部，主要用于芯片封装测试的电性功能进行筛选测试，尽早排出有缺陷的封装电路，确保产品成品产出的合格率。
[0003]在实现本申请过程中，专利技术人发现该技术中至少存在如下问题，探针插座测试盒在进行测试的时候，需要通过对接设备将各个探针与封装电路上的各个接点接合，然后接通测试基板的电路，并查看与封装电路接合后的电路是否可正常使用，由于在进行测试时，探针与封装电路接点之间需要保持一定压力，在多次使用后，探针头部会出现不同磨损，以及在压力作用下，探针的与插座之间的连接点可能出现接触不良的现象，从而导致在进行测试时，会因为探针的损坏而出现测试结果误判的现象，测试人员若未及时发现，而对误判的封装电路进行检修，则会导致大量的时间浪费，导致整体测试速度变低，因此，提出一种快速式探针插座测试盒。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是为了解决现有技术中在多次使用后，探针头部会出现不同磨损，以及在压力作用下，探针的与插座之间的连接点可能出现接触不良的现象，从而导致在进行测试时，会因为探针的损坏而出现测试结果误判的现象，测试人员若未及时发现，而对误判的封装电路进行检修，则会导致大量的时间浪费，导致整体测试速度变低的问题，而提出的一种快速式探针插座测试盒。
[0005]为了实现上述目的，本申请采用了如下技术方案：
[0006]一种快速式探针插座测试盒，包括盒体，所述盒体的内部设有测试基板，所述测试基板上安装有多个探针，所述盒体的下方设有盒盖，所述盒盖的端面开设有多个与探针相匹配的通孔，且各个探针均穿过通孔呈滑动设置，所述盒体的上方设有绝缘机盒，所述绝缘机盒的内部安装有线路板，所述线路板上安装有多个与探针位置相对应的导电铜柱，所述绝缘机盒的端面开设有框型槽，且各个导电铜柱均贯穿框型槽的槽底设置，所述绝缘机盒的外侧壁固定设有与线路板相连接的LED提示灯。
[0007]优选的，所述测试基板的上端面固定有框型加强板，所述框型加强板的端面固定设有多个连杆，多个所述连杆的杆端共同固定连接有框型缓冲板，所述盒体的上端面一体设置有框型凸起，且框型凸起与盒体的上内壁共同开设有与框型缓冲板相匹配的缓冲槽，且缓冲槽的槽底与框型缓冲板之间共同固定设有橡胶缓冲垫。
[0008]优选的，各个所述通孔的孔壁均固定连接有橡胶套，且各个橡胶套的内壁均与同侧探针的侧壁呈接触设置。
[0009]优选的，所述盒盖与盒体的端面外缘处共同螺纹连接有一组锁紧螺钉。
[0010]优选的，所述框型凸起的内壁为圆形设置，所述绝缘机盒的下端一体设置有螺纹柱，且螺纹柱的柱壁与框型凸起的内壁螺纹连接。
[0011]优选的，各个所述探针靠近测试基板的一端直径大于探针远离测试基板一端的直径设置。
[0012]与现有技术相比，本申请提供了一种快速式探针插座测试盒，具备以下有益效果：
[0013]1、该快速式探针插座测试盒，通过设有的盒体、测试基板、探针、盒盖、绝缘机盒、线路板、导电铜柱和LED提示灯的相互配合，通过测试基板配合探针可以作为封装电路的测试，而通过线路按钮、导电铜柱配合LED提示灯，可以在进行封装电路测试前，对各个探针进行快速的自检测试，从而可以降低封装电路被误判的可能性，减少时间浪费，间接提高整体的测试速度。
[0014]2、该快速式探针插座测试盒，通过设有的框型加强板、多个连杆、框型缓冲板、框型凸起和橡胶缓冲垫的相互配合，可以使各个探针在进行与封装电路接合时具备一定的缓冲性能，从而可以避免瞬时冲压力过大导致探针损坏或对封装电路接点造成损坏现象，也可以降低探针头部磨损现象，利于探针的长时间使用。
[0015]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本申请可以在进行封装电路测试前，对各个探针进行快速的自检测试，降低封装电路被误判的可能性，减少时间浪费，间接提高整体的测试速度，同时可以避免瞬时冲压力过大导致探针损坏或对封装电路接点造成损坏现象。
附图说明
[0016]图1为本申请提出的一种快速式探针插座测试盒的结构示意图；
[0017]图2为图1中绝缘机盒的俯视结构示意图。
[0018]图中：1、盒体；2、测试基板；3、探针；4、盒盖；5、绝缘机盒；6、线路板；7、导电铜柱；8、LED提示灯；9、框型加强板；10、连杆；11、框型缓冲板；12、框型凸起；13、橡胶缓冲垫；14、橡胶套；15、锁紧螺钉；16、螺纹柱。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0020]参照图1
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2，一种快速式探针插座测试盒，包括盒体1，盒体1的内部设有测试基板2，测试基板2上安装有多个探针3，盒体1的下方设有盒盖4，盒盖4的端面开设有多个与探针3相匹配的通孔，且各个探针3均穿过通孔呈滑动设置，盒体1的上方设有绝缘机盒5，绝缘机盒5的内部安装有线路板6，线路板6上安装有多个与探针3位置相对应的导电铜柱7，绝缘机盒5的端面开设有框型槽，且各个导电铜柱7均贯穿框型槽的槽底设置，绝缘机盒5的外侧壁固定设有与线路板6相连接的LED提示灯8，测试基板2上设有贯穿盒体1侧壁的接头，用于接通外部线路，此为现有技术，故未作过多赘述。
[0021]测试基板2的上端面固定有框型加强板9，框型加强板9的端面固定设有多个连杆10，多个连杆10的杆端共同固定连接有框型缓冲板11，盒体1的上端面一体设置有框型凸起12，且框型凸起12与盒体1的上内壁共同开设有与框型缓冲板11相匹配的缓冲槽，且缓冲槽
的槽底与框型缓冲板11之间共同固定设有橡胶缓冲垫13，通过橡胶缓冲垫13的设置，可以在测试时，探针3与封装电路接点接合时，进行一定的缓冲，从而可以防止瞬时冲压力过大导致探针损坏或对封装电路接点造成损坏现象。
[0022]各个通孔的孔壁均固定连接有橡胶套14，且各个橡胶套14的内壁均与同侧探针3的侧壁呈接触设置，通过此种设置，可以确保各个通孔与探针3之间的密封性，防止异物进入。
[0023]盒盖4与盒体1的端面外缘处共同螺纹连接有一组锁紧螺钉15，通过此种设置，可以便于盒盖4与盒体1之间的拆分。
[0024]框型凸起12的内壁为圆形设置，绝缘机盒5的下端一体设置有螺纹柱16，且螺纹柱16的柱壁与框型凸起12的内壁螺纹连接，通过此种设置，可以便于绝缘机盒5的安装及取下。
[0025]各个探针3靠近测试基板2的一端直径大于探针3远离测试基板2一端的直径设置，通过此种设置，可以提高探针3与测试基板2之间的连接强度。
[0026]本申请中，使用时，在进行封装电路测试前，将绝缘机盒5取下，并拿至盒体1下方，使其与各个探针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速式探针插座测试盒，包括盒体(1)，其特征在于，所述盒体(1)的内部设有测试基板(2)，所述测试基板(2)上安装有多个探针(3)，所述盒体(1)的下方设有盒盖(4)，所述盒盖(4)的端面开设有多个与探针(3)相匹配的通孔，且各个探针(3)均穿过通孔呈滑动设置，所述盒体(1)的上方设有绝缘机盒(5)，所述绝缘机盒(5)的内部安装有线路板(6)，所述线路板(6)上安装有多个与探针(3)位置相对应的导电铜柱(7)，所述绝缘机盒(5)的端面开设有框型槽，且各个导电铜柱(7)均贯穿框型槽的槽底设置，所述绝缘机盒(5)的外侧壁固定设有与线路板(6)相连接的LED提示灯(8)。2.根据权利要求1所述的一种快速式探针插座测试盒，其特征在于，所述测试基板(2)的上端面固定有框型加强板(9)，所述框型加强板(9)的端面固定设有多个连杆(10)，多个所述连杆(10)的杆端共同固定连接有框型缓冲板(11)，所述盒体(1)的上端面一体设置有框型凸起...

【专利技术属性】
技术研发人员：于晓丹，金龙，王悦，
申请(专利权)人：深圳市达讯通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：