电子器件老化试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种电子器件老化试验装置，包括壳体，在壳体内设有支架，支架用于承载多个老化试验模块，支架将壳体内腔分隔为进风风道和回风风道；支架上设有多个试验进风口，试验进风口对准老化试验模块，试验进风口连通进风风道和回风风道；进风风道与回风风道之间设有循环风机，以使风在进风风道与回风风道之间往复循环。能够均匀的分配给予各个试验元件的测试环境，确保试验结果的一致性。设置的加热装置、温度传感器、循环风机、电控新风口和主控装置的组合，能够在安全可控的范围内，利用模拟的极限环境，加速得出试验结果。设置的进风压力传感器、回风压力传感器和主控装置的组合，还能够进一步的提高试验的效率。还能够进一步的提高试验的效率。还能够进一步的提高试验的效率。

【技术实现步骤摘要】
电子器件老化试验装置


[0001]本技术涉及电子器件试验装置领域，特别是一种电子器件老化试验装置。

技术介绍

[0002]随着光通信技术的发展，网络的稳定性和可靠性也越来越受到重视，光器件及模块的可靠性测试需求也越来越大。光器件在进行可靠性测试时，需要进行高温加电老化测试，筛选出状态不稳定、性能指标下降明显的产品。器件老化常用的方法是将器件放在温箱的高温环境中，给器件加电，经过一定时间后取出筛选出不良品。传统温箱采用热风整体循环的模式进行仓内温度控制，风速相对较小，而且在仓体内部不同位置气流流速不均匀。当器件功率较大时，由于器件自身的发热量很大，风速较大的地方，器件散热良好温度较低，而风速较低的地方，器件散热不良温度很高。采用传统的老化风道设计，由于模块之间温度相差较大，不能给整仓模块提供一个相对准确的老化环境，达不到早期筛选的目的。中国专利CN 111273107 A伺服驱动装置测试柜中记载的方案，即存在上述模块之间温度相差较大的问题。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是提供一种电子器件老化试验装置，能够确保各个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子器件老化试验装置，包括壳体（1），其特征是：在壳体（1）内设有支架（3），支架（3）用于承载多个老化试验模块（20），支架（3）将壳体（1）内腔分隔为进风风道（5）和回风风道（8）；支架（3）上设有多个试验进风口（7），试验进风口（7）对准老化试验模块（20），试验进风口（7）连通进风风道（5）和回风风道（8）；进风风道（5）与回风风道（8）之间设有循环风机（2），以使风在进风风道（5）与回风风道（8）之间往复循环。2.根据权利要求1所述的一种电子器件老化试验装置，其特征是：在进风风道（5）或回风风道（8）设有加热装置（4），加热装置（4）为电加热装置，电加热装置（4）与散热片连接，散热片沿进风风道（5）或回风风道（8）的横截面布置，以使风必须经过散热片换热。3.根据权利要求1所述的一种电子器件老化试验装置，其特征是：所述的支架（3）成“S”形布置，回风风道（8）与多个分支进风风道（6）连通，回风风道（8）与多个分支回风风道（22）连通，各个分支进风风道（6）与分支回风风道（22）之间，通过试验进风口（7）连通；老化试验模块（20）安装在分支回风风道（22）。4.根据权利要求3所述的一种电子器件老化试验装置，其特征是：所述的老化试验模块（20）以可拆卸的方式与分支回风风道（22）连接；在分支回风风道（22）设有试验转接板（17），试验转接板（17）上设有连接座（207），连接座（207）用于与转接板（202）电连接，在试验转接板（17）上与连接座（207）相对的位置设有定位销（201）或螺钉，定位销（201）或螺钉用于锁定转接板（202）。5.根据权利要求4所述的一种电子器件老化试验装置，其特征是：定位销（201）上设有可转动的压板，当转接板（202）的一端插入到连...

【专利技术属性】
技术研发人员：周鹏，马超，徐智号，唐朋，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：