本发明涉及超小型发光二极管的点亮测试装置。本发明的超小型发光二极管的点亮测试装置，包括：面接触探针，其通过电阻率部件与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的发光二极管组件的前面面接触，从而使多个超小型发光二极管的两端电极互相接触；探...

本发明公开激光加工装置。本发明的激光加工装置的特征在于，包括：激光产生部，使多个波长同时振动，来产生具有激光啁啾特性的极超短波(Ultra Short Pulsed)的激光；激光放大部，用于放大在激光产生部所产生的激光；色散调节部，用于...

本文公开了一种非接触型探测器。该非接触型探测器提供有单个供电电极和多个传感器电极以及将分别放置在像素部分、电路部分和导线部分上的多个传感器电极，以为了检查显示面板中的图案电极的断路和短路部分，由此防止产生死区，改善感应的精确度以在断路检...

本发明提供一种差动电容式传感器模块及使用该模块的用于显示面板的检查设备。当交流电源应用到形成在显示面板上的模式电极的一侧时，所述检查设备通过非接触式传感器测量的电压和通过非接触式差动传感器测量的差动电压来检查所述显示面板的交叉短路，其中...

本发明涉及电路板检查装置，通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极、接通交流电源后，通过电容式非接触传感器检测电压值的同时感知差分电压值或相位差，节点电极发生短路或断线时，即使电流流过断线部位，也能通过一次扫描、准确地检测。

公开了一种电路衬底的检测方法，该方法用于检测具有多层的结构的电路衬底的电气性质，该方法通过控制检测环境使得露珠形成在电路衬底的表面上并探测露珠状态的改变，从而确定关于有缺陷的触点或导通孔、微导通孔和内层的电路图案的导线的热容量的变化。根...

本发明涉及接触式金属丝制探针，该探针采用的柔性金属丝具有扫描方向的惯性力矩小于垂直于扫描方向的惯性力矩的截面形状，在施加弯曲作用力使其向扫描方向弯曲的状态下进行扫描时，不仅能够提高扫描方向性，而且由于柔性金属丝在弯曲状态下进行扫描，能够...

本发明公开了在因特网中使用蜂窝式电话的鉴别方法，按照本发明，在连接到因特网或执行电子商务时是通过蜂窝式电话用用户参加蜂窝式电话服务时存储的个人信息，对该蜂窝式电话特定的号码，连接或结帐时所需的鉴别中的号码平行执行鉴别的。具体地，在建立帐...

本发明涉及使用球体的接触式探测器，该探测器在２个小钢球之间用大钢球作为探针，通过磁力使大钢球接触任意一个小钢球，从而大钢球以点接触方式与小钢球连接，大钢球不仅能够沿上下方向自由移动，而且通过较小的力就可以很容易地旋转，从而能够在不对阵列...

一种可提高制品的合格率和性能的面板的电极图形试验用短路棒。其包括：在与电极图形对置的侧面上形成一部分开放的筒形的长沟的主体；在筒形的长沟中埋设的，多个凸部和凹部从开放部位突出的，其外周面与主体４２的长沟４４的内侧面对接的弹簧金属丝４６；...

本发明涉及一种利用滚动线探测器的电极图案的检测装置及方法，其包括：至少一个滚动线探测器，其具有可转动的滚动线，以实现不滑动地越过电极图案进行滚动接触；一个控制单元，其用于控制检测装置的整个操作，并根据通过滚动线探测器的滚动线探测到的电信...

此处公开的是非接触单面探测以及用于测试模式电极的开路和短路的装置和方法。通过馈送电源到每个模式电极的一端并且使用作为独立模块的包括激励电极和传感器电极的非接触型单面探测设备感测电气变化值，模式电极的开路和短路能够通过一个扫描处理被测试。...

一种非接触型单面探针结构，在该结构中重复堆叠了多重绝缘薄膜和多重导电薄膜，该结构包括形成于该结构横截面的内导电薄膜部分上的探针电极，以及形成于环绕该探针电极的外导电薄膜部分的防护部分。因此，该结构能够形成具有导电薄膜厚度的探针电极，所述...

公开了一种用于测试导线开路和短路的设备和方法。探针被引入以与每一导线的一端相接触，施加ＡＣ电源，并且使用在所述探针中测量的电子变化来测试所述导线。当测试ＰＣＢ导电线图、数据传输线或电缆时，通过使用单面探针装置可以显著地减少探针的数目，并...