本实用新型公开了一种芯片磨面导入装置，包括底板，底板上滑动设置两个安装板，安装板上设置芯片盘固定机构，芯片盘固定机构包括设置在安装板上的两个支座，支座上设置第一支撑臂，第一支撑臂与支座转动连接，第一支撑臂远离支座的一端设置第二支撑臂，第...

本发明公开了一种闪存测试装置、方法、设备及介质，属于闪存测试领域，装置包括：有限状态机，用于采用FSMC、SPI双通道切换技术供用户自主选择测试算法进行测试；计数器三，用于在用户选择测试算法后，向有限状态机下达测试算法执行信号；计数器一...

本实用新型公开了一种生产线用半导体芯片储存装置，包括存储箱、安装在存储箱上的箱门，所述存储箱的底部设有减震器，所述减震器的下端安装有移动轮，所述存储箱的内部沿竖直方向排列设有多组放置机构，所述放置机构包括两个U型条框，两个所述U型条框分...

本实用新型公开了一种用于半导体芯片测试的微调支架，包括底座，所述底座的上端设有滑动板，所述滑动板的下端与底座的上端滑动连接，所述滑动板的上端设有支撑杆，所述支撑杆的下端固定连接有第二矩形块，所述第二矩形块与滑动板的上端转动连接，所述支撑...

本实用新型公开了一种半导体芯片加工测试装置，所述半导体芯片加工测试装置包括：安装板和所述安装板上固定连接的检测器，所述检测器上端固定连接有放置板，所述放置板上表面开设有多个凹槽，所述检测器用于对半导体芯片的检测，夹持部件，所述夹持部件包...

本实用新型公开了一种半导体芯片引脚检测辅助装置包括安装架，所述安装架一侧内壁开设滑槽，所述滑槽内均滑动连接滑块，两个所述滑块一端均固定连接横杆，两个所述横杆一端均固定连接安装管，两个所述安装管内壁均滑动连接竖轴，两个所述竖轴一端均固定连...

本实用新型公开了一种半导体芯片测试板卡，包括防护壳，所述防护壳中转动连接有丝杠，且丝杠上螺纹连接有与防护壳滑动连接的支撑座，所述防护壳上设置有与丝杠相配合的调节机构，所述支撑座上开设有放置槽，且放置槽中放置有板卡本体，所述放置槽上开设有...

本实用新型公开了一种半导体芯片测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的上端面固定连接有两个对称设置的固定板，两个所述固定板之间固定连接有横板，所述横板与测试座本体之间设有箱体，所述箱体内设有测试仪，所述横板上设有用于对箱体进行移动的移动...

本实用新型公开了一种数据信息储存芯片安全保护罩，包括底板和置于底板上的储存芯片本体，所述底板靠近储存芯片本体的侧壁设有防护壳，所述防护壳通过多个螺栓与底板固定连接，所述防护壳的内侧壁密封连接有导热垫，所述导热垫与储存芯片本体相抵，所述导...

本实用新型公开了一种用于储存芯片的测试治具，包括底座，所述底座上固定连接有固定座，所述固定座上开设有空腔，所述空腔中转动连接有支撑轴，所述支撑轴的上端贯穿空腔并固定连接有固定盘，所述固定盘上开设有多个放置槽，且放置槽的两侧均开设有驱动腔...