一种用于储存芯片的测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于储存芯片的测试治具，包括底座，所述底座上固定连接有固定座，所述固定座上开设有空腔，所述空腔中转动连接有支撑轴，所述支撑轴的上端贯穿空腔并固定连接有固定盘，所述固定盘上开设有多个放置槽，且放置槽的两侧均开设有驱动腔，所述驱动腔中设置有微型电推杆。本实用新型专利技术涉及芯片质检技术领域，通过设置的各个放置槽，使得固定盘可以同时放置多个芯片，且在微型电推杆和夹块的配合下，可以快速实现芯片的夹持稳固，通过设置的控制机构和定位机构的配合，使得使用者可以依次控制各个芯片进行检测作业，进而使得本装置每次可以辅助多个芯片进行检测作业，大大提高了检测效率。大大提高了检测效率。大大提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于储存芯片的测试治具


[0001]本技术属于芯片质检
，尤其涉及一种用于储存芯片的测试治具。

技术介绍

[0002]储存芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用，因此，无论是系统芯片还是储存芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，实现多功能和高性能，以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。
[0003]储存芯片在生产的过程中，常需要对芯片样品进行检测，芯片测试治具是一种用于芯片检测过程中，对芯片进行放置固定，以便后续进行检测的辅助装置，传统的芯片测试治具在使用的过程中，一般每次只能辅助稳固一个芯片进行检测作业，较为影响检测效率。
[0004]为此，我们提出一种用于储存芯片的测试治具解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决上述的问题，而提出的一种用于储存芯片的测试治具。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0007]一种用于储存芯片的测试治具，包括底座，所述底座上固定连接有固定座，所述固定座上开设有空腔，所述空腔中转动连接有支撑轴，所述支撑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于储存芯片的测试治具，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上固定连接有固定座(17)，所述固定座(17)上开设有空腔(2)，所述空腔(2)中转动连接有支撑轴(3)，所述支撑轴(3)的上端贯穿空腔(2)并固定连接有固定盘(4)，所述固定盘(4)上开设有多个放置槽(5)，且放置槽(5)的两侧均开设有驱动腔(6)，所述驱动腔(6)中设置有微型电推杆(7)，且微型电推杆(7)的输出端固定连接有夹块(8)，所述夹块(8)与放置槽(5)滑动连接，所述固定座(17)上开设有环形滑槽(9)，且环形滑槽(9)中开设有定位卡槽(10)，所述固定盘(4)的下端设置有与各个放置槽(5)一一对应的定位机构(11)，且定位机构(11)的输出端可与定位卡槽(10)卡接，所述空腔(2)中设置有与支撑轴(3)相配合的控制机构(12)。2.根据权利要求1所述的一种用于储存芯片的测试治具，其特征在于，所述定位机构(11)包括滑套(111)、滑块(112)和定位卡块(113)，所述滑套(111)固定设置于固定盘(4)的下端，所述滑块(112)与滑套(111)滑动...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭飞，陈宗廷，朱放中，
申请(专利权)人：深圳市九章半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：