日本电气株式会社专利技术

日本电气株式会社共有10116项专利

  • 在一种检测其转子旋转于旋转磁场中的交流感应电动机或者同步电动机的矢量控制原电流异常现象的装置中,输送到矢量控制系统的表示激磁电流id和转矩电流ig的信号被输入到微型计算机.每经过一预定的时间间隔ΔT计算出电动机原电流的瞬时值I-[1]和...
  • 本发明提供在LSI中的时间常数检测电路,以检测在LSI中作为时间常数的电阻和电容元件值的变化。模拟开关1和3在周期T(秒)内分别交替地接通和断开,以控制电容2的充放电。电容2的电容量C形成电阻R↓[p]=T/C的伪电阻6,预定DC电压V...
  • 一种分检装置,包括一个鼓形部件,上面具有分检通孔,通过与之相关联的闸板使得上述通孔有选择性地处开启或关闭,将经过检测装置检测的半导体器件顺序地存放在分检测通孔中,当分检通孔中的一个对准用于某一等级的存放箱时,将闸板开启,使半导体器件落入...
  • 本发明涉及一种铁磁体传感器,其包括:通路形成装置,用以限定铁磁体的通路;磁铁,其设置在所述通路附近,以形成磁场;和磁场检测元件,其用以检测由所述磁铁所形成的磁场一部分,所述磁场部分平行于所述磁场检测元件的平面而延伸;其中所述通路形成装置...
  • 半导体动态随机存取存储装置,在WE/CAS-Before-RAS时刻进入测试模式,在有超电压(SV)情况下有选择性地执行自诊断功能,当超电压作用在信号管脚(T11)上时,超电压检测电路(24a)检查电压电平是否超过正电源电压(V↓[dd...
  • 本发明公开了一种电路校验方法,用以校验半导体器件的电路是否满足逻辑操作规程并在设定半导体器件时用以预先确定操作定时要求。分别制备具有能够不断变化的功能部件的地址数据宏模块和具有一般功能部件的外围功能宏模块。只将外围功能宏模块储存在一个程...
  • 本发明涉及半导体晶片测试,每个晶片包含多个芯片,对全部晶片进行初始测试,结果表示晶片中每个芯片是良好,有缺陷的,以及预测为良好芯片中的任一种。再把每个预测为的良好芯片进行微调,使其成为良好芯片。此后,对在半导体晶片中取样晶片进行最后晶片...
  • 一种供LSI内部宏观单元用的测试电路,其中为测试所需增加的端子数可减到最少,并且可在短时间内完成测试。该电路包括:接有多个宏观单元的测试路径,数据能独立地施加而与正常工作电路无关;一选择电路或端子用于选择经测试路径待测的宏观单元;一数据...
  • 一种用于避免由于在输出端的数值同时改变而产生的噪声的方法,其中包括:第一过程,计数当边界扫描单元输出输入模式时输出缓冲器15A-15D的输出值发生改变的输出缓冲器的数目;第二过程,检查所计数的输出缓冲器的输出数值改变时产生的噪声量;第三...
  • 用于产生一测试模型以对半导体器件的至少一个电路块(24-1,24-2,24-3)进行测试的方法,所述半导体器件包括与上述电路块相连的控制电路(21),上述测试模型是通过以与控制电路的特性相对应的一个数据转换库(12)作为参考来为电路块转...
  • 本发明提供一种具有高精度的频率判定电路,以便判定时钟信号的频率是高于还是低于参考频率。由开关晶体管根据时钟信号的控制,用电源电压循环地对电容器元件充电和放电。比较器电路将由频带间隙调整器电路从电源电压产生的恒定参考电压与储存在电容器元件...
  • 以往的晶片检查用探测器,在40μm间距以下的细微间距的情况下,根据构成材料与制造方法,存在很难确保位置精度、因针径细微导致接触时产生针破坏、因接触力不足而无法得到良好的接触、以及耐久性不足的问题。为了解决这些问题,本发明中的检查探测器,...
  • 提出了一种用于以高准确度来检测二次电池的内阻抗的内阻抗检测设备。处理器(106)将由电压变化检测器(103)所检测的每一个电压的变化除以在与电压变化相同的检测时间内由电流变化检测器所检测的电流变化来计算内阻抗。判断单元(107)检查由处...
  • 公开了一种无线电监控装置,包括一个无线电台差别单元,一个方向测量单元,一个传输源位置估计单元和一个传输源位置分类单元。所述无线电台差别单元输出无线电台差别信息,来从接收信号中唯一地辨别作为传输信号的传输源的无线电台。方向测量单元测量所述...
  • 在彼此平行布置有导体层以将电介质层夹在其间的印刷电路板中,在设置在导体层中的开口部分周围设置有连接到导体层的多个通孔通路,这些通路间留有间隙。此外,用于激励的通孔通路以不与导体层接触的方式设置在导体层的开口部分中和匹配这些开口部分的电介...
  • 本发明提供一种电场/磁场传感器及它们的制造方法,通过气浮沉积法将法布里佩洛型谐振器结构的电气光学膜直接形成在光纤维的顶端部的研磨面而得到所述电场传感器。
  • 根据本发明的半导体器件测试装置具有测试LSI;供电单元;和用于连接测试LSI、供电单元和测试器的中间基板。测试LSI具有测试电路和波形整形电路;介电材料层,其被设置成面对待测试的半导体器件;电极,其被设置在属于介电材料层、并且面对待测试...
  • 一种诊断支持系统(10),包括:诊断数据获取单元(20),用于获取诊断数据,其中当使用芯片(12)将从测试主体收集的样本分成多个成分时,反映每一种成分移动速度的移动参数与每一种成分的特性是相对应的;参数存储单元(34),与疾病对应,用于...
  • 公开了下列:裂解肽的C端的肽键的方法,其中所述方法在灵敏性降低上有所改善并且产生很少的副作用;和确定肽的C端氨基酸序列的方法。裂解肽的C端的肽键的方法包括下列步骤:使肽与包含醇的全卤化羧酸溶液反应,以酯化肽中的谷氨酸残基;和使肽与无水链...
  • 本发明意欲提供简单地和特异性地修饰组成肽的特定氨基酸残基的方法,并且提供使用关于通过详细说明由所述特异性修饰方法修饰的氨基酸残基的数目而获得的肽的新信息来提高鉴定肽的精确度的技术。根据本发明修饰肽的方法的特征在于:将固定在支持物上的肽和...