【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于为半导体器件(如单片机)的测试电路块(外围宏)产生测试模型的方法及设备。一般来说，一个单片机的组成除了中央处理器和存储器以外还有各种外围宏，如显示控制宏、通信控制宏以及时间宏。在制造单片机的过程中，这些外围宏必须与CPU和存储器一起进行操作测试。同时，由于CPU是按多个系列而被制造出来的，其结果使得CPU的位数以及指令代码也随系列的不同而不同。因此，在先前用于测试外围宏的方法中，即使在单片机中通常使用的是相同的外围宏，也必须从外部向具有不同系列CPU的单片机提供不同的测试模型。这就需要产生大量的新测试模型，而且用于准备这些测试模型所需的负荷和时间也相当大。我们注意到，可以将一个被专门设计用于外围宏测试的模型安排在单片机的内部并使其与该单片机的宏连接。但是，这种方法会造成使测试终端数目增加的问题，因而不可行。本专利技术的一个目的是提供一种用于产生测试模型的方法和设备，该测试模型可对半导体器件(如单片机)的测试外围宏进行测试，其能够减少准备这个测试模型所需的负荷和线路。根据本专利技术所述，在用于产生测试模型的方法中，可对半导体器件的至少一个...
【技术保护点】
用于产生测试模型以对半导体器件的至少一个电路块（２４－１，２４－２，２４－３）进行测试的方法，该半导体器件含有与上述电路块相连的控制电路（２１），上述方法的特征在于包括这样的一个步骤，即，通过以与上述控制电路的特性相对应的数据转换库（１２）作为参考，来为上述电路块转换出公用测试模型（１１），从而生成上述测试模型。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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