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杭州中安电子有限公司专利技术
杭州中安电子有限公司共有39项专利
一种高速ADC/DAC的测试系统及方法技术方案
本申请公开了一种高速ADC/DAC的测试系统及方法,包括承载机柜以及设置在承载机柜内的PC人机交互单元、老炼测试电源以及若干试验抽屉,所述PC人机交互单元与老炼测试电源通过通讯转接板连接,与试验抽屉之间通过网络交换机连接,老炼测试电源与...
晶圆老化测试设备制造技术
本发明实施例公开了一种晶圆老化测试设备。该晶圆老化测试设备包括:晶圆测试模块组、控制系统和系统电源安装于机箱;系统电源,用于对晶圆测试模块组和控制系统进行供电;控制系统,用于控制晶圆测试模块组进行老化测试;晶圆测试模块组,用于放置至少一...
一种GaN功率循环测试系统及方法技术方案
本发明涉及GaN器件测试技术,公开了一种GaN功率循环测试系统及方法,其大功率恒流电源模块用于提供GaN测试器件的大电流;小功率恒流源模块用于提供GaN测试器件结温测试的电流;GaN测试器件一端与高速差分采集模块连接,另一端与低速差分采...
一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统技术方案
本发明涉及数字IC芯片测试技术,公开了一种数字IC芯片的功能测试的方法和系统,其测试矢量压缩模块,用于将接收的数据进行编码压缩,并按照索引号分批存储;测试矢量解码运算模块,用于将测试矢量压缩模块里的数据按一定的索引号读出解码,并按一定的...
一种T/R组件控温测试装置制造方法及图纸
本实用新型涉及器件测试装置技术领域,提供了一种T/R组件控温测试装置,包括水冷平台、插拔装置以及进水管和出水管,所述水冷平台内设有水冷腔体槽,水冷平台的背面设有水冷平台盖板,水冷平台盖板通过防水垫圈将水冷腔体槽密封形成水冷腔,所述水冷腔...
一种高压大电流的动态老化测试系统技术方案
本实用新型涉及老化测试装置,公开了一种高压大电流的动态老化测试系统,其包括单片机控制单元、高压测试单元和低压测试单元;高压测试单元用于控制交流反向VR的输出,报警显示单元用于对老化测试器件进行报警显示;低压测试单元包括电子负载、低压变压...
一种老化箱的多单元风道结构制造技术
本发明涉及一种老化试验箱的多单元风道结构,包括老化箱,多单元风道结构位于老化箱箱体内,多单元风道结构包括面板,隔风抽屉以及出风口,隔风抽屉位于老化箱箱体中间,面板位于隔风抽屉前面,出风口位于老化箱箱体的两侧面,隔风抽屉为多单元独立风道。...
一种微波器件的结温控制系统和方法技术方案
本发明涉及结温控制技术,公开了一种微波器件的结温控制系统和方法,其通过实时采集器件的工作参数,漏电压Vd、漏电流Id、输入功率Rfin、输出功率Rfout以及壳温Tc,计算器件的并估算结温Tj,比较设置的结温与计算的结温之间的偏差,超过...
基于SiC功率器件的测试系统和方法技术方案
本发明涉及SiC的测试技术,公开了基于SiC功率器件的测试系统和方法,其采集单元用于采集功率器件测试单元的电压VD和电流ID;主控制单元用于控制采样单元、功率器件测试单元和电源单元,并将模拟信号传送至数模转换单元;电源单元提供VG负压及...
基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置制造方法及图纸
本发明涉及GaN器件测试技术,公开了基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置,其包括包括控制端,VDS采样模块、VD漏电流测试模块和IM恒流模块;控制端用于提供PWM波至测试GaN器件的G端;VDS采样模块用于采集测试GaN器件端的导...
一种双面水冷负压夹具制造技术
本发明涉及一种双面水冷负压夹具,包括夹具和被测试器件,被测试器件夹持在夹具内,夹具包括夹具座、探针座、水接头,夹具座包括上夹具座、下夹具座,器件托板位于上夹具座和下夹具座之间,上夹具座和下夹具座分别具有水冷通道,探针座包括前探针座和后探...
一种裸芯级恒温密闭装置制造方法及图纸
本发明涉及器件测试装置技术领域,提供了一种裸芯级恒温密闭装置,所述装置由控制检测模块,小型化密闭恒温装置,氮气连接密闭装置组成,位于老化箱箱体内,所述小型化密闭恒温装置包括大腔体高温恒温装置和小腔体密闭恒温装置,所述小腔体密闭恒温装置位...
一种多工位结温测试方法技术
本发明公开了一种多工位结温测试方法,该方法包括以下步骤:S1、获取被测器件的数量数据,并判断被测器件数量是否超过预设阈值,若否,则执行S2,若是,则执行S3;S2、利用通用测试器件结温线路对被测器件数量不超过预设阈值的器件进行结温测试,...
一种HPD器件自动化测试装置制造方法及图纸
本实用新型涉及电子元器件测试装置技术领域,提供了一种HPD器件自动化测试装置,包括导轨支架组件、升降压力盒组件以及温控平台,导轨支架组件的下端固定在整机底板上,温控平台安装在整机底板上,升降压力盒组件安装在导轨支架组件的上端。该装置温控...
一种车规级MCU器件TDBI测试方法技术
本发明公开了一种车规级MCU器件TDBI测试方法,包括上位机、ARM板、直流信号处理模块、数字信号处理模块、模拟信号处理模块、老化板,所述上位机连接设有ARM板,所述ARM板分别连接设有直流信号处理模块、数字信号处理模块、模拟信号处理模...
一种TR组件的测试装置和方法制造方法及图纸
本发明涉及TR组件测试技术,公开了一种TR组件的测试装置和方法,其通过点频信号源、公分网络、输入输出检波器和波控模块的方式,实现射频信号的加载和测试。本发明集成了单模块供电和独立温控方式,实现DUT的直流电加载和DUT温度平台的独立控制...
一种射频器件的高温测试装置制造方法及图纸
本实用新型涉及射频器件测试技术,公开了一种射频器件的高温测试装置,其点频信号源提供电源信号至功分网络,功分网络对接收的信号进行功率的均分,并传送至输入检波器,输入检波器进行输入功率的读取将调整后的信号传送至隔离器及主控制模块,隔离器对输...
基于自适应蚁群算法的任务分配方法和系统技术方案
本发明涉及设备任务分配技术,公开了基于自适应蚁群算法的任务分配方法和系统,其包括,导入任务数据,对导入的数据预处理,并根据设备状态信息对任务数据进行拆分;任务数据的实时分配,对导入的任务数据建立多目标多约束的任务分配数学模型,并通过蚁群...
一种多功能偏置试验方法技术
本发明公开了一种多功能偏置试验方法,包括试验器件、单刀双掷继电器K、VD电源、VG电源、D端单片机、G端单片机、主控单片机,所述试验器件为待测器件,所述试验器件设有D极与G极,所述单刀双掷继电器K分别连接所述试验器件的所述D极与G极,所...
一种热阻测试的设备制造技术
本实用新型公开了一种热阻测试的设备,包括一体式触摸工控电脑、控制检测模块、IH大功率电源、VCB大功率电源、快速关断模块、高速数据采集模块、恒温模块、快速插拔接头以及集中控制系统。进一步的,集中控制系统通过通信线与控制检测模块和高速数据...
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