本发明提出了一种方法和装置，用于利用电容引线框架技术来检测电气设备的被测不探查节点上的开路缺陷。根据本发明的方法，利用已知的源信号来激励与被测不探查节点相邻的被探查节点。容性感测探针的传感器被容性耦合到至少电气设备的被测不探查节点和被探...

在一个实施例中，指令的执行致使机器：１）显示自动测试设备（ＡＴＥ）测试模板选择工具；２）在用户从ＡＴＥ测试模板选择工具中选出一个测试模板之后，显示所选测试模板的缺省参数；以及３）向用户提供对测试模板配置工具的访问，所述测试模板配置工具使...

本发明公开了一种使用电容性引线框技术来检测电器件的接地节点上的开路缺陷的方法和装置。根据本发明的方法，用已知的源信号来激励可访问的信号节点，该节点电容性地耦合到接地节点。电容性传感板被电容性地耦合到电器件的被激励的节点和接地节点，并且被...

本发明公开了一种实现用于测试印刷电路板的可测性插头的方法和装置。该方法和装置通过使用实现来在电路组件的测试仪可达的信号节点和插座的没有到其可测信号节点的任何耦合的节点之间产生电容性耦合的电容性插座来得到插座的可测性。通常，通过在插座的信...

在ＰＲＡＭ等器件的测定中，由于输入的脉冲信号变钝，因此无法精确地测定实际施加到器件上的电压或者流经器件的电流。为解决上述问题，在本发明中，设置与器件的端子接触的探针和脉冲发生器，并在同轴电缆的中间设置了测定电流用的分流电阻器，通过有源差...

本发明提供了一种示波器探头测试夹具，其提供了用于将每个探头顶端压靠沿着传输线的位置的分离夹子。多个邻近的夹子可以共用共同的轴。一个夹子定位在接地平面上方，该接地平面邻接带传输线的中心导体，而另一个夹子定位在该中心导体上方。各个夹子的每个...

本发明公开了一种探测器及设备。探测器包括适合于连接至靶并从靶分离的探头。设备包括在靶上的多个连接组件。

本发明公开了一种探头。该探头将电信号提供到接收器件。探头具有探头顶端和信号接地传输元件，且信号接地传输元件构造为提供固有的弹簧属性。

本发明可提供一种能够排除由于控制电压的变化而产生的偏移电流的影响、从而能够高精度地测量像素驱动电流的测量方法及装置。可以通过以具有以下步骤为特征的像素驱动电流测量方法等来解决上述问题：第一步骤，测量当将多个像素全部设定为不发光状态时流向...

本发明公开了一种用于从被测电路释放电压的方法和装置。在一个实施例中，通过在电路测试器的管脚已经被耦合到被测电路的节点之后，使管脚中的第一管脚成为活动管脚，并对活动管脚执行电流释放过程，来从被测电路释放电压。电流释放过程将电流释放电路耦合...

本发明公开了一种测试夹具，其适合于屏蔽被测设备（ＤＵＴ）以免受时变电磁辐射的影响。这种测试夹具包括：下部和上部，其中所述上部适合于打开；适合于接收被测设备的抽屉式装置，其中，所述抽屉式装置适合于将所述ＤＵＴ引入到所述下部中；和配接结构部...

本发明公开了一种构造为与插入操纵器和测试头结合以帮助被测试器件（ＤＵＴ）的电气或电子测试的可旋转或可平移的传送台。传送台构造为在第一被测试器件（ＤＵＴ）装载到传送台第一测试位置的情况下在第一位置中放在测试器的测试头上。在第一位置处对第一...

本发明公开了一种ＳＯＣ测试器系统和方法，对第一组器件进行测试的同时，将第二组器件装载到第二组ＤＵＴ测试位置中，从而消除了ＳＯＣ测试器的转位时间，或者至少使其减少到在两组待测ＤＵＴ之间由电子开关进行切换或进行机械式换档所需的延时。所述两组...

本发明通过给接地面设置台阶架防止了沿弹簧偏置的针脚探头组件的特征阻抗未受控情况，所述台阶架沿针脚向外并向着目标信号延伸。向外延伸的长度选择为使得在产生并维持接触的同时，即使弹簧只有（或至少有）期望的很小压缩量，针脚的整个暴露部分也超过台...

本发明公开了一种集成到ＤＵＴ／探针板中的ＤＵＴ接触器。集成到ＤＵＴ／探针板中的ＤＵＴ接触器可以包括位于多层的印刷电路板的一个表面上的凸起的金属化接触层。

本发明公开了一种探头。该探头将电信号提供到接收器件。探头具有探头顶端和信号接地传输元件，且信号接地传输元件构造为提供固有的弹簧属性。

一种探测系统具有用于电连接到配套的探针附件的探测附件，该配套探针附件连接到测试点，其中，该探测附件通过仅仅施加张力俘获和释放该配套探针附件。

本发明涉及用于评估被测设备（ＤＵＴ）的输出信号（１）的方法，其中所述被测设备（ＤＵＴ）响应于自动测试装置（ＡＴＥ）提供的输入信号而输出所述输出信号（１），所述方法包括以下步骤：生成差值信号（４），其代表所述被测设备（ＤＵＴ）的所述输出信...

本发明公开一种探头装置，其具有第一接入端口、第二接入端口和测量端口。第一接入端口和第二接入端口适于置于测试电路中。电压放大器和电压分压器适于向每一个第二接入端口和测量端口提供表示由第一接入端口接收的电压的电压。

本发明公开了一种流水线测试仪，其能够以流水线方式测试片上系统（ＳＯＣ）或被测器件（ＤＵＴ）。该测试仪提供对被顺序装载到测试仪中的ＳＯＣ和ＤＵＴ进行更快更经济的测试。测试仪中部署有多个下方测试台。在测试台上部署有相应的被配置为在其中接收可...