本发明公开了一种用于产生稳定的频率信号的装置（２０）。该装置（２０）包括具有第一、第二和第三能态的量子吸收体（１３）。量子吸收体（１３）被第一辐射源（２１）照射，第一辐射源（２１）产生具有频率ｖ↓［Ｌ］的电磁辐射，该电磁辐射激发第一和第...

一种用于实现摆动固定探针的方法，所述方法包括：　　　　将轴的第一端附着到在管筒的第一封闭端处的弹簧，其中，所述轴具有第二端上的基本扁平的接触面和在沿所述轴预定位置处的限位器部件，所述管筒具有第二开口端，所述管筒基本为圆筒形，并且具有内壁...

本发明公开了一种用于在在线测试期间清除焊料珠状探测点表面上的氧化物、残留物或其他污染物，并探测印刷电路板上的焊料珠状探测点的扭曲固定探针。

本发明公开了一种方法和装置，用于使用电容引线框架技术，对电子器件（例如，集成电路）的可达和不可达信号节点（例如，集成电路管脚）之间的短路进行检测。根据本发明的方法，用已知源信号激励被测可达节点。电容传感极板被容性耦合到该电子器件的可达节...

公开了一种模拟晶片、利用其校正的系统和校正自动测试设备的方法。在一个实施例中，一种用于校正自动测试设备的模拟晶片包括具有多个互连区域的印刷电路板，每一个互连区域包含一对通过连接迹线耦合的模拟管芯焊盘。在另一个实施例中，一种用于校正自动测...

本发明公开了一种电子接口电路。该电子接口电路包括激励电路，该激励电路还包括：第一电压源；具有第一和第二驱动器输出的驱动器电路；具有第一开关输入、第一开关输出和第一开关控制输入的第一开关；具有第一滤波器输入和第一滤波器输出的第一滤波器；具...

本发明公开了一种用于生成器件模型的方法。利用具有中心频率的大振幅信号来激励器件的输入端口。利用小振幅信号音调来扰动器件的第一端口。小振幅信号音调的频率略微偏移中心频率的谐波。获得来自器件的结果信号的谱分量频率以确定器件的模型系数。至少某...

本发明公开了一种混合信号集成电路测试设备（１０），包括：测试电子部件（１４０），用于生成输入被测器件（５０）的测试信号和接收来自所述被测器件（５０）的响应信号；以及连接在所述测试电子部件（１４０）和所述被测器件（５０）之间的接口（１５０...

本发明公开了自动测试设备校准数据的生成和使用。在一个实施例中，接收对执行自动测试设备校准处理的请求。该请求与一个或多个测试设置相关联。在接收该请求后，标识基于测试设置的若干校准填充点。然后针对测试设置和校准填充点二者生成校准数据。在另一...

一种方法，包括：　　　　将多个激励信号中的每一个顺序地驱动到若干条激励信号路径上，其中所述多个激励信号中的每一个具有触发沿；　　　　当每个激励信号被驱动到所述若干条激励信号路径上时，还将具有感应沿的被压制信号驱动到被压制信号路径上；　　...

本发明公开了一种用于测试电器件的受到隐性测试的节点上的缺陷状况的方法。根据本发明的技术包括利用已知的源信号激励被容性耦合到受到隐性测试的节点的电器件的第一节点；并且容性感测被容性耦合到受到隐性测试的节点的电器件的第二节点上的信号。从被容...

本发明公开了一种电表和从电表获取数据的方法。从利用可旋转元件（１０８）（例如盘片）的电表（１００），通过照明可旋转元件上的点、捕获（２００）来自可旋转元件表面的图像信息、处理（２０２）图像信息以跟踪可旋转元件的运动、并将运动信息转化（２...

本发明公开了一种测试系统和用于其的连接盒。测试系统包括：第一地线，用于将测试器的第一接地端子连接到探测器的第二接地端子：接地平面，覆盖测试器的底表面和探测器的底表面并通过第二地线连接到第一接地端子；以及包括电源端子座和接地端子座的连接盒...

本发明是一种使用容性耦合技术诊断集成电路器件的不可访问节点或非接触节点上的短路缺陷的方法和装置。根据本发明，交流（ＡＣ）信号发生器被连接，以向被测ＩＣ器件的可访问节点施加交流（ＡＣ）信号。优选地，被测ＩＣ器件的所有余下可访问节点接地。容...

本发明公开了火花隙形成方法和ＥＳＤ保护器件，用适当的激光微加工技术在金属迹线中切割高性能火花隙来抑止混合器电路上的ＥＳＤ作用。迹线可以载于传统印刷线路板或陶瓷衬底上。通过用气体流冲刷切口来减小间隙尺寸，所述冲刷去除汽化的铜并防止其再次沉...

本发明公开了一种双谱分析仪测量系统，其减小了噪声对获取的测量值的影响，使得可以确定接收到的输入信号功率以及双谱分析仪测量系统中每个谱分析仪的噪声。

本发明公开了一种包括电气元件的探针。所述探针具有减小的寄生载荷。还公开了一种具有多个探针的探针组件。

本发明公开了利用数字锁相环和一致性检测器的内置波形边沿去偏。根据本发明的一种测试数字器件的自动测试设备包括：多条驱动通道，每条驱动通道在第一预定时间周期处将数据向量的一位提供给ＤＵＴ；多条接收通道，每条接收通道在第二预定时间周期处锁存来...

一种用于校准自动电路测试系统的方法，包括：　　　　将第一校准单元电耦合在所述测试系统的多个驱动器和比较器之间，所述第一校准单元包括根据第一组关系来耦合所述驱动器和比较器的对的固定接线路径；　　　　当所述第一校准单元被耦合在所述多个驱动器...

本发明提供了使用内部半导体结来辅助非接触型测试的方法。利用关于特定于连接到被测器件的被测节点的被测器件的节点的半导体结特性的知识，改善了电容性引线框测试技术。