自动测试设备校准数据的生成和使用制造技术

本发明专利技术公开了自动测试设备校准数据的生成和使用。在一个实施例中，接收对执行自动测试设备校准处理的请求。该请求与一个或多个测试设置相关联。在接收该请求后，标识基于测试设置的若干校准填充点。然后针对测试设置和校准填充点二者生成校准数据。在另一实施例中，接收对使用自动测试设备执行一个或多个经校准的测试过程的请求，并且结合执行经校准的测试过程中的至少一个，从已有校准数据导出校准数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动测试设备，更具体地说，涉及用于生成自动测试设备校准数据的方法。
技术介绍
在制造和/或销售电子设备(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)等系统或组件)之前，设备一般被测试，以确定其是否如所设计的那样被构造或工作。通常，该测试由自动测试设备(ATE，也称为“测试仪”)执行。为了使ATE的结果有意义，ATE需要被校准。即，ATE在不同条件下的测试期间可能引入的固有系统误差和测试设置必须被量化。量化ATE的固有系统误差的数据通常被称为“校准数据”，并且可包括一个或多个“校准因子”。一旦被生成，校准数据就被用来从原始测试数据中去除ATE的固有系统误差。一种表征ATE的固有系统误差的方法是直接对它们进行测量。通常，这种校准包括将各个ATE探针耦合到一个或多个已知良好的“校准标准”，进行测量，然后将测量结果与预期测量结果进行比较。另一种表征ATE的固有系统误差的方法是利用数学模型对它们建模。然后可从模型来计算校准数据(虽然可能仍有必要使用一个或多个校准标准来获得某些测量值)。校准数据一般分为两类1)表征ATE核心结构(例如ATE的仪表和基本结构——通常是ATE在测试不同设备时重复使用的那些部件)的校准数据，和2)表征处于不同测试设置下的ATE的校准数据。测试设置例如可指定测试将在什么物理和电学参数下发生，例如包括对测试期间将使用的ATE测试通道及其配置的指示(例如包括激励和/或测量通道的标识，以及哪些ATE引脚将被耦合到设备的哪些引脚的指示)；一个或多个测试频率(例如包括测试频率范围)；一种或多种调制格式；一个或多个测量带宽；以及一个或多个功率或电压电平。
技术实现思路
在一个实施例中，一种生成ATE校准数据的方法开始于接收对执行ATE校准处理的请求(该请求与一种或多种测试设置相关联)。然后，基于测试设置的若干校准填充点(padding point)被标识，并且针对测试设置和校准填充点二者生成校准数据。在另一实施例中，一种使用ATE来执行一种或多种经校准的测试过程的方法包括接收对用ATE来执行一种或多种经校准的测试过程的请求，以及结合执行经校准的测试过程中的至少一种，从已有校准数据导出校准数据。还公开了其他实施例。附图说明附图中示出了本专利技术的示例性实施例，其中图1示出了用于为ATE生成校准数据的示例性方法；图2示出了使用ATE来执行一种或多种经校准测试过程的方法；图3示出了校准数据的第一示例性曲线图；以及图4示出了校准数据的第二示例性曲线图。具体实施例方式在对设备进行产品测试之前，必须开发一套用于测试该设备的测试过程。在此过程期间，测试设置可能被重新配置很多次。每次重新配置测试设置，ATE都必须根据重新配置的测试设置被重新校准。这样多次进行重新配置很耗时，并且可能显著增加新设备的“上市时间”周期。但是，如果没有针对新测试设置的校准数据，测试开发者就不能确定他或她的新测试设置是否有用。因此，图1示出了用于为ATE生成校准数据的新方法100。方法100开始于在步骤102接收对执行ATE校准处理的请求。该请求与一种或多种测试设置相关联。在某些情形下，测试设置可被测试开发者指定为他或她对执行校准处理的请求的一部分。在其他情形下，测试设置可被这样的软件识别，所述软件识别已被载入ATE的测试设置集合。在接收对执行校准处理的请求之后，方法100继续进行步骤104中对若干校准填充点的标识。校准填充点基于与请求相关联的测试设置。例如，当测试设置对一个测试设置属性指定多于一个值(例如1吉赫兹和6吉赫兹(1GHz和6GHz)的频率)时，这些值可被标识为校准范围的端点，并且落在该范围内的若干校准填充点可被标识。可替换地(或另外地)，落在该范围之外的校准填充点也可被标识。如果对一个测试设置属性仅提供了一个值，则校准填充点可被标识在这个值的“附近”。即，校准填充点可被标识在该值的两侧，或者该值可被当作校准范围的高或低端点。在某些情形下，校准填充点可基于用户指定的(或默认)步长(例如100MHz)被标识。从而，在测试设置属性为1GHz和6GHz的情况下，校准填充点1.1GHz、1.2GHz、1.3GHz等可被标识。在其他情形下，校准填充点可根据用户指定的(或默认)要被标识的填充点数(例如10个填充点)而被标识。如上所述，校准填充点可基于用户指定数据，例如在校准请求的上下文中(例如利用校准请求或响应于接收请求后的计算机提示)提供的用户指定步长或填充点数。可替换地(或另外地)，校准填充点可基于在接收校准请求前指定的默认规则。这些默认规则可以是固定规则或可编程规则。在步骤104标识校准填充点之后，方法100继续步骤106中的生成针对与校准请求相关联的测试设置以及校准填充点二者的校准数据。以此方式，额外的校准数据可被生成作为单个校准处理的部分，可能1)减少了生成校准数据所需的时间，并且2)生成了当测试开发者在测试开发期间重新配置他或她的测试设置时可能有用的额外的校准数据。例如，图2示出了方法200，其中方法100所生成的数据可被使用。方法200开始于在步骤202接收对使用ATE来执行一个或多个经校准的测试过程的请求。经校准的测试过程例如可包括传递一个或多个激励以及测量一个或多个响应。对于某些测试过程，必要的校准数据可能不存在。但是在步骤204处校准数据被从已有校准数据导出，而不必触发新的校准过程。例如，可通过在两块或多块已有校准数据之间进行内插来导出校准数据，或者通过在已有校准数据的范围之外进行外插来导出校准数据。方法200可在方法100之后运行，使得从基于测试设置和/或校准填充点生成的校准数据来内插或外插新校准数据。在其他情形下，方法200可在不执行方法100的情况下运行，新校准数据可仅从基于测试设置的校准数据来内插和/或外插。不论在什么情况下执行方法200，都可采用多种方法来进行数据内插。例如，新校准数据可被线性地内插或外插——通过标识落在两块已有校准数据之间的校准数据点，或者通过标识位于由两块已有校准数据限定的范围之外的校准数据点。可替换地，可用线性或非线性曲线来拟合多个已有校准数据(例如使用多项式模型或基于指数、三角或其他类型函数的某些其他模型)。图3示出了方法200的第一应用。如图所示，存在用于多个不同频率的校准数据。某些数据点300、302可能基于先前或当前的测试设置，而其他数据点304-318可能基于与可能从未存在过的测试设置相对应的校准填充点。如果对执行校准测试过程的请求指定测试将在1.575GHz(点320)处执行，则在已有校准数据点之间进行的线性内插导致了新校准数据点322的生成。类似地，如果对执行校准测试过程的请求指定测试将在2.0GHz(点324)处执行，则从已有校准数据点的线性外插导致了新校准数据点326的生成。图4示出了方法200的第二应用。除了以下事实之外，本例类似于图3所示的示例校准数据现在依赖于频率属性和电压属性二者。如果对执行校准测试过程的请求指定测试将在1.575GHz和5.25伏(V)处执行，则内插将在频率上下文和电压上下文二者中进行，从而导致新校准数据点400的生成。类似地，如果对执行校准测试过程的请求指定测试将在2.0GHz和5.25伏(V)处执行，则外插将在频率上下文和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于生成自动测试设备校准数据的方法，包括：　　　　接收对执行所述自动测试设备的校准处理的请求，所述请求与一个或多个测试设置相关联；　　　　基于所述测试设置，标识若干个校准填充点；以及　　　　针对所述测试设置和所述校准填充点二者生成校准数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：周正容，丹麦克劳克林，约翰麦克劳克林，丹尼尔利沙夫，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]