自动测试设备校准数据的生成和使用制造技术

本发明专利技术公开了自动测试设备校准数据的生成和使用。在一个实施例中，接收对执行自动测试设备校准处理的请求。该请求与一个或多个测试设置相关联。在接收该请求后，标识基于测试设置的若干校准填充点。然后针对测试设置和校准填充点二者生成校准数据。在另一实施例中，接收对使用自动测试设备执行一个或多个经校准的测试过程的请求，并且结合执行经校准的测试过程中的至少一个，从已有校准数据导出校准数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动测试设备，更具体地说，涉及用于生成自动测试设备校准数据的方法。
技术介绍
在制造和/或销售电子设备(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)等系统或组件)之前，设备一般被测试，以确定其是否如所设计的那样被构造或工作。通常，该测试由自动测试设备(ATE，也称为“测试仪”)执行。为了使ATE的结果有意义，ATE需要被校准。即，ATE在不同条件下的测试期间可能引入的固有系统误差和测试设置必须被量化。量化ATE的固有系统误差的数据通常被称为“校准数据”，并且可包括一个或多个“校准因子”。一旦被生成，校准数据就被用来从原始测试数据中去除ATE的固有系统误差。一种表征ATE的固有系统误差的方法是直接对它们进行测量。通常，这种校准包括将各个ATE探针耦合到一个或多个已知良好的“校准标准”，进行测量，然后将测量结果与预期测量结果进行比较。另一种表征ATE的固有系统误差的方法是利用数学模型对它们建模。然后可从模型来计算校准数据(虽然可能仍有必要使用一个或多个校准标准来获得某些测量值)。校准数据一般分为两类1)表征ATE核心结构(例如ATE的仪表和基本结构——通常是ATE在测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于生成自动测试设备校准数据的方法，包括：　　　　接收对执行所述自动测试设备的校准处理的请求，所述请求与一个或多个测试设置相关联；　　　　基于所述测试设置，标识若干个校准填充点；以及　　　　针对所述测试设置和所述校准填充点二者生成校准数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：周正容，丹麦克劳克林，约翰麦克劳克林，丹尼尔利沙夫，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]