【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及像素驱动电流测量方法以及装置，特别涉及具有从共用布线向多个像素分配供应像素驱动电流的结构的显示装置的像素驱动电流测量方法以及装置。
技术介绍
在使用EL元件之类的自发光型发光元件的显示装置中，在控制各个发光元件的亮度的有源矩阵基板中封入发光元件来制造显示面板。自发光型发光元件通常以与流入元件的电流(像素驱动电流)对应的亮度发光。有源矩阵基板具有通过控制各个像素的像素驱动电流来控制发光亮度的功能。大多使用FET并通过控制电压来控制像素驱动电流。即，如图6所示，将发光元件66连接在晶体管64的漏极端子上并通过栅极电压来控制漏极、源极之间的电流，由此来控制向发光元件66供应的电流。为了使栅极电压保持固定，通常在栅极端子上设置保持电容器65。另外，为了减少基板内的布线数量，向源极端子供应的像素驱动电流大多采用从一条驱动电流供应用布线62A向各个像素分配供应的布局。由于通过在玻璃基板上进行溅射等较不稳定的层形成工序来制造有源矩阵基板上的控制电路，所以在完成了的显示装置出货前需要进行试验以确定基板上的各个像素具有期望的功能。该试验项目中的一项是测量像素驱动电...
【技术保护点】
一种用于测量显示装置的像素驱动电流的测量方法，其中所述显示装置具有用于向多个像素供应驱动电流的布线，所述测量方法包括：第一步骤，测量在所述多个像素都被设置为不发光状态时流向所述布线的偏移电流；第二步骤，根据当只有所述多个像素 中的一个预定像素发光时流向所述布线的电流和所述偏移电流之间的差值，测量一个预定像素的所述像素驱动电流；第三步骤，重复所述第二步骤，依次测量所述多个像素中的预定数量的像素的所述像素驱动电流，然后将所述多个像素全部重置为不发光状态；以及 第四步骤，重复从所述第一步骤到所述第三步骤，测量所述显示装置的所述像素驱动电流。
【技术特征摘要】
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