像素驱动电流测量方法以及装置制造方法及图纸

本发明专利技术可提供一种能够排除由于控制电压的变化而产生的偏移电流的影响、从而能够高精度地测量像素驱动电流的测量方法及装置。可以通过以具有以下步骤为特征的像素驱动电流测量方法等来解决上述问题：第一步骤，测量当将多个像素全部设定为不发光状态时流向布线的偏移电流；第二步骤，根据当仅使多个像素中的预定的像素点亮时流向布线的电流与偏移电流的差来测量预定的像素的像素驱动电流；第三步骤，重复第二步骤来顺次测量多个像素中的预定数量的像素的像素驱动电流，然后将多个像素全部重置为不发光状态；以及第四步骤，重复第一步骤至第三步骤来测量显示装置的像素驱动电流。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及像素驱动电流测量方法以及装置，特别涉及具有从共用布线向多个像素分配供应像素驱动电流的结构的显示装置的像素驱动电流测量方法以及装置。
技术介绍
在使用EL元件之类的自发光型发光元件的显示装置中，在控制各个发光元件的亮度的有源矩阵基板中封入发光元件来制造显示面板。自发光型发光元件通常以与流入元件的电流(像素驱动电流)对应的亮度发光。有源矩阵基板具有通过控制各个像素的像素驱动电流来控制发光亮度的功能。大多使用FET并通过控制电压来控制像素驱动电流。即，如图6所示，将发光元件66连接在晶体管64的漏极端子上并通过栅极电压来控制漏极、源极之间的电流，由此来控制向发光元件66供应的电流。为了使栅极电压保持固定，通常在栅极端子上设置保持电容器65。另外，为了减少基板内的布线数量，向源极端子供应的像素驱动电流大多采用从一条驱动电流供应用布线62A向各个像素分配供应的布局。由于通过在玻璃基板上进行溅射等较不稳定的层形成工序来制造有源矩阵基板上的控制电路，所以在完成了的显示装置出货前需要进行试验以确定基板上的各个像素具有期望的功能。该试验项目中的一项是测量像素驱动电流。该测量通过以下顺序来实施。首先，将测量像素的保持电容器65设定为预定的电压。由于保持电容器65连接在像素电流控制用晶体管64的栅极端子上，所以在漏极、源极之间流动有与设定的电压、即栅极电压相对应的电流。测量此时流动的像素驱动电流。可以通过判断测量结果是否位于期望的电流范围内来判断测量像素的像素驱动电流控制用晶体管64是否在正常工作。可以通过对基板上的所有像素实施上述测量并进行好坏判断来判定显示装置是否具有预定的性能。在该像素驱动电流的测量中，原本优选对各个像素的像素驱动电流单独进行测量，但是如上所述，由于从一条驱动电流供应用的布线62A来分配、供应像素驱动电流，所以无法仅对特定像素的电流进行测量。因此，通常测量当显示装置中的一个或多个测量像素发光、而其他像素为不发光状态时流经驱动电流供应用的布线的电流，由此而求出测量像素的像素驱动电流。但是，在有源矩阵基板等这样的半导体集成电路中，难以使电路元件之间完全绝缘，从而会存在微小的漏电电流。同样也无法使上述漏极、源极之间的像素驱动电流完全为零，即使在不测量时仍会存在微小的漏电电流。因此，即使所有的像素均为不发光状态，在向多个像素提供像素驱动电流的驱动电流供应用的布线中仍会有一定程度的电流流动。这里将该电流称为偏移电流。在像素驱动电流的测量中，为了排除该偏移电流造成的影响，可以如专利文献1所公开的技术那样，从测量像素发光时在布线62A中流动的电流中减去偏移电流以求出像素驱动电流。此时，减去偏移电流成分的方法有将包含偏移电流的测量值转换为数字值并通过信息处理来减去偏移电流量的方法。但是，在该方法中，由于需要测量包含偏移电流成分的电流，所以需要扩大电流表的测量范围，从而难以获得精确的测量精度。因此，有以下方法设置与电流表并联的、消除偏移电流的恒流电路以通过硬件来消除偏移电流，从而通过电流表而仅对像素驱动电流进行测量。专利文献1日本专利文献特许3628014号公报。
技术实现思路
专利技术所要解决的问题但是，不仅在漏极、源极之间会产生上述漏电电流，从保持电容器65也会产生漏电电流。来自保持电容器65的漏电电流会使保持电容器的端子之间的电压改变。这样一来，栅极电压改变，而与栅极电压相应地会有电流在漏极、源极之间流动。即，漏极、源极之间的电流不仅是上述漏极、源极之间的绝缘特性所导致的漏电电流，由于来自保持电容器65的漏电电流而产生的栅极电压的变化也会引起电流的产生。其中，由于绝缘特性而造成的漏电电流是固定的，但是由于保持电容器65的带电量随着向布线62A施加像素驱动电压的时间经过而增加，所以由于栅极电压的变化而造成的电流也会随着施加像素驱动电压的时间延长而增加。但是，由于p型MOS晶体管64具有如图5所示的电压电流特性，所以如果栅极、源极电压Vgs的值从坐标轴交点向左方移动的话，漏极、源极电流Ids的绝对值就会非线性增大。因此，从驱动电流供应用的布线62A流过的偏移电流也会随着时间经过而显著增大。另外，图5示出了p型MOS晶体管的电压电流特性的示例，电流的方向和电压极性根据晶体管的极性而改变。由于在显示装置中例如有50万像素以上的多个像素(XGA的像素数量为786、432)，所以为了测量显示装置全部的像素驱动电流需要相当长的时间。因此，如果放任由于栅极电压的变化所导致的偏移电流而不管的话，偏移电流会不断增大，会有与测量量相比过大的偏移电流在驱动电流供应用的布线62A中流动。如果在上述大偏移电流的条件下进行测量的话，由于必须以大测量界限进行测量，所以难以进行高精度的测量。另外，如果不具有准确地消除随着向布线62A施加像素驱动电压的时间经过而改变的偏移电流的功能的话，就无法进行准确的测量。因此，需要能够排除由于栅极电压的变化而产生的偏移电流的影响以高精度地测量像素驱动电流的测量方法以及装置。在专利文献1公开的以往的示例中，设置与电流表并联的、消除偏移电流的恒流电路，通过硬件来消除偏移电流，并通过电流表仅对像素驱动电流进行测量，由此缩小了测量电流的动态范围，从而可以进行高精度的测量。但是，如图10所示，如果对多个像素顺次进行测量的话，当时间经过时，偏移电流值41的增大率会非线性地升高。即，其绝对值会像B1、B2、B3、B4那样逐渐增大，另外，从B1到B2、从B2到B3、从B3到B4的变化率也会逐渐增大。因此，由于消除偏移电流的恒流源所需的动态范围也会变大，所以难以提供高精度的电流值。另外，由于各种原因，被测量像素的偏移电流值偏离预期值的可能性也会升高。因此，如图10的A所示，即使要测量的被测量像素的驱动电流42的动态范围大致固定从而可以维持较高的电流表的精度，消除偏移电流的精度也会下降，并造成系统整体的测量精度降低。解决问题的手段可以通过以具有以下方法等来解决上述问题，所述方法是测量显示装置的像素驱动电流的方法，该显示装置具有向多个像素供应驱动电流的布线，所述方法的特征在于具有如下步骤第一步骤，测量当将所述多个像素设定为不发光状态时流向所述布线的偏移电流；第二步骤，根据当仅使所述多个像素中的预定的像素发光时流向所述布线的电流与所述偏移电流的差来测量所述预定的像素的所述像素驱动电流；第三步骤，重复所述第二步骤来顺次测量所述多个像素中的预定数量的像素的所述像素驱动电流，然后将所述多个像素全部重置为不发光状态；以及第四步骤，重复所述第一步骤至所述第三步骤来测量所述显示装置的所述像素驱动电流。专利技术的效果根据本专利技术，可以提供一种能够排除由于控制电压的变化而产生的偏移电流的影响、从而能够高精度地测量像素驱动电流的测量方法和装置。附图说明图1是在本专利技术实施方式中说明的测量装置的简要结构图；图2是本专利技术实施方式的显示装置的内部电路的说明图；图3是本专利技术实施方式的测量装置的动作流程图；图4是表示测量像素数与偏移电流和测量电流的变化的示意图；图5是像素内的晶体管的电压电流特性图；图6是显示装置的内部电路的说明图；图7是在本专利技术其他实施方式中说明的测量装置的简要结构图；图8是本专利技术其他实施方式的显示装置的内部电路的说明图；图9是本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量显示装置的像素驱动电流的测量方法，其中所述显示装置具有用于向多个像素供应驱动电流的布线，所述测量方法包括：第一步骤，测量在所述多个像素都被设置为不发光状态时流向所述布线的偏移电流；第二步骤，根据当只有所述多个像素 中的一个预定像素发光时流向所述布线的电流和所述偏移电流之间的差值，测量一个预定像素的所述像素驱动电流；第三步骤，重复所述第二步骤，依次测量所述多个像素中的预定数量的像素的所述像素驱动电流，然后将所述多个像素全部重置为不发光状态；以及 第四步骤，重复从所述第一步骤到所述第三步骤，测量所述显示装置的所述像素驱动电流。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：三宅泰弘，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]