用于微探测的连接附件制造技术

一种探测系统具有用于电连接到配套的探针附件的探测附件，该配套探针附件连接到测试点，其中，该探测附件通过仅仅施加张力俘获和释放该配套探针附件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于微探测的连接附件。
技术介绍
随着电子电路的工作频率增加和部件几何尺寸的减少，探测和测量印刷电路板(PCB)上的测试点的信号变得越来越难。此外，用来探测测试点的装置开始对测量本身有影响。目前一个解决方案是提供连接到插座式探针头的一个或多个排针(header pin)。排针通常在100mils的中心间距时为25mils见方。在许多应用中，这些排针通常物理上非常大，并且提供太多的寄生负载，因而限制了可以测量的信号的带宽。随着印刷电路板的几何尺寸变得更小，排针占据PCB表面积的更大百分比，这使得成本较高并且限制了使用PCB的器件的微型化。另一个已知的技术解决方案是将探针头直接焊接到PCB上的测试点。有利地，所焊接的探针头提供低电容和更高带宽的连接。不利的是，该技术解决方案成本较高，没有提供迅速便利的连接/断开，并且其被焊接和拆焊(un-solder)的次数是受限制的。因而，需要一种解决现有技术的缺点的连接附件。
技术实现思路
附图说明从下列详细的描述中，结合所附的附图阅读，可以获得对本专利技术技术教导的了解，其中图1是根据本技术教导的探针头和配套探测附件的实施例在分离状态本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探测系统，包括：用于电连接到测试点的探测附件，所述探测附件包括探针设置在延伸轴上的探针保持元件，并且探针头构造成仅仅在探测附件上使用张力就俘获和释放保持元件。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔T麦克提格，詹姆斯E坎农，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]