【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种基于光致发光的太阳能晶硅硅片质量预测、控制方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:(1)进行硅片取样,构建硅片样本库;(2)使用激光编码器将所取的硅片进行标识;(3)使用光致发光测试系统对硅片进行测试,记录硅片的缺陷及杂质的程度和硅片其他信息,并使用读码器读取硅片身份信息以对采集的数据进行辨识;(4)将硅片按生产工艺制作成电池片,测试电池的电学参数;(5)构建硅片和对应电池相关参数的数据库,建立硅片生产成电池后的电学参数预测模型;(6)对来料硅片进行抽样;(7)使用光致发光测试系统对所抽样本进行测试,根据建立的预测模型对硅片生产成电池后的电学参数进行预测,依此对来料硅片的质量进行预测;(8)按照预测的结果,对来料的硅片的质量进行控制。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:朱君兰,朱琛,赵子石,赵福祥,李秉喆,洪定義,
申请(专利权)人:韩华新能源启东有限公司,
类型:发明
国别省市:
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