一种电子元件电性能测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种电子元件电性能测试设备，包括转台，在转台上设置有两组以上的工装，每组工装上都设置电源接口，在所述的转台的侧部还设置电源插头，电源插头与插头气缸连接，在转台的上方设置有升降机构，升降机构的底部固定有探测头，所述的升降机构、转台、电源插头和插头气缸均与控制箱连接；本实用新型专利技术在工作台上设置一个转台，在转台安装有多组工装，工装置上配置有电源接口与在转台的后侧设置有电源插头，本实用新型专利技术具有通用性高可互换工装达到做多个产品的目的。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电子元件的测试装置，具体是一种电子元件电性能测试设备。
技术介绍
目前电子元件电性能测试时一般先将电子元件插接到一个接口上，然后通电进行测试，测试完成后将根据测试结果，放电子元件放入到合格箱和回收箱中，目前测试设备效率低，工作量大，工人容易疲劳。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电子元件电性能测试设备，在工作台上设置一个转台，在转台安装有两组工装，工装置上配置有电源接口与在转台的后侧设置有电源插头，本技术具有通用性高可互换工装达到做多个产品的目的。为实现上述目的采用以下技术方案:—种电子元件电性能测试设备，其特征在于:包括转台，在转台上设置有两组以上的工装，每组工装上都设置电源接口，在所述的转台的侧部还设置电源插头，电源插头与插头气缸连接，在转台的上方设置有升降机构，升降机构的底部固定有探测头，所述的升降机构、转台、电源插头和插头气缸均与控制箱连接。所述的工装有两组，每组有两个工位。本技术在转台上设置工装，工装用于固定电子元件，可以通过更换工装与不同电子元件的配对，二组以上的工装在一组进行测试时，另外的工装可以完成工装上电子元件的取放作业，在提升工作效率，工装上设置电源接口并通过移动式的电源插头来供电，这样使得工装置的无需连接电源，结构更加简单，可以方便工装的更换。【附图说明】图1为本技术的结构示意图；图2为本技术另一方向的结构示意图。【具体实施方式】如图1、2所示，一种电子元件电性能测试设备，包括转台I，在转台I上设置有两组工装2，每组有两个工位，每组工装上都设置电源接口 21，在所述的转台的侧部还设置电源插头3，电源插头3与插头气缸5连接，在转台的上方设置有升降机构6，升降机构6的底部固定有探测头7，所述的升降机构6、探测头7、转台1、电源插头3和插头气缸5均与控制箱8连接。本技术工作时将工件放的工装置上，由于转台上设置两组工装，通过转台旋转至测试区，此时升降机构带动探测头下降，同时插头气缸推动电源插头，使得电源插头与电源接口对接，实现为电子元件供电，然后探测头域进行高压/绝缘/电阻等性能测试，而后循环。本技术工装用于固定电子元件，可以通过更换工装与不同电子元件的配对，二组以上的工装在一组进行测试时，另外的工装可以完成工装上电子元件的取放作业，在提升工作效率，工装上设置电源接口并通过移动式的电源插头来供电，这样使得工装置的无需连接电源，结构更加简单，可以方便工装的更换。【主权项】1.一种电子元件电性能测试设备，其特征在于:包括转台，在转台上设置有两组以上的工装，每组工装上都设置电源接口，在所述的转台的侧部还设置电源插头，电源插头与插头气缸连接，在转台的上方设置有升降机构，升降机构的底部固定有探测头，所述的升降机构、转台、电源插头和插头气缸均与控制箱连接。2.如权利要求1所述的一种电子元件电性能测试设备，其特征在于:所述的工装有两组，每组有两个工位。【专利摘要】本技术涉及一种电子元件电性能测试设备，包括转台，在转台上设置有两组以上的工装，每组工装上都设置电源接口，在所述的转台的侧部还设置电源插头，电源插头与插头气缸连接，在转台的上方设置有升降机构，升降机构的底部固定有探测头，所述的升降机构、转台、电源插头和插头气缸均与控制箱连接；本技术在工作台上设置一个转台，在转台安装有多组工装，工装置上配置有电源接口与在转台的后侧设置有电源插头，本技术具有通用性高可互换工装达到做多个产品的目的。【IPC分类】G01R1/04【公开号】CN205229209【申请号】CN201521070153【专利技术人】倪正中 【申请人】台州市中瑞电子有限公司【公开日】2016年5月11日【申请日】2015年12月17日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件电性能测试设备，其特征在于：包括转台，在转台上设置有两组以上的工装，每组工装上都设置电源接口，在所述的转台的侧部还设置电源插头，电源插头与插头气缸连接，在转台的上方设置有升降机构，升降机构的底部固定有探测头，所述的升降机构、转台、电源插头和插头气缸均与控制箱连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：倪正中，
申请(专利权)人：台州市中瑞电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33