一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，包括底板，还包括回形支架和门框形支架，回形支架顶部设置有器件定位夹具，回形支架套设在门框形支架上，回形支架由一固定在底板上的往复驱动装置驱动进行往复运动，同时带动器件定位夹具往复运动，耦合光纤接头和LD器件测试模块分别位于器件定位夹具两侧，可升降的APD器件测试模块设置在器件定位夹具下方，耦合光纤接头和LD器件测试模块可通过旋转推杆同时接近或者远离器件定位夹具。本实用新型专利技术避免手工操作疏失，确保器件测试的准确性及一致性，全部指标自动测试。可同时控制几个测试装置，有效提高测试效率，避免测试等待时间的浪费，有效地降低了测试成本。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，包括底板（1），其特征在于，还包括回形支架（7）和门框形支架（8），回形支架（7）顶部设置有器件定位夹具（25），回形支架（7）套设在门框形支架（8）上，回形支架（7）由一固定在底板（1）上的往复驱动装置驱动进行往复运动，门框形支架（8）上设置有第二滑块（9），一步进电机（20）通过支架固定在底板（1）上，一旋转推杆（21）的中部套设在步进电机（20）的旋转轴上，旋转推杆（21）一端通过光纤推杆（22）带动耦合光纤接头（19）运动，另一端与第二滑块（9）一端连接，第二滑块（9）另一端设置有LD器件测试模块（12），第二滑块（9）上开设有斜槽，底板（1）上还设置有ADP测试支架（14），一升降滚轮（17）设置在ADP测试支架（14）上并可沿ADP测试支架（14）升降运动，升降滚轮（17）上固定有APD器件测试模块（15），耦合光纤接头（19）和LD器件测试模块（12）分别位于器件定位夹具（25）两侧，APD器件测试模块（15）设置在器件定位夹具（25）下方，升降滚轮（17）放置于斜槽上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯伟，
申请(专利权)人：武汉昱升光器件有限公司，
类型：实用新型
国别省市：