一种测量轴承轨道座的轨道高度的量规及方法技术

本发明专利技术公开一种测量轴承轨道座的轨道高度的量规，其测量板（3）的右侧与测量轴（2）可相对滑动地连接，测量轴位于测量板的第一、第二上测量面（A）、（C）之间，其受由限位槽（2-1）、螺孔（3-1）和限位螺钉（4）构成的限位机构（6）的限制可相对于测量板在大于第一高度（H1）的范围内上下滑动，使测量板的下测量面（J）至定位轴（1）的轴线之间形成的第二高度（H2）的尺寸在大于所测量轨道高度（H）的最大高度尺寸，小于轨道高度的最小高度尺寸的范围内变动，从而使其基准面（B）可位于测量板的第一、第二上测量面之间或者与第一或者第二上测量面平齐，以及高于第一上测量面或者低于第二上测量面。具有效率较高的有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种测量轴承轨道座的轨道高度的量规及方法
本专利技术涉及机械加工量具，具体涉及一种测量轴承轨道座的轨道高度的量规及方法。
技术介绍
在一些特殊机械中，采用了钢球滑动的轴承系统，其核心零件是轴承轨道座。参见图1所示，该轴承轨道座5的纵向剖面呈台阶形，其具有基准测量面K、开有消气槽5-1的轴承轨道5-2，该轴承轨道5-2截面呈具有中心线的V形。在该轴承轨道座5加工合格之后，其内会装入钢球7。该钢球7具有球心，其球心位于所述轴承轨道的中心线上。该轴承轨道座5还具有台阶长度D3，以及由所述基准测量面K至轴承轨道中心线所形成的轨道高度H。该轨道高度H具有最小高度尺寸和最大高度尺寸，以及由最小高度尺寸与最大高度尺寸之差构成的公差范围值。在使用中，轨道高度H是否合格，即该轨道高度H是否为最小高度尺寸或者最大高度尺寸，或者是否在公差范围值的范围内十分重要，也是测量中的一个技术难题。然而，目前还没有合理结构的高度量规对该轨道高度H是否合格进行测量。通常的作法是，将轴承轨道座5加工完成后，从机床上取下，再在三坐标测量机上对该其轨道高度H是否合格进行测量。由于不能直接在机床上进行测量，需要取下来进行测量，因而测量效率较低。同时，由于不能在加工完成后直接在机床上进行测量，并判断其是否合格，很可能已经超出合格范围了才取下来用三坐标测量机进行测量。这就容易造成报废，合格率较低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种能够在机床上直接测量、效率较高的测量轴承轨道座的轨道高度的量规。为解决上述技术问题，本专利技术采取如下技术方案；本专利技术的测量轴承轨道座的轨道高度的量规，包括测量板、测量轴和定位轴，所述测量板整体为台阶形，其具有下测量面、第一上测量面和第二上测量面、所述第一上测量面位于右侧，第二上测量面位于第一上测量面的左侧，第一上测量面和第二上测量面之间形成第一测量高度；该第一测量高度的尺寸等于所测量轴承轨道座的轨道高度的最大高度尺寸与最小高度尺寸之差；所述测量轴的顶面为基准面；所述定位轴的左端为定位端，该定位端的形状尺寸与所测量轴承轨道座的钢球的形状尺寸相适配；所述测量板和定位轴相互平行且与测量轴垂直对应地分别位于测量轴的同一侧的上、下端；所述定位轴的右端与测量轴的下端固定连接，其定位端至测量轴左侧的定位长度大于所测量轴承轨道座的台阶长度，小于测量板的左端至测量轴左侧的长度；所述第一上测量面至定位轴的轴心线之间形成第三高度，该第三高度的尺寸等于第一测量高度的尺寸加上测量板的第二上测量面至下测量面之间的尺寸再加上所测量的轴承轨道座的轨道高度的尺寸；所述测量板的右侧位于测量板的第一上测量面和第二上测量面之间设有安装孔，该安装孔的轴线垂直于第一上测量面和第二上测量面，所述测量轴位于该安装孔中与测量板可相对滑动地连接，测量轴受由限位槽、螺孔和限位螺钉构成的限位机构的限制可相对于测量板在大于所述第一测量高度的范围内上下滑动，使所述测量板下测量面至定位轴的轴心线之间形成的第二高度的尺寸在测量时变动，从而使其基准面可位于测量板的第一上测量面和第二上测量面之间或者与第一上测量面或者第二上测量面平齐，以及高于第一上测量面或者低于第二上测量面。优选地，所述限位机构的限位槽位于所述测量轴上部的外圆周上，螺孔对应设在所述测量板上并与所述限位槽垂直，限位螺钉与所述螺孔配合连接，其端部位于所述限位槽中；所述限位槽具有纵向高度、上限位面和下限位面；所述纵向高度的高度尺寸比所述螺钉的直径至少大2mm，所述测量轴的基准面至限位槽的上限位面之间的垂直距离小于所述第一测量高度的尺寸，所述测量轴的基准面至限位槽的下限位面之间的垂直距离大于所述第一测量高度的尺寸加上限位螺钉的直径的尺寸；所述测量板的第二上测量面至限位螺钉上外沿之间的垂直距离小于小于所述第一测量高度的尺寸。优选地，所述测量轴的限位槽的纵向高度比限位螺钉的直径大3mm。优选地，所述定位轴的右端与测量轴过盈配合连接。优选地，所述定位端至测量轴左侧的定位长度比所测量轴承轨道座的的台阶长度至少大8mm。优选地，所述定位端至测量轴左侧的定位长度比所测量轴承轨道座的的台阶长高度大10mm，优选地，所述测量板的左端至测量轴的长度比定位端至测量轴左侧的定位长度至少大15mm。优选地，所述测量板的左端至测量轴的长度比定位端至测量轴左端的定位长度大20mm。本专利技术利用上述量规测量轴承轨道座的轨道高度的方法。包括下列步骤；首先，将所述量规的测量板的下测量面放在加工后仍然安装于机床上的轴承轨道座的的基准测量面上；接着，向轴承轨道座的轴心移动测量板，并利用限位机构的作用使测量轴相对于测量板上下滑动，带动定位轴的定位端与所测量轴承轨道座的轴承轨道充分接触，并使定位轴的中心线与所述轴承轨道的中心线重合；然后，采用刀口形直尺测出测量轴的基准面与测量板的第一上测量面或者第二上测量面之间的位置，判断轨道高度尺寸是否合格；如果基准面高于第一上测量面，则判断轨道高度尺寸不合格；如果基准面与第一上测量面平齐或者低于第一上测量面但高于第二上测量面，或者与第二上测量面平齐，则判断轨道高度尺寸合格；如果基准面低于第二上测量面，则判断轨道高度尺寸不合格。与现有技术相比，本专利技术包含如下有益效果；1.本专利技术的量规，所述测量板的右侧与测量轴可相对滑动地连接，所述测量轴位于测量板的第一上测量面和第二上测量面之间，其受由限位槽、螺孔和限位螺钉构成的限位机构的限制可相对于测量板在大于所述第一高度的范围内上下滑动，使所述测量板下测量面至定位轴的轴线之间形成的第二高度的尺寸在大于所测量轴承轨道座的轨道高度的最大高度尺寸，小于所测量轴承轨道座的轨道高度的最小高度尺寸的范围内变动，从而使其基准面可位于测量板的第一上测量面和第二上测量面之间或者与第一上测量面或者第二上测量面平齐，以及高于第一上测量面或者低于第二上测量面，可以采用配合刀口形直尺在机床上对加工后的轴承轨道座的轨道高度进行是否合格的判断零件，因而测量效率较高。2.本专利技术仅包括测量板、测量轴和定位轴，并利用由限位槽、螺孔(和限位螺钉构成的限位机构等，就能够实现对轴承轨道座的轨道高度的测量，与三坐标测量机相比，结构简单、成本很低，操作方便，容易掌握。附图说明图1是本专利技术所测量轴承轨道座的结构示意图；图2是本专利技术量规的结构示意图；图3是本专利技术量规的测量板的结构示意图；图4是本专利技术量规的测量轴的结构示意图；图5是本专利技术量规测量轴承轨道座的轨道高度时的示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细说明。参见图2、图3、图4和图5所示，本专利技术的测量轴承轨道座的轨道高度的量规，包括测量板3、测量轴2和定位轴1：所述测量板3整体为台阶形，其具有下测量面J、第一上测量面A和第二上测量面C、所述第一上测量面A位于右侧，第二上测量面C位于第一上测量面A的左侧，第一上测量面A和第二上测量面C之间形成第一测量高度H1；该第一高度H1的尺寸等于所测量轴承轨道座5的轨道高度H的最大高度尺寸与最小高度尺寸之差；所述测量轴2的顶面为基准面B；所述定位轴1的左端为定位端1-1，该定位端1-1的形状尺寸与所测量轴承轨道座5的钢球7的形状尺寸相适配；所述测量板3和定位轴1相互平行且与测量轴2垂直对应地分别位于测量轴2的同一侧的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量轴承轨道座的轨道高度的量规，包括测量板（3）、测量轴（2）和定位轴（1），其特征在于：所述测量板（3）整体为台阶形，其具有下测量面（J）、第一上测量面（A）和第二上测量面（C）、所述第一上测量面（A）位于右侧，第二上测量面（C）位于第一上测量面（A）的左侧，第一上测量面（A）和第二上测量面（C）之间形成第一测量高度（H1）；该第一高度（H1）的尺寸等于所测量测量轴承轨道座（5）的轨道高度（H）的最大高度尺寸与最小高度尺寸之差；所述测量轴（2）的顶面为基准面（B）；所述定位轴（1）的左端为定位端（1‑1），该定位端（1‑1）的形状尺寸与所测量轴承轨道座（5）的钢球（7）的形状尺寸相适配；所述测量板（3）和定位轴（1）相互平行且与测量轴（2）垂直对应地分别位于测量轴（2）的同一侧的上、下端；所述定位轴（1）的右端与测量轴（2）的下端固定连接，其定位端（1‑1）外端至测量轴（2）外沿的定位长度（L2）大于所测量轴承轨道座（5）的台阶长度（D3），小于测量板（3）的外端至测量轴（2）外沿的长度（L1）；所述测量轴（2）的基准面（B）至定位轴（1）的轴线之间形成第三高度（H3），该第三高度（H3）的尺寸等于第一高度（H1）的尺寸加上测量板（3）的第二上测量面（C）至下测量面（J）之间的尺寸再加上所测量的轴承轨道座（5）的轨道高度（H）的尺寸；所述测量板（3）的右侧与测量轴（2）可相对滑动地连接，所述测量轴（2）位于测量板（3）的第一上测量面（A）和第二上测量面（C）之间，其受由限位槽（2‑1）、螺孔（3‑1）和限位螺钉（4）构成的限位机构（6）的限制可相对于测量板（3）在大于所述第一高度（H1）的范围内上下滑动，使所述测量板（3）下测量面（J）至定位轴（1）的轴线之间形成的第二高度（H2）的尺寸在大于所测量轴承轨道座（5）的轨道高度（H）的最大高度尺寸，小于所测量轴承轨道座（5）的轨道高度（H）的最小高度尺寸的范围内变动，从而使其基准面（B）可位于测量板（3）的第一上测量面（A）和第二上测量面（C）之间或者与第一上测量面（A）或者第二上测量面（C）平齐，以及高于第一上测量面（A）或者低于第二上测量面（C）。...

【技术特征摘要】
1.一种测量轴承轨道座的轨道高度的量规，包括测量板(3)、测量轴(2)和定位轴(1)，其特征在于：所述测量板(3)整体为台阶形，其具有下测量面(J)、第一上测量面(A)和第二上测量面(C)、所述第一上测量面(A)位于右侧，第二上测量面(C)位于第一上测量面(A)的左侧，第一上测量面(A)和第二上测量面(C)之间形成第一测量高度(H1)；该第一测量高度(H1)的尺寸等于所测量轴承轨道座(5)的轨道高度(H)的最大高度尺寸与最小高度尺寸之差；所述测量轴(2)的顶面为基准面(B)；所述定位轴(1)的左端为定位端(1-1)，该定位端(1-1)的形状尺寸与所测量轴承轨道座(5)的钢球(7)的形状尺寸相适配；所述测量板(3)和定位轴(1)相互平行且与测量轴(2)垂直对应地分别位于测量轴(2)的同一侧的上、下端；所述定位轴(1)的右端与测量轴(2)的下端过盈配合连接，其定位端(1-1)至测量轴(2)左侧的定位长度(L2)大于所测量轴承轨道座(5)的台阶长度(D3)，小于测量板(3)的左端至测量轴(2)左侧的长度(L1)；所述第一上测量面(A)至定位轴(1)的轴心线之间形成第三高度(H3)，该第三高度(H3)的尺寸等于第一测量高度(H1)的尺寸加上测量板(3)的第二上测量面(C)至下测量面(J)之间的尺寸再加上所测量的轴承轨道座(5)的轨道高度(H)的尺寸；所述测量板(3)的右侧位于测量板(3)的第一上测量面(A)和第二上测量面(C)之间设有安装孔(3-2)，该安装孔(3-2)的轴线垂直于第一上测量面(A)和第二上测量面(C)，所述测量轴(2)位于该安装孔(3-2)中与测量板(3)可相对滑动地连接，测量轴(2)受由限位槽(2-1)、螺孔(3-1)和限位螺钉(4)构成的限位机构(6)的限制可相对于测量板(3)上下滑动，所述限位机构(6)的限位槽(2-1)位于所述测量轴(2)上部的外圆周上，螺孔(3-1)对应设在所述测量板(3)上并与所述限位槽(2-1)垂直，限位螺钉(4)与所述螺孔(3-1)配合连接，其端部位于所述限位槽(2-1)中；所述限位槽(2-1)具有纵向高度(S)、上限位面(2-1-1)和下限位面(2-1-2)；所述纵向高度(S)的高度尺寸比所述限位螺钉(4)的直径至少大2mm，所述测量轴(2)的基准面(B)至限位槽(2-1)的上限位面(2-1-1)之间的垂直距离小于所述第一测量高度(H1)的尺寸，所述测量轴(2)的基准面(B)至限位槽(2-1)的下限位面(2-1-2)之间的垂直距离大于所述第一测量高度(H1)的尺寸加上限位螺钉(4)的直径的尺寸；所述测量板...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄坤河，刘琴，李小春，
申请(专利权)人：重庆望江工业有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;85