一种厚度检测治具以及厚度检测方法技术

本发明专利技术公开了一种厚度检测治具，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。上述厚度检测治具改变现有技术中检测块固定的设计方式，将检测块设置为可活动的结构，当待检测产品从检测块和底座之间经过时，如果检测块发生偏移说明待检测产品的厚度超过预设厚度，否则没有超过预设厚度。该厚度检测治具结构简单，使用方便，不仅能根据检测块的偏移情况确定待检测产品的厚度和平坦度，并进一步确定厚度范围，还能避免检测过程对待检测产品表面上造成的损伤，为非破坏性检测，保证产品质量。另外还提供了一种基于上述厚度检测治具的厚度检测方法。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种厚度检测治具，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。上述厚度检测治具改变现有技术中检测块固定的设计方式，将检测块设置为可活动的结构，当待检测产品从检测块和底座之间经过时，如果检测块发生偏移说明待检测产品的厚度超过预设厚度，否则没有超过预设厚度。该厚度检测治具结构简单，使用方便，不仅能根据检测块的偏移情况确定待检测产品的厚度和平坦度，并进一步确定厚度范围，还能避免检测过程对待检测产品表面上造成的损伤，为非破坏性检测，保证产品质量。另外还提供了一种基于上述厚度检测治具的厚度检测方法。【专利说明】
本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及。
技术介绍
工艺加工过程中往往对产品的厚度以及平坦度有要求，例如液晶显示面板、模组、PCB (Printed Circuit Board,印刷电路板)等板状产品，厚度检测治具采取的方案均为使被检测产品通过固定间距的两块平行检测板或检测槽，根据产品能否顺利通过来判断其厚度达标与否，其中检测板及检测槽均被固定在平台或底座上，不可活动。利用上述厚度检测治具对产品进行检测过程中，由于检测板或检测槽是固定的、不可活动的，当产品厚度超标、不能顺利通过检测板时，容易对产品上厚度超标部分的表面造成损伤甚至破损，尤其当被检测产品比较脆弱(如液晶面板)时，待检测产品中厚度超标的部分极易在检测过程中造成破损。因此，现有技术中对于产品的厚度检测过程中会对产品表面，特别是厚度超标的产品表面产生破坏性的损伤。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题针对上述缺陷，本专利技术要解决的技术问题是如何避免对产品进行厚度检测过程中对厚度超标的产品表面造成损伤。(二)技术方案为解决上述问题，本专利技术提供了一种厚度检测治具，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。进一步地，所述支撑架的两端滑动连接在底座两侧的支撑杆上以调整检测快底部与底座之间的间距。进一步地，所述支撑架为圆柱状。进一步地，所述检测块的上端与支撑架活动连接，具体包括:所述检测块的上端设置有圆形孔，该圆形孔的直径大于支撑架的直径，所述检测块通过圆形孔悬挂在支撑架上，且检测块可沿着支撑架转动。进一步地，所述检测块的上端和下端为一体成型。进一步地，所述检测块的上端与支撑架固定连接，具体包括:检测块分为上端和下端两部分，上端和下端之间通过铰链连接，将检测块的上端固定在支撑架上，下端可自由活动。进一步地，所述检测块的上端与支撑架一体成型。进一步地，所述检测块的个数至少为一个，所有检测块为一体式结构或独立式结构。进一步地，包括多组检测块，所述多组检测块可级联设置，且不同组的检测块的底部与底座之间的间距不同。为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种利用上述厚度检测治具实现对待检测产品的厚度检测方法，包括:待检测产品放置在底座和检测块之间，当沿着平行于底板方向移动待检测产品时，根据检测块的偏移程度对待检测产品的厚度进行评价，如果检测块出现偏移则说明该待检测产品的厚度超过预设厚度，否则说明该待检测产品的厚度未超过预设厚度。进一步地，如果检测块发生偏移，进一步对待检测产品的平坦度进行评价，具体包括:沿着平行于底板方向移动待检测产品，根据不同检测块的偏移程度是否相同判断待检测产品的平坦度，如果不同的检测块偏移量相同则说明该待检测产品的平坦度良好，否则说明该待检测产品的平坦度不良。进一步地，当有两组检测块进行级联时，第一组检测块的底部与底座之间的间距为第一预设距离，第二组检测块的底部与底座之间的间距为第二预设距离，第一预设距离大于第二预设距离，如果待检测产品经过第一组检测块的过程中检测块不偏移，经过第二组检测块的过程中检测块发生偏移，则确定待检测产品的厚度范围在第二预设距离到第一预设距离之间。(三)有益效果本专利技术提供了一种厚度检测治具，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。上述厚度检测治具改变现有技术中检测块固定的设计方式，将检测块设置为可活动的结构，当待检测产品从检测块和底座之间经过时，如果检测块发生偏移说明待检测产品的厚度超过预设厚度，否则没有超过预设厚度。该厚度检测治具结构简单，使用方便，利用可活动的检测块不仅能根据检测块的偏移情况确定待检测产品的厚度和平坦度，并进一步确定厚度范围，还能避免检测过程对待检测产品表面上造成的损伤，为非破坏性检测，保证产品质量。同时本专利技术还提供了一种基于上述厚度检测治具的厚度检测方法。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术实施例一提供的一种厚度检测治具的组成示意图；图2为本专利技术实施例一中检测块的上端与支撑架活动连接的立体结构示意图；图3为本专利技术实施例一中检测块的结构示意图；图4为本专利技术实施例一中检测块的上端与支撑架固定连接的立体结构示意图；图5为本专利技术实施例一中检测块的侧面示意图；图6为本专利技术实施例一中检测块为一体式结构时下端通过连接杆24连接为一体的不意图；图7为本专利技术实施例一中待检测产品厚度未超标情况下的检测效果示意图；图8为本专利技术实施例一中待检测产品厚度局部超标情况下的检测效果示意图；图9本专利技术实施例二中提供的一种厚度检测方法的步骤流程图。【具体实施方式】下面结合附图和实施例，对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。本专利技术提供了一种用于检测产品厚度的厚度检测治具，其组成示意图如图1所示，包括底座10和至少一个检测块20，检测块20垂直设置在底座10的上方，其中检测块20的上端通过支撑架30固定，下端可活动，且检测块的底部与底座10之间的间距等于待检测产品的预设厚度。上述厚度检测治具改变现有技术中检测块固定的设计方式，将检测块设置为可活动的结构，当待检测产品从检测块和底座之间经过时，如果检测块发生偏移说明待检测产品的厚度超过预设厚度，否则没有超过预设厚度，由于厚度超标部分可使得活动的检测块发生偏移，检测过程中不会对待检测产品表面造成损伤，即便是待检测产品是比较脆弱的液晶面板也不会造成损伤，属于非损坏性检测。优选地，本实施例中的支撑架30的两端滑动连接在底座10两侧的支撑杆11上以调整检测快底部与底座之间的间距。具体的，支撑杆11和底座10可以是一体成型的，例如通过浇铸方式形成，或者是支撑杆11和底座10是分开的，之后将支撑杆11固定安装在底座10上。支撑杆11的高度高于检测块在垂直方向的高度，支撑杆11上设置有与支撑架30相配合的安装孔或安装槽，将支撑架30安装在支撑杆11上，以调整检测快底部与底座之间的间距，由于是滑动连接，保证支撑架30在支撑杆11垂直方向上的位置可上下调整，即检测块20的底部与底座10之间的间距能够随着调节支撑架30的高度而发生变化，以便可用于检测不同厚度尺寸的产品。优选地，本实施例中的支撑架30的形状为柱状，但是对于横截面的图形不作具体限定，可以根据不同的设计方式设置成不同形状本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种厚度检测治具，其特征在于，包括底座和至少一个检测块，检测块垂直设置在底座的上方，其中检测块的上端通过支撑架固定，下端可活动，且检测块的底部与底座之间的间距等于待检测产品的预设厚度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李丽丽，曹保桂，金致荣，杨溢，纪月荣，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司， 京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34