一种背光源发光均匀性自动检测系统技术方案

本发明专利技术涉及一种背光源发光均匀性自动检测系统，其特征在于，包括：一暗室腔，所述暗室腔前侧设有一个腔门，两侧面底部对称设有两窗口，用于流水线框架传送待测背光源；一驱动接口；一控制面板；一光探测器；一机械组件；一标记组件；以及一运算控制模块，连接所述驱动接口、控制面板、光探测器、机械组件和标记组件，进行数据的采集和实时控制。本发明专利技术光探测器可上下前后左右自由移动，采用可编程驱动接口，兼容性好，可设置不同参数对不同待测背光源进行测试，流水线作业方便快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种背光源发光均匀性自动检测系统
本专利技术涉及背光源检测领域，尤其是一种背光源发光均匀性自动检测系统。
技术介绍
背光源是位于液晶显示器(LCD)背后的一种光源，它的发光效果将直接影响到液晶显示模块(LCM)视觉效果。液晶显示器本身并不发光，它显示图形或字符是它对光线调制的结果。常见的背光源有点状光源(LED)、线状光源(CCFL、HCFL)、面状光源(VFD、EL、OLED、FED)，其中像点状光源及线状光源还需要导光板转化为面光源，以保证背光源整体的均匀性。LCD等技术常常要用上背光源，背光源的好坏直接影响到LCD屏整机的性能，背光源的不均匀性也就意味着后期红、绿、蓝三基色的不均匀，造成画面不同区域的色差，甚至白平衡失衡，这也是背光源发光均匀性检测的意义所在。现有工业背光源均匀性检测往往是采用半自动检测或者人工检测，这两种方法效率低、不精确，所以有必须采用机械替代人工。现有光源检测技术有，但是针对背光源均匀性检测的技术也很少，故针对背光源均匀性检测的专利技术有其必要性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是提供一种背光源发光均匀性自动检测系统，通过光探测器分时采集待测背光源不同区域的光强信息，判断其均匀性。本专利技术采用以下方案实现:一种背光源发光均匀性自动检测系统，其特征在于，包括:一暗室腔，所述暗室腔前侧设有一个腔门，两侧面底部对称设有两窗口，用于流水线框架传送待测背光源；一驱动接口，设置于所述流水线框架上，用于连接所述待测背光源；一控制面板，设置于所述暗室腔外侧，用于显示及设置工作模式和参数；一光探测器，用于采集所述待测背光源的发光数据；一机械组件，用于固定及移动所述光探测器，使所述光探测器能够上下前后左右移动；一标记组件，用于标记所述待测背光源合格与否；以及一运算控制模块，连接所述驱动接口、控制面板、光探测器、机械组件和标记组件，进行数据的采集和实时控制。在本专利技术一实施例中，所述机械组件包括:一第一轨道结构，所述第一轨道结构包括四个互相平行并固定于所述暗室腔两内侧的轨道，且其方向为竖直方向；一第二轨道结构，所述第二轨道结构包括两个互相平行并铰接于所述第一轨道结构上的轨道，且其方向为水平方向，所述第二轨道结构在所述第一轨道结构上能够上下滑动；所述第二轨道结构上包含限位器，所述限位器用于调节和固定所述第二轨道结构的竖直位置；一第三轨道结构，铰接于所述第二轨道结构上，能够沿第二轨道结构左右移动；以及一臂，所述光探测器固定于所述臂上，所述臂铰接于所述第三轨道结构上并且能够在所述第三轨道结构上前后移动。在本专利技术一实施例中，当所述待测背光源接入所述驱动接口，并经所述流水线框架传送进所述暗室腔，所述运算控制模块根据设置的工作模式，电信号经所述驱动接口传输给所述待测背光源，所述待测背光源被分为若干区域分时工作，所述光探测器采集不同区域的发光信息并移交所述运算控制模块分析处理，所述运算控制模块根据分析结果控制所述标记组件标记所述待测背光源合格与否。在本专利技术一实施例中，所述运算控制模块含有合格均匀背光源的参考数据，所述运算控制模块将所述光探测器采集的发光信息与所述合格均匀背光源的参考数据进行对t匕，以判定所述待测背光源合格与否。在本专利技术一实施例中，所述运算控制模块直接根据所述待测背光源与所述光探测器间距离、所述待测背光源尺寸大小、所述光探测器有效面积信息计算各个分块区域光强理论值，以判定所述待测背光源合格与否。在本专利技术一实施例中，所述均匀性自动检测系统能够与现有检测系统构成流水线，节省成本。在本专利技术一实施例中，所述待测背光源是面光源或点光源阵列。在本专利技术一实施例中，所述驱动接口为可编程接口，根据待测背光源种类和型号的不同，设置驱动接口电压、I/o 口条数信息以方便不同待测背光源的兼容。在本专利技术一实施例中，所述待测背光源尺寸为4英寸?100英寸，所述暗室腔尺寸设定大于所述待测背光源尺寸。在本专利技术一实施例中，通过编程控制将所述待测背光源分为若干区域分别进行测试其发光效果。本专利技术的显著优点在于待测背光源可以自由分区检测，并且光探测器可上下前后左右自由移动，采用可编程驱动接口，兼容性好，可设置不同参数对不同待测背光源进行测试，流水线作业方便快捷。【附图说明】图1是本专利技术提供的一种背光源发光均匀性自动检测系统整体结构图。图2是本专利技术中机械组件结构示意图。图3是本专利技术中待测背光源分块示意图。图4是本专利技术光探测器探头与待测背光源位置关系图。图示说明:11_暗室腔，111-腔门，112-窗口，12-驱动接口，13-控制面板，14-光探测器，15-机械组件，151-第一轨道结构，152-第二轨道结构，153-第三轨道结构，154-臂，16-标记组件，17-运算控制模块，18-流水线框架，19-待测背光源。【具体实施方式】为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下将通过具体实施例和相关附图，对本专利技术作进一步详细说明。在图中，腔体、轨道、流水线等机械装置为简化模型，不应该被认为严格放映其参数、几何尺寸。在此，参考图是本专利技术的理想化实施例的示意图，本专利技术所示的实施例不应该被认为仅限于图中所示的区域的特定形状，而是包括所得到的形状，比如制造引起的偏差。在本实施例中部分配件，图中的表示是示意性的，但这不应该被认为限制本专利技术的范围。如图1所示，本专利技术提供一种背光源发光均匀性自动检测系统，包括:一暗室腔11，所述暗室腔11前侧设有一个腔门111，暗室腔11两侧面底部对称设有两窗口 112，用于流水线框架18传送待测背光源19 ；—驱动接口 12，设置于所述流水线框架18上，用于连接所述待测背光源19 ；一控制面板13，设置于所述暗室腔11外侧，用于显示及设置工作模式和参数；一光探测器14，用于采集所述待测背光源19的发光数据；一机械组件15，用于固定及移动所述光探测器14，使所述光探测器14可上下前后左右自由移动；一标记组件16，用于标记所述待测背光源19合格与否；以及一运算控制模块17，连接所述驱动接口 12、控制面板13、光探测器14、机械组件15和标记组件16，进行数据的采集和实时控制。如图2所示,所述机械组件15包括:—第一轨道结构151，所述第一轨道结构151包括四个互相平行并固定于所述暗室腔11两内侧的轨道，且其方向为竖直方向；一第二轨道结构152，所述第二轨道结构152包括两个互相平行并铰接于所述第一轨道结构151上的轨道，且其方向为水平方向，所述第二轨道结构152在所述第一轨道结构151上能够上下滑动；所述第二轨道结构152上包含限位器(图中未示出)，所述限位器用于调节和固定所述第二轨道结构152的竖直位置；一第三轨道结构153，铰接于所述第二轨道结构152上，能够沿第二轨道结构152左右移动；以及一臂154，所述光探测器14固定于所述臂154上，所述臂154铰接于所述第三轨道结构153上并且能够在所述第三轨道结构153上前后移动。值得一提的是所述机械组件15还应该包含必要的驱动设备(如电机)、线路连接、固定锁紧配件、限位器等，在本实施例中简化了。当所述待测背光源接入所述驱动接口，并经所述流水线框架传送进所述暗室腔，所述运算控制模块根据用户所设置的工作模式，电信号经所述驱动接口传输给所述待测背光源，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种背光源发光均匀性自动检测系统，其特征在于，包括：一暗室腔，所述暗室腔前侧设有一个腔门，两侧面底部对称设有两窗口，用于流水线框架传送待测背光源；一驱动接口，设置于所述流水线框架上，用于连接所述待测背光源；一控制面板，设置于所述暗室腔外侧，用于显示及设置工作模式和参数；一光探测器，用于采集所述待测背光源的发光数据；一机械组件，用于固定及移动所述光探测器，使所述光探测器能够上下前后左右移动；一标记组件，用于标记所述待测背光源合格与否；以及一运算控制模块，连接所述驱动接口、控制面板、光探测器、机械组件和标记组件，进行数据的采集和实时控制。

【技术特征摘要】
1.一种背光源发光均匀性自动检测系统，其特征在于，包括: 一暗室腔，所述暗室腔前侧设有一个腔门，两侧面底部对称设有两窗口，用于流水线框架传送待测背光源； 一驱动接口，设置于所述流水线框架上，用于连接所述待测背光源； 一控制面板，设置于所述暗室腔外侧，用于显示及设置工作模式和参数； 一光探测器，用于采集所述待测背光源的发光数据； 一机械组件，用于固定及移动所述光探测器，使所述光探测器能够上下前后左右移动； 一标记组件，用于标记所述待测背光源合格与否；以及 一运算控制模块，连接所述驱动接口、控制面板、光探测器、机械组件和标记组件，进行数据的采集和实时控制。2.根据权利要求1所述的一种背光源发光均匀性自动检测系统，其特征在于:所述机械组件包括: 一第一轨道结构，所述第一轨道结构包括四个互相平行并固定于所述暗室腔两内侧的轨道，且其方向为竖直方向； 一第二轨道结构，所述第二轨道结构包括两个互相平行并铰接于所述第一轨道结构上的轨道，且其方向为水平方 向，所述第二轨道结构在所述第一轨道结构上能够上下滑动；所述第二轨道结构上包含限位器，所述限位器用于调节和固定所述第二轨道结构的竖直位置； 一第三轨道结构，铰接于所述第二轨道结构上，能够沿第二轨道结构左右移动；以及 一臂，所述光探测器固定于所述臂上，所述臂铰接于所述第三轨道结构上并且能够在所述第三轨道结构上前后移动。3.根据权利要求1所述的一种背光源发光均匀性自动检测系统，其特征在于:当所述待测背光源接入所述驱动接口，并经所述流水线框架传送进所述暗室腔，所述运算控制模块根据设置的工作模式，电信号经所述驱动接口...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶芸，郭太良，张永爱，林志贤，徐胜，林锑杭，
申请(专利权)人：福州大学，
类型：发明
国别省市：