【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及滤光片参数测试领域，具体涉及日盲紫外滤光片带外截止深度的测试方法。
技术介绍
日盲紫外滤光片是日盲紫外成像探测中的重要光学元件，其带外截止深度指在近紫外、可见及近红外谱段对入射辐照的抑制能力，准确测试带外截止深度对于实现与探测器的光谱优化匹配进而提升系统信噪比具有重要意义。现有测试仪器主要有分光光度计、DF透反仪、声光调制检测系统等对滤光片带外截止深度可测试范围最大仅有8-0D，而日盲紫外紫外滤光片的带外截止深度均在8-0D之上，部分谱段超过10-0D，目前已有的装置无法准确测试日盲紫外滤光片带外截止深度。
技术实现思路
本专利技术为解决带外深度截止滤光片的截止深度无法测试的问题，提供一种。，该方法由以下步骤实现:步骤一、选择衰减片系数为k的衰减片；步骤二、光源通 过滤光片后的光信号由探测器接收，所述探测器将接收的光信号转换为电信号If，并根据电信号If选择衰减片的片数N，步骤三、光源通过衰减片后的光信号由探测器接收并将光信号转换为电信号Ia ；步骤四、根据步骤一、步骤二和步骤三分别获得的衰减片系数k、衰减片的片数N、电信号If以及电信号I...
【技术保护点】
日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，其特征是，该方法由以下步骤实现：步骤一、选择衰减片系数为k的衰减片；步骤二、光源通过滤光片后的光信号由探测器接收，所述探测器将接收的光信号转换为电信号If，并根据电信号If选择衰减片的片数N，步骤三、光源通过衰减片后的光信号由探测器接收并将光信号转换为电信号Ia；步骤四、根据步骤一、步骤二和步骤三分别获得的衰减片系数k、衰减片的片数N、电信号If以及电信号Ia，计算滤光片带外截止深度：τf=IfIa·kN.
【技术特征摘要】
1.日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，其特征是，该方法由以下步骤实现: 步骤一、选择衰减片系数为k的衰减片； 步骤二、光源通过滤光片后的光信号由探测器接收，所述探测器将接收的光信号转换为电信号If，并根据电信号If选择衰减片的片数N， 步骤三、光源通过衰减片后的光信号由探测器接收并将光信号转换为电信号Ia ； 步骤四、根据步骤一、步骤二和步骤三分别获得的衰减片系数k、衰减片的片数N、电信号If以及电信号Ia，计算滤光片带外截止深度: If N Tf - — 'k 。 a2.根据权利要求1所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试方法，其特征在于，所述裳减系数为k的裳减片为标准反射式中性裳减片。3.根据权利要求1所述的日盲紫外滤光片带外截止...
【专利技术属性】
技术研发人员：闫丰，崔穆涵，章明朝，陈雪，周跃，隋永新，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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