【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量
，尤其涉及。
技术介绍
随着材料学科的快速发展，对光学材料相位延迟特性的测量提出了很高的要求。目前公知的相位延迟的测量方法主要有:谐振腔法、相位补偿法、光谱扫描测量法、偏振调制法、光学差拍法、莫尔偏折法，补偿法、双光路相位比较法和光强法等。但这些方法的测量精度低，难以满足需求。
技术实现思路
本专利技术提供了，测量的准确度可以独立与材料自身特性，且能够极大提高测量的精度。本专利技术提供了一种相位延迟测量装置，包括单色偏振光源、分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上，并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。优选的，所述单色偏振光源包括:超连续光谱光源，分光系统，光阑；其中，所述分光系统满足如下条件:经所述分光系统出射的光束的消光比大于55dB。优选的，该装置还包括:恒温箱，测量时所述待检测样品位于所述恒温箱内。优选的，该装置还包括:光陷阱，用于吸收经第一探测器...
【技术保护点】
一种相位延迟测量装置，其特征在于，包括单色偏振光源、分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上，并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。
【技术特征摘要】
1.一种相位延迟测量装置，其特征在于，包括单色偏振光源、分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照射到格兰泰勒棱镜上，并在经过格兰泰勒棱镜后照射到第二探测器上。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述单色偏振光源包括:超连续光谱光源，分光系统，光阑；其中，所述分光系统满足如下条件:经所述分光系统出射的光束的消光比大于55dB。3.如权利要求1所述的装置，还包括:恒温箱，测量时所述待检测样品位于所述恒温箱内。4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括:光陷阱，...
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