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本发明提供了一种相位延迟测量装置及方法，该装置包括：分束计、第一探测器、第二探测器、第一转台、格兰泰勒棱镜，所述第一转台用于承载待检测样品沿水平轴转动，且单色偏振光经分束计分光后，其中一束光束一照射到第一探测器，另一束光束二经过待检测样品照...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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