肖特基位障二极管及其制造方法技术

技术编号:9669841 阅读:122 留言:0更新日期:2014-02-14 12:23
本发明专利技术提出一种肖特基位障二极管(Schottky?barrier?diode,SBD)及其制造方法。肖特基位障二极管,形成于基板上,其包含:形成于基板上的氮化镓(gallium?nitride,GaN)层;形成于GaN层上的氮化铝镓(aluminum?gallium?nitride,AlGaN)层;形成于AlGaN层上的绝缘层;形成于绝缘层上的阳极导电层,且部分阳极导电层与GaN层或AlGaN层,形成肖特基接触,且另一部分阳极导电层与AlGaN层间,由绝缘层隔开;以及形成于AlGaN层上的阴极导电层,并与AlGaN层间,形成欧姆接触,且该阴极导电层与该阳极导电层不直接连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一肖特基位障二极管(Schottky barrier diode, SBD)及其制造方法,特别是指一种降低漏电流的SBD及其制造方法。
技术介绍
图1显示一种现有技术肖特基位障二极管(SBD) 100,形成于硅基板11上,包含氮化镓(GaN)层、氮化铝镓(AlGaN)层、阳极导电层14、与阴极导电层15。SBD为一半导体元件,相较于p-n接面二极管,其利用金属与半导体的肖特基接触(Schottky contact)所产生的肖特基位障(Schottky barrier),使得操作时顺向电流较大,且回复时间较短。然而由于使得SBD操作于逆向偏压时,会产生很大的漏电流,因此造成电能的损失。有鉴于此,本专利技术即针对上述现有技术的不足,提出一种,使得肖特基位障二极管操作时,降低漏电流,以减少肖特基位障二极管操作时的电能损耗。
技术实现思路
本专利技术目的在于克服现有技术的不足与缺陷,提出一种。为达上述目的,就其中一个观点言,本专利技术提供了一种肖特基位障二极管,形成于一基板上,包含:一氮化镓(gallium nitride, GaN)层,形成于该基板上;一氮化招镓(aluminum gallium nitride, AlGaN)层,形成于该GaN层上;一绝缘层,形成于该AlGaN层上;一阳极导电层,形成于该绝缘层上,且部分该阳极导电层与该GaN层或该AlGaN层,形成肖特基接触,且另一部分该阳极导电层与该AlGaN层间,由该绝缘层隔开;以及一阴极导电层,形成于该AlGaN层上,并与该AlGaN层间,形成一欧姆接触,且该阴极导电层与该阳极导电层不直接连接。就另一观点言,本专利技术也提供了一种肖特基位障二极管制造方法,包含:形成一氮化镓(gallium nitride, GaN)层于一基板上;形成一氮化招镓(aluminum galliumnitride, AlGaN)层于该GaN层上;形成一绝缘层于该AlGaN层上;形成一阳极导电层于该绝缘层上,且部分该阳极导电层与该GaN层或该AlGaN层,形成肖特基接触,且另一部分该阳极导电层与该AlGaN层间,由该绝缘层隔开;以及形成一阴极导电层于该AlGaN层上,并与该AlGaN层间,形成一欧姆接触,且该阴极导电层与该阳极导电层不直接连接。在其中一种较佳实施型态中,该绝缘层由俯视图视之为格状,形成于该阳极导电层与该GaN层或该AlGaN层之间。在另一种较佳实施型态中,该基板包含一绝缘基板或一导体基板。在又一种较佳实施型态中,该绝缘层厚度小于I微米(um)。在另一种较佳实施型态中,该绝缘层具有一高于3.9的介电质常数。下面通过具体实施例详加说明,当更容易了解本专利技术的目的、
技术实现思路
、特点及其所达成的功效。【附图说明】图1显示一种现有技术肖特基位障二极管(SBD) 100 ;图2显示本专利技术的第一个实施例;图3显示本专利技术的第二个实施例;图4A-4C显示本专利技术的第三个实施例;图5显示本专利技术的第四个实施例;图6A-6B显示现有技术SBD (图6A)与利用本专利技术的SBD (图6B)的阳极电流对阳 极电压的特性图;图7A-7B显示现有技术SBD (图7A)与利用本专利技术的SBD (图7B)的剖面二维的电 场模拟特性图;图8A-8B显示现有技术SBD (图8A)与利用本专利技术的SBD (图8B)在阳极边缘的垂 直方向的电场模拟特性图;图9A-9B显示现有技术SBD (图9A)与利用本专利技术的SBD (图9B)在通道横向方向 的电场模拟特性图。图中符号说明11, 21 基板12,22 GaN 层13,23 AlGaN 层14, 24, 34阳极导电层15, 25, 35阴极导电层26绝缘层100, 200, 300, 400 肖特基位障二极管Et, Ep阳极边缘电场【具体实施方式】本专利技术中的图式均属示意,主要意在表示制程步骤以及各层之间的上下次序关 系,至于形状、厚度与宽度则并未依照比例绘制。图2显示本专利技术的第一个实施例。如图2所示,SBD200例如形成于基板21上,而 基板21例如但不限于为娃基板、碳化娃基板、或监宝石基板等绝缘基板或导体基板。且于 基板21上,例如但不限于以外延技术形成氮化镓(GaN)层22。除GaN层22外,SBD200还 包含氮化铝镓(AlGaN)层23、绝缘层24、阳极导电层25、以及阴极导电层26。其中,AlGaN 层23,形成于GaN层22上;绝缘层24形成于AlGaN层23上;阳极导电层25形成于绝缘层 24上,且一部分A阳极导电层25与AlGaN层24,形成肖特基接触,且另一部分B阳极导电层 25与AlGaN层23间,由绝缘层24隔开;阴极导电层26,形成于AlGaN层23上,并与AlGaN 层23间,形成欧姆接触,且阴极导电层26与阳极导电层25不直接连接。本实施例与现有技术不同之处,主要在于利用绝缘层24,形成多电场平板,并调整 阳极金属层25与AlGaN层23之间的肖特基位障,以提高SBD不导通时的崩溃电压。图3显示本专利技术的第二个实施例。本实施例显示应用本专利技术的SBD300的剖视示意图。与第一个实施例不同的是,本实施例的部分阳极导电层35与GaN层22而并非与AlGaN层23,形成肖特基接触。请参阅图4A-4C,显示本专利技术的第三个实施例,SBD200的制造流程剖视示意图。如图4A所示,于基板21上,形成GaN层22于基板21上。其中基板21可以为不导电的绝缘基板,例如但不限于为蓝宝石(sapphire)基板,亦可以为导体基板,例如但不限于为碳化硅(SiC)基板。接着形成AlGaN层23于GaN层22上。然后如图4B所示,形成绝缘层24于AlGaN层23上其中,绝缘层24例如但不限于以高介电材料制作,其介电常数例如高于二氧化硅的3.9。接着如图4C所示,于绝缘层24上,形成阳极导电层25 ;并于AlGaN层23上,形成阴极导电层26。其中,部分阳极导电层25与AlGaN层23,形成肖特基接触,且另一部分阳极导电层25与AlGaN层23间,由绝缘层24隔开;而阴极导电层26与AlGaN23层间,形成欧姆接触(Ohmic contact),且阴极导电层26与阳极导电层25不直接连接。图5显示本专利技术的第四个实施例。本实施例显示应用本专利技术的SBD400的剖视示意图。与第一个实施例不同的是,本实施例的绝缘层34由俯视图(未示出)视之为格状,形成于阳极导电层25与GaN层22或AlGaN层23之间。请参阅图6A-6B,显示现有技术SBD与利用本专利技术的SBD的阳极电流对阳极电压的特性图,如图6A-6B所示,相较于现有技术SBD,利用本专利技术的SBD在相同阳极电压下,阳极电流较大,表示利用本专利技术的SBD,其导通特性较佳。请参阅图7A-7B,显示现有技术SBD与利用本专利技术的SBD的剖面二维的电场模拟特性图,如图6A-6B所示,相较于现有技术的SBD,利用本专利技术的SBD在相同操作电压下,阳极边缘的电场被分散为两个峰值,且其峰值较低,表示利用本专利技术的SBD,其电场得到舒缓,因而可增加崩溃电压。请参阅图8A-8B,显示现有技术SBD与利用本专利技术的SBD在阳极边缘的垂直方向的电场模拟特性图,如图8A-8B所示,相较于现有技术的SBD,利用本专利技术的SBD在相同操作电压下本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种肖特基位障二极管,形成于一基板上,其特征在于,包含:一氮化镓层,形成于该基板上;一氮化铝镓层,形成于该氮化镓层上;一绝缘层,形成于该氮化铝镓层上;一阳极导电层,形成于该绝缘层上,且部分该阳极导电层与该氮化镓层或该氮化铝镓层,形成肖特基接触,且另一部分该阳极导电层与该氮化铝镓层间,由该绝缘层隔开;以及一阴极导电层,形成于该氮化铝镓层上,并与该氮化铝镓层或该氮化铝镓层间,形成一欧姆接触,且该阴极导电层与该阳极导电层不直接连接。

【技术特征摘要】
1.一种肖特基位障二极管,形成于一基板上,其特征在于,包含:一氮化镓层,形成于该基板上;一氮化铝镓层,形成于该氮化镓层上;一绝缘层,形成于该氮化铝镓层上;一阳极导电层,形成于该绝缘层上,且部分该阳极导电层与该氮化镓层或该氮化铝镓 层,形成肖特基接触,且另一部分该阳极导电层与该氮化铝镓层间,由该绝缘层隔开;以及 一阴极导电层,形成于该氮化铝镓层上,并与该氮化铝镓层或该氮化铝镓层间,形成一 欧姆接触,且该阴极导电层与该阳极导电层不直接连接。2.如权利要求1所述的肖特基位障二极管,其中,该绝缘层由俯视图视之为格状,形成 于该阳极导电层与该氮化镓层或该氮化铝镓层之间。3.如权利要求1所述的肖特基位障二极管,其中,该基板包含一绝缘基板或一导体基板。4.如权利要求1所述的肖特基位障二极管,其中,该绝缘层厚度小于I微米。5.如权利要求1所述的肖特基位障二极管,其中,该绝缘层具有一高于3.9的介电质常数。6.一种肖...

【专利技术属性】
技术研发人员:邱建维黄宗义黄智方杨宗谕
申请(专利权)人:立锜科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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